一种电学测量用探针夹具的制作方法

1.本技术涉及芯片测试技术领域，尤其是涉及一种电学测量用探针夹具。


背景技术：

2.集成电路是一种微型电子器件或部件，芯片是集成电路中的一种。集成电路是采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。
3.在实际的集成电路设计、生产过程中不可避免的会产生各种缺陷，在产品交付客户之前就需要进行电性功能测试，在集成电路检测设备上就需要探针夹具来充当芯片与测试机信号传递的“桥梁”。
4.针对上述中的相关技术，由于市场对电子系统运行的要求日益加深，制得的集成电路厚度薄，体积小，当探针夹具加持集成电路进行测量时，存在芯片容易破损的问题。


技术实现要素：

5.为了保护芯片，本技术提供一种电学测量用探针夹具。
6.本技术提供的一种电学测量用探针夹具采用如下的技术方案：
7.一种电学测量用探针夹具，包括电路板和设置在电路板上的探针，所述电路板上固定设置有限位杆，所述限位杆顶部固定设置有上挡块，所述限位杆底部固定设置有下挡块，所述限位杆上设置有位于上挡块和下挡块之间的按压块，所述限位杆上套设有位于上挡块和按压块之间的弹簧，所述探针固定设置在按压块靠近电路板一侧，且所述探针可伸缩设置。
8.通过采用上述技术方案，测量芯片前，以限位杆的下挡块为支点，朝向靠近电路板的一侧按压远离探针一端的按压块，按压块将限位杆上的弹簧压缩至上挡块一端，使得靠近探针一端的按压块翘起。此时，将芯片放置在电路板上，停止按压远离探针一端的按压块，靠近探针一端的按压块朝向靠近电路板的一侧运动，使得按压块上的探针与放置在电路板上的芯片表面抵接，因探针可伸缩设置，所以探针与芯片抵接时，对芯片表面有缓冲作用，减少探针与芯片抵接时，探针对芯片的冲击力，从而减少探针对芯片表面的刮损，有利于保护芯片。另外，因探针可伸缩设置，可对不同厚度芯片进行抵接，提高探针抵接不同厚度芯片的适用性。最后，只需将电路板通电，即可对芯片实施测量。
9.优选的，所述探针包括固定壳和滑移针头，所述固定壳内壁设置有供滑移针头在固定壳内滑移的拉簧。
10.通过采用上述技术方案，通过拉伸或压缩拉簧，使得滑移针头在固定壳内滑动，从而使得滑移针头在固定壳内伸缩，操作方式简单。
11.优选的，所述固定壳内壁靠近按压块的一端固定设置固定块，所述滑移针头外壁固定设置有滑块，所述拉簧的两端分别与固定块和滑块固定设置。
12.通过采用上述技术方案，通过拉伸或压缩滑块和固定块之间的拉簧，使得与滑块固定的滑移针头在固定壳内伸缩，提高了滑移针头在固定壳内滑动的稳定性，有利于滑移针头将芯片抵接在电路板上。
13.优选的，所述固定壳内壁远离按压块的一端固定设置有与滑块抵接的限位块。
14.通过采用上述技术方案，限位块对滑移针头在固定壳内的滑移位移进行限位，减少滑移针头滑出固定壳，提高了滑移针头在固定壳内滑动的安全性，有利于滑移针头将芯片抵接在电路板上。
15.优选的，所述固定壳的内壁开设有供滑块滑移的滑槽。
16.通过采用上述技术方案，滑块在滑槽内滑动，提高了滑移针头在固定壳内滑动的稳定性，有利于滑移针头将芯片抵接在电路板上。
17.优选的，所述滑移针头远离固定壳的一端朝向滑移针头的中轴线弯曲设置。
18.通过采用上述技术方案，便于滑移针头在固定壳内滑动伸缩，且减少滑移针头与芯片抵接的冲击力，有利于保护芯片不受损坏。
19.优选的，所述按压块上开设有供限位杆插设的腰形孔。
20.通过采用上述技术方案，限位杆可在按压块的腰形孔内滑移，可调节按压块和按压块上的探针在电路板上的长度，提高探针对不同尺寸芯片抵接的适用性。
21.优选的，所述限位杆上套设有与弹簧两端抵接的挡片。
22.通过采用上述技术方案，在限位杆的下挡块上朝向靠近电路板的一侧按压按压块时，按压块将限位杆上的弹簧压缩至挡块一端，此时，挡片将弹簧两端堵住，减少按压块挤压弹簧的力过大导致弹簧脱离限位杆的情况发生。
23.优选的，所述按压块靠近探针一侧固定设置有凸块。
24.通过采用上述技术方案，当芯片的厚度不同时，便于朝向电路板一侧按压按压板，从而将探针与芯片抵接，提高探针抵接不同厚度芯片的适用性。
25.综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：
26.1.本技术中探针可伸缩设置，减少探针与芯片抵接时的冲击力，从而减少探针对芯片表面的刮损，有利于保护芯片；
27.2.本技术中弹簧设置在固定块和滑块之间，通过拉动滑移针头上的滑块，弹簧在滑块和固定块内伸缩，使得滑移针头在固定壳内滑动伸缩，提高了滑移针头在固定壳内滑动的稳定性，有利于滑移针头将芯片抵接在电路板上；
28.3.本技术中限位杆可在按压块上开设的腰形孔内滑移，调节探针与电路板的位置，提高探针对不同尺寸芯片抵接的适用性。
附图说明
