一种用于矩阵排列产品的缺料检测装置的制作方法

专利检索2022-05-10  4



1.本实用新型涉及一种缺料检测装置,具体涉及一种用于矩阵排列产品的缺料检测装置,属于矩阵排列产品包装技术领域。


背景技术:

2.在很多造纸、制药、食品加工制造场合,产品的输送和装箱是有输送带将矩阵型有序排列的产品连续不断的向前输送,最终在装箱机前,分离成m排 * n列单粒产品组成的矩阵方块,然后由推杆推入纸箱完成装箱,装箱前一刻的m*n矩阵排布的产品是否缺料一直是难以准确测量的难点,现有技术中,传统方案是用一排光电(n个)对逐列的每个产品进行检查,设定延时参数t秒,当光电未捕捉到产品且延时t秒后,即确定为缺料;但实际应用中的速度变化对延时参数影响极大,设置太小会误报,设置太大会漏检。而且在高速应用的场合误检会更高。


技术实现要素:

3.为解决上述问题,本实用新型提出了一种用于矩阵排列产品的缺料检测装置,能够高精度检测矩阵排列产品是否缺料,检测过程与产品速度和延时长度无关。
4.本实用新型的用于矩阵排列产品的缺料检测装置,采用两组检测光电,一组用于到位判断,另一组作为缺料检测;即采用第一检测光电(缺料检测)与第二检测光电(到位判断)进行矩阵排列产品缺料检测,两者之间的安装间距优选为产品长度的一半;m排 * n列的矩阵排列产品被推杆推入箱中时,首先会遮挡第一检测光电,然后遮挡第二检测光电;当第二检测光电被产品遮挡时,说明此时的第一检测光电正对产品一半位置;检测时,产品在遮挡第一检测光电时,不对缺料进行判断,当产品继续向前行进,第二检测光电被遮挡时,缺料检测进入判断时机,此时,第一检测光电必定已全部被遮挡,如果第一检测光电没有被全部遮挡,则说明m*n矩阵排列的产品至少出现一粒缺料;第一检测光电与第二检测光电分别通过次排检测光电支架和首排检测光电支架进行支撑,即第一检测光电安装于次排检测光电支架上;第二检测光电安装于首排检测光电支架上;为了保证检测精度,所述第一检测光电数量与矩阵产品其列数一致,即一检测光电正对一产品;所述次排检测光电支架和首排检测光电支架之间安装间距为产品长度1/3~2/3;所述第一检测光电和第二检测光电均电连接到控制器;所述控制器电连接有报警器,控制器采用单片机最小系统,每一检测光电接入到单片机一i/o口,当第二检测光电检测到位信号后,其给单片机信号,单片机触发第一检测光电进行缺料检测,即某一第一检测光电没有检测到信号时,说明m*n矩阵排列的产品至少出现一粒缺料。
5.进一步地,所述第一检测光电和第二检测光电分别通过次排检测光电支架和首排检测光电支架设置于矩阵产品上方、下方或侧面;每一所述第一检测光电其检测角分别正对矩阵产品同一列的一产品。
6.进一步地,所述第一检测光电和第二检测光电为镜面反射光电开关或对射式激光
光电开关。
7.进一步地,所述次排检测光电支架和首排检测光电支架固定于输送带其机架上或推杆入口侧。
8.本实用新型与现有技术相比较,本实用新型的用于矩阵排列产品的缺料检测装置,此检测方法的准确性不受产品速度、延时参数和外部变量影响,只与光电开关的灵敏度有少量关系,使用镜面反射或对射式的激光光电,可以增强光电开关的灵敏性,满足实际的需求。
附图说明
9.图1为本实用新型的实施例1整体结构示意图。
10.图2为本实用新型的两排三列的矩阵产品缺料一包时的示意图。
11.图3为本实用新型的两排三列的矩阵产品无缺料的示意图。
具体实施方式
12.实施例1:
13.如图1至图3所示的用于矩阵排列产品的缺料检测装置,采用两组检测光电,一组用于到位判断,另一组作为缺料检测;即采用第一检测光电(缺料检测)与第二检测光电(到位判断)进行矩阵排列产品a缺料检测,两者之间的安装间距d优选为产品长度的一半;m排 * n列的矩阵排列产品a被推杆推入箱中时,首先会遮挡第一检测光电,然后遮挡第二检测光电;当第二检测光电被产品遮挡时,说明此时的第一检测光电正对产品一半位置;检测时,产品在遮挡第一检测光电时,不对缺料进行判断,当产品继续向前行进,第二检测光电被遮挡时,缺料检测进入判断时机,此时,第一检测光电必定已全部被遮挡,如果第一检测光电没有被全部遮挡,则说明m*n矩阵排列的产品至少出现一粒缺料;第一检测光电1与第二检测光电2分别通过次排检测光电支架3和首排检测光电支架4进行支撑,即第一检测光电1安装于次排检测光电支架3上;第二检测光电2安装于首排检测光电支架4上;为了保证检测精度,所述第一检测光电1数量与矩阵产品其列数一致,即一检测光电正对一产品;所述次排检测光电支架3和首排检测光电支架4之间安装间距为产品长度d1/3~2/3;所述第一检测光电1和第二检测光电2均电连接到控制器5;所述控制器5电连接有报警器6,控制器5采用单片机最小系统,每一检测光电接入到单片机一i/o口,当第二检测光电检测到位信号后,其给单片机信号,单片机触发第一检测光电进行缺料检测,即某一第一检测光电没有检测到信号时,说明m*n矩阵排列的产品至少出现一粒缺料。
14.其中,所述第一检测光电1和第二检测光电2分别通过次排检测光电支架3和首排检测光电支架4设置于矩阵产品上方、下方或侧面;每一所述第一检测光电1其检测角分别正对矩阵产品同一列的一产品,所述第一检测光电1和第二检测光电2为镜面反射光电开关或对射式激光光电开关;所述次排检测光电支架3和首排检测光电支架4固定于输送带其机架上或推杆入口侧,其可用于输送带输送矩阵排列产品a缺料检测,或包装前的矩阵排列产品缺料检测。
15.上述实施例,仅是本实用新型的较佳实施方式,故凡依本实用新型专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰,均包括于本实用新型专利申请范围内。


