一种电路测试用的弹性接触探针的制作方法

1.本申请涉及电路测试的技术领域，尤其是一种电路测试用的弹性接触探针。


背景技术：

2.集成电路，或称微电路，在电子学中是一种把电路小型化的方式，并时常制造在半导体晶体圆表面上，由于电路的布局往往很小，在对其进行测试会相对难度提升，而对其进行电路检测现阶段主要采用探针的方式进行测试，但是如果操作失误甚至会使测试探针遭遇损坏，就会带来更多不必要的损伤。


技术实现要素：

3.为了解决弹性接触探针在检测过程中易损坏的问题，本申请提供了一种电路测试用的弹性接触探针。
4.本申请提供的一种电路测试用的弹性接触探针采用如下的技术方案：
5.一种电路测试用的弹性接触探针，其特征在于，包括探测器，所述探测器固定连接一级延伸臂，所述一级延伸臂底部与二级延伸臂的顶端固定连接，所述二级延伸臂底座的与连接底座相匹配连接，所述连接底座的底部设置有转接块，所述转接块底端部与信息传输探头相连接，所述信息传输探头用于通过传输所述探测器发出的信号，所述二级延伸臂外侧覆盖包裹层，所述探测器的顶端设置有触摸块，所述触摸块不与所述探测器接触，所述触摸块顶端的一侧设置有连接块，所述连接块与封盖固定连接，所述触摸块的底端端面的四周分别与保护外壳固定连接，所述保护外壳的底端固定连接固定底座，且所述固定底座内壁与所述连接底座相连接，所述固定底座的底端正中间处的两侧对称设置有缓冲垫，且所述缓冲垫的一侧固定安装有卡口。
6.优选的，所述包裹层外表面与所述连接底座外表面均设置有绝缘层。
7.优选的，所述封盖为圆形，且封盖靠近所述触摸块的一面设置有密封槽。
8.优选的，所述保护外壳为管道状，所述保护外壳的内部设置有若干个伸缩弹簧。
9.优选的，所述探测器为球体结构，且工作做过程中与外界接触部分仅为一个点。
10.优选的，所述固定底座内部设置有活性炭层。
11.优选的，所述触摸块为软材质，且在不受到挤压后可复原。
12.综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
13.1.本申请通过设置触摸块，并在触摸块底端固定连接保护外壳，而保护外壳内部设置有若干个伸缩弹簧，在触摸块接触所要测量的物体时候，进而通过外力使触摸块向内挤压，在伸缩弹簧压缩到最短时，探测器顶端凸出，进而探测器顶部触摸所要测量位置，实现快速测量的同时对进行保护探针。
14.2.本申请通过在保护外壳的底部设置固定底座，并在固定底座内部设置活性炭层，并且固定底座分别与包裹层和连接底座相连接，通过活性炭层对腔内进行湿气的吸收，同时搭配安装在触摸块顶端的封盖对探测器进行干燥，实现对探针的深度防护效果。
附图说明
15.图1为本申请实施例的结构示意图；
16.图2为本申请实施例的左视图；
17.图3为本申请实施例的探测组织结构示意图。
18.附图标记说明：1.探测器、2.一级延伸臂、3.二级延伸臂、4.包裹层、5.活性炭层、14.连接底座、6.触摸块、7.连接块、8.封盖、9.伸缩弹簧、10.保护外壳、11.固定底座、12.缓冲垫、13. 卡扣、15.转接块、16.信号传输探头。
具体实施方式
19.以下结合附图1
‑
3对本申请作进一步详细说明。
20.本申请实施例公开一种电路测试用的弹性接触探针。
21.参照图1
‑
3，包括探测器1，所述探测器1固定连接一级延伸臂2，所述一级延伸臂2底部与二级延伸臂3的顶端固定连接，所述二级延伸臂3底座的与连接底座14相匹配连接，所述连接底座14的底部设置有转接块15，所述转接块15底端部与信息传输探头16相连接，所述信息传输探头16用于通过传输所述探测器1发出的信号，所述二级延伸臂3外侧覆盖包裹层4，所述探测器1的顶端设置有触摸块 6，所述触摸块6不与所述探测器1接触，所述触摸块6顶端的一侧设置有连接块7，所述连接块7与封盖8固定连接，所述触摸块6的底端端面的四周分别与保护外壳10固定连接，所述保护外壳10的底端固定连接固定底座11，且所述固定底座11内壁与所述连接底座14 相连接，所述固定底座11的底端正中间处的两侧对称设置有缓冲垫 12，且所述缓冲垫12的一侧固定安装有卡口13，触摸块6的底部设置有与保护外壳10对应的凹槽，在向内挤压的过程中保护外壳通过凹槽进入触摸块6中，而伸缩弹簧9则顶在触摸块6的底面，从而实现快速伸缩的效果。
22.具体为，所述包裹层4外表面与所述连接底座14外表面均设置有绝缘层，有效的防止电路出现短路而引起的测试探针损坏。
23.具体为，所述封盖8为圆形，且封盖靠近所述触摸块6的一面设置有密封槽，形成密封环境，有效保证了探测器1所处的环境干燥。
24.具体为，所述保护外壳10为管道状，所述保护外壳10的内部设置有若干个伸缩弹簧9，多个伸缩弹簧9同时工作，对压缩过程进行了分担，可以使得测试探针的使用寿命有效的延长。
25.具体为，所述探测器1为球体结构，且工作做过程中与外界接触部分仅为一个点，采用一点接触，可以有效的避免破坏待测元件，更大程度的保护电路。
26.具体为，所述固定底座4内部设置有活性炭层5。
27.具体为，所述触摸块6为软材质，且在不受到挤压后可复原，这样的设置有效的降低了在测量过程中对电路的表面的破坏。
28.本申请实施例一种电路测试用的弹性接触探针的实施原理为：使用前先用外接显示器穿过固定底座11的底端与信号传输探头16相连接，并且通过卡扣13进行卡接，测量的过程中，只需将触摸块6的顶端平面与所要测量的部件完全贴合接触，用力向前挤压，当探测器1的顶点接触到所要测量的平面时，即可将测量的信号通过一级延伸臂2 和信号传输探头16传输至外界显示器上，即完成了电路测试。
29.以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。