29.图1是本技术中电学测量用探针夹具的整体结构示意图；
30.图2是图1中a部放大图。
31.附图标记：1、电路板；2、探针；201、固定壳；202、滑移针头；3、限位杆；4、上挡块；5、下挡块；6、按压块；7、弹簧；8、拉簧；9、固定块；10、滑块；11、限位块；12、滑槽；13、腰形孔；14、挡片；15、凸块；16、连接板；17、金手指。
具体实施方式
32.以下结合附图1
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2对本技术作进一步详细说明。
33.本技术实施例公开一种电学测量用探针夹具。参照图1，电学测量用探针夹具包括呈长方形的电路板1，电路板1上一体式固定设置有连接板16，连接板16上固定设置有金手指17。将接通线路的芯片放置在电路板1上，在将连接板16上的金手指17通入电源，便可对芯片进行测量。
34.参照图1，电路板1上固定设置有多根限位杆3，本技术实施例中限位杆3设置为四根，每根限位杆3分别固定设置在电路板1的边角处。限位板的顶部固定设置有上挡块4，限位杆3的底部固定设置有下挡块5。
35.位于上挡块4和下挡块5之间的限位杆3上套设有按压块6，按压块6上开设有腰形孔13，限位杆3贯穿腰形孔13并与腰形孔13内壁卡接，且按压块6与下挡块5抵接设置。位于上挡块4和按压块6之间的限位杆3上套设有弹簧7，限位杆3位于弹簧7的两端均套设有挡片14，弹簧7将挡片14与上挡块4、按压块6抵紧。
36.朝向靠近电路板1一侧按压按压块6，按压块6和挡片14将弹簧7抵紧并压缩至上挡块4处，未按压的按压块6的一端在电路板1上翘起；停止按压按压块6，弹簧7伸缩，未按压的按压块6的一端朝向靠近电路板1一侧运动。
37.参照图1和图2，按压块6顶部固定设置有凸块15，凸块15位于按压块6靠近电路板1一端。按压块6位于凸块15的底部固定设置有探针2，探针2包括固定设置在按压块6上的固定壳201和滑动设置在固定壳201内的滑移针头202，滑移针头202远离固定壳201的一端呈圆锥状。
38.参照图2，固定壳201内壁固定设置有固定块9，固定块9设置在固定壳201靠近按压块6一侧，且沿固定壳201圆周设置。滑移针头202的外侧壁固定设置有四个滑块10，四个滑块10间隔设置在滑移针头202靠近固定壳201一侧，且沿滑移针头202的圆周设置。滑移针头202上套设有位于固定块9和滑移块之间的拉簧8，拉簧8的两端分别与固定块9和滑块10抵接。
39.在固定壳201内上下移动滑移针头202，滑移针头202上的滑块10随滑移针头202在固定壳201内移动，从而对滑块10和固定块9之间的拉簧8拉伸，拉簧8产生的弹性势能使得滑移针头202在固定壳201内滑动，减少探针2与芯片抵接时的冲击力，从而减少探针2对芯片表面的刮损，有利于保护芯片。
40.参照图2，固定壳201的内壁固定设置有限位块11，限位块11位于固定壳201远离按压块6的一端，减少滑块10滑出固定壳201。固定壳201的内壁且延其高度方向开设有与滑块10相适配的滑槽12，滑块10在滑槽12内壁滑动。滑移针头202在固定壳201内滑动时，滑块10在滑槽12内壁滑动，滑槽12内壁对滑块10进行限位，提高了滑移针头202在固定壳201内滑动的稳定性，有利于滑移针头202将芯片抵接在电路板1上。
41.本技术实施例一种电学测量用探针夹具的实施原理为：测量芯片前，将限位杆3在按压块6的腰形孔13内滑动，依据芯片的尺寸，调节多块按压块6上的探针2之间的距离。在限位杆3的下挡块5上朝向靠近电路板1的一侧按压按压块6，按压将限位杆3上的弹簧7压缩至上挡块4一端，挡片14将弹簧7的两端堵住，减少弹簧7脱离限位杆3。同时，固定设置有探针2一端的按压块6朝向远离电路板1的一侧翘起。
42.此时，将芯片放置在电路板1表面，停止按压按压板，按压板和按压板上的探针2因重力掉落在电路板1上。此时，朝向电路板1一侧按压凸块15，滑移针头202外壁固定的滑块10将拉簧8挤压至固定块9一端，滑移针头202滑入固定壳201中；停止按压凸块15，拉簧8复位，滑移针头202滑出固定壳201，即可依据芯片的厚度，调节滑移针头202与电路板1的距离，提高探针2抵接不同厚度芯片的适用性。当探针2与芯片抵接时，滑移针头202对芯片表面有缓冲作用，减少滑移针头202对芯片表面的刮损，有利于保护芯片。同时，在电路板1发生晃动时，拉簧8对滑移针头202的弹力，提高滑移针头202将芯片抵紧在电路板1上的稳定性。只需将电路板1通电，即可对芯片实施测量。
43.以上均为本技术的较佳实施例，并非依此限制本技术的保护范围，故：凡依本技术的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本技术的保护范围之内。