技术特征:
1.一种用于矩阵排列产品的缺料检测装置,其特征在于:包括次排检测光电支架和首排检测光电支架,所述次排检测光电支架上安装有第一检测光电;所述第一检测光电数量与矩阵产品其列数一致;所述首排检测光电支架上至少安装有一个第二检测光电;所述次排检测光电支架和首排检测光电支架之间安装间距为产品长度1/3~2/3;所述第一检测光电和第二检测光电均电连接到控制器;所述控制器电连接有报警器。2.根据权利要求1所述的用于矩阵排列产品的缺料检测装置,其特征在于:所述第一检测光电和第二检测光电分别通过次排检测光电支架和首排检测光电支架设置于矩阵产品上方、下方或侧面;每一所述第一检测光电其检测角分别正对矩阵产品同一列的一产品。3.根据权利要求1所述的用于矩阵排列产品的缺料检测装置,其特征在于:所述第一检测光电和第二检测光电为镜面反射光电开关或对射式激光光电开关。4.根据权利要求1所述的用于矩阵排列产品的缺料检测装置,其特征在于:所述次排检测光电支架和首排检测光电支架固定于输送带其机架上或推杆入口侧。

技术总结
本实用新型公开了一种用于矩阵排列产品的缺料检测装置,包括次排检测光电支架和首排检测光电支架,所述次排检测光电支架上安装有第一检测光电;所述第一检测光电数量与矩阵产品其列数一致;所述首排检测光电支架上至少安装有一个第二检测光电;所述次排检测光电支架和首排检测光电支架之间安装间距为产品长度1/3~2/3;所述第一检测光电和第二检测光电均电连接到控制器;所述控制器电连接有报警器。本实用新型的用于矩阵排列产品的缺料检测装置,此检测方法的准确性不受产品速度、延时参数和外部变量影响,只与光电开关的灵敏度有少量关系,使用镜面反射或对射式的激光光电,可以增强光电开关的灵敏性,满足实际的需求。满足实际的需求。满足实际的需求。


技术研发人员:刘杰 范建军 崔炳炽
受保护的技术使用者:维达纸业(山东)有限公司
技术研发日:2021.04.29
技术公布日:2021/12/14
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