技术特征：
1.一种电路测试用的弹性接触探针，其特征在于，包括探测器(1)，所述探测器(1)固定连接一级延伸臂(2)，所述一级延伸臂(2)底部与二级延伸臂(3)的顶端固定连接，所述二级延伸臂(3)底座的与连接底座(14)相匹配连接，所述连接底座(14)的底部设置有转接块(15)，所述转接块(15)底端部与信息传输探头(16)相连接，所述信息传输探头(16)用于通过传输所述探测器(1)发出的信号，所述二级延伸臂(3)外侧覆盖包裹层(4)，所述探测器(1)的顶端设置有触摸块(6)，所述触摸块(6)不与所述探测器(1)接触，所述触摸块(6)顶端的一侧设置有连接块(7)，所述连接块(7)与封盖(8)固定连接，所述触摸块(6)的底端端面的四周分别与保护外壳(10)固定连接，所述保护外壳(10)的底端固定连接固定底座(11)，且所述固定底座(11)内壁与所述连接底座(14)相连接，所述固定底座(11)的底端正中间处的两侧对称设置有缓冲垫(12)，且所述缓冲垫(12)的一侧固定安装有卡口(13)。2.根据权利要求1所述一种电路测试用的弹性接触探针，其特征在于：所述包裹层(4)外表面与所述连接底座(14)外表面均设置有绝缘层。3.根据权利要求1所述一种电路测试用的弹性接触探针，其特征在于：所述封盖(8)为圆形，且封盖靠近所述触摸块(6)的一面设置有密封槽。4.根据权利要求1所述一种电路测试用的弹性接触探针，其特征在于：所述保护外壳(10)为管道状，所述保护外壳(10)的内部设置有若干个伸缩弹簧(9)。5.根据权利要求1所述一种电路测试用的弹性接触探针，其特征在于：所述探测器(1)为球体结构，且工作做过程中与外界接触部分仅为一个点。6.根据权利要求1所述一种电路测试用的弹性接触探针，其特征在于：所述固定底座(11)内部设置有活性炭层(5)。7.根据权利要求1所述一种电路测试用的弹性接触探针，其特征在于：所述触摸块(6)为软材质，且在不受到挤压后可复原。

技术总结
本申请涉及一种电路测试用的弹性接触探针，其特征在于，包括探测器，所述探测器固定连接一级延伸臂，所述一级延伸臂底部与二级延伸臂的顶端固定连接，所述二级延伸臂底座的与连接底座相匹配连接，所述连接底座的底部设置有转接块，所述转接块底端部与信息传输探头相连接，所述信息传输探头用于通过传输所述探测器发出的信号，所述二级延伸臂外侧覆盖包裹层，所述探测器的顶端设置有触摸块，所述触摸块不与所述探测器接触，所述触摸块顶端的一侧设置有连接块，所述连接块与封盖固定连接所述触摸块的底端的四周分别与保护外壳固定连接。本申请通过触摸块与保护外壳和伸缩弹簧的配合，以及探测器安插的位置，从而实现对弹性接触探针的保护作用。的保护作用。的保护作用。


技术研发人员：马天鑫
受保护的技术使用者：天津市聚源天诚机电工程股份有限公司
技术研发日：2021.01.21
技术公布日：2021/11/21