一种电学测量用探针夹具的制作方法

1.本申请涉及芯片测试技术领域，尤其是涉及一种电学测量用探针夹具。


背景技术：

2.芯片是集成电路的一种，在电子学中是一种将半导体设备的电路小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上。
3.芯片制作完成后，需要把芯片放在芯片测试夹具上进行测试，芯片测试夹具也可以称为精密测试插座。目前的芯片测试夹具通常被固定在印制电路板的正面上，在芯片需要测试时，把芯片放置在芯片测试夹具上即可对芯片进行测试。
4.针对上述中的相关技术，工程技术人员或生产人员在芯片测试夹具上测试芯片时，有时需要移动印制电路板的位置，存在芯片掉落至夹具外侧的情况发生。


技术实现要素：

5.为了提高芯片在夹具上测量时的稳定性，本申请提供一种电学测量用探针夹具。
6.本申请提供的一种电学测量用探针夹具采用如下的技术方案：
7.一种电学测量用探针夹具，包括电路板和设置在电路板上的探针，所述电路板上固定设置有限位杆，所述限位杆顶部固定设置有上挡块，所述限位杆底部固定设置有下挡块，所述限位杆上设置有位于上挡块与下挡块之间的按压块，所述探针固定设置在按压块靠近电路板一侧，所述限位杆上套设有位于上挡块和按压块之间的弹簧。
8.通过采用上述技术方案，测量芯片前，在限位杆的下挡块上朝向靠近电路板的一侧按压按压块，按压块将限位杆上的弹簧压缩至上挡块一端，使得固定设置有探针一端的按压块朝向远离电路板的一侧翘起。此时，将芯片放置在电路板上，停止按压按压块，固定设置有探针一端的按压块因重力朝向靠近电路板一侧运动，使得探针与电路板上放置的芯片抵接，从而将芯片抵接在电路板上。只需将电路板通电，即可对芯片实施测量，探针与芯片抵接，提高芯片在电路板上测量时的稳定性。
9.优选的，所述按压块上开设有供限位杆插设的腰形孔。
10.通过采用上述技术方案，限位杆可在按压块的腰形孔内滑移，可调节按压块和按压块上的探针在电路板上的长度，提高探针对不同尺寸芯片抵接的适用性。
11.优选的，所述限位杆上套设有与弹簧两端抵接的挡片。
12.通过采用上述技术方案，在限位杆的下挡块上朝向靠近电路板的一侧按压按压块时，按压块将限位杆上的弹簧压缩至挡块一端，此时，挡片将弹簧两端堵住，减少按压块挤压弹簧的力过大导致弹簧脱离限位杆的情况发生。
13.优选的，所述探针朝向远离按压块的一侧弯曲设置。
14.通过采用上述技术方案，弯曲设置的探针减少对芯片表面抵接时，产生的冲击力，有利于延长探针的使用年限，且减少对芯片表面的刮损，有利于保护芯片。
15.优选的，所述探针端部固定设置有背离电路板一侧弯曲设置的针头。
16.通过采用上述技术方案，因针头朝向背离电路板一侧弯曲设置，所以针头与电路板平行，将芯片固定在电路板上时，针头与芯片表面贴合并将芯片抵紧在电路板上，提高针头与芯片抵接的面积，从而提高了在电路板上测量芯片的稳定性。
17.优选的，所述电路板上固定设置有连接板。
18.通过采用上述技术方案，有利于取放电路板以及对电路板通电。
19.优选的，所述按压块靠近电路板的一侧开设有限位槽。
20.通过采用上述技术方案，便于在限位杆按压按压板。
21.优选的，所述电路板上的限位杆、按压块、探针和针头均对应设置为多组。
22.通过采用上述技术方案，可依据芯片的性状和尺寸设置限位杆、按压块、探针和针头，有利于提高芯片在电路板上测量时的稳定性和适用性。
23.综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
24.1.本申请中按压块和弹簧驱动探针在限位杆上上下移动，有利于将芯片放置在探针与电路板之间，当探针在限位杆上向下移动时，探针将芯片抵紧在电路板上，提高芯片在电路板上测量时的稳定性；
25.2.本申请中限位杆可在按压块上开设的腰形孔内滑移，调节探针与电路板的位置，提高探针对不同尺寸芯片抵接的适用性；
26.3.本申请中背离电路板一侧设置的针头与电路板平行，当针头与芯片抵接时，提高针头抵接芯片的面积，提高芯片在电路板上测量时的稳定性。
附图说明
27.图1是本申请实施例中电学测量用探针夹具的整体结构示意图；
28.图2是图2中a部放大图。
29.附图标记：1、电路板；2、探针；3、限位杆；4、上挡块；5、下挡块；6、按压块；7、弹簧；8、腰形孔；9、挡片；10、针头；11、连接板；12、限位槽；13、金手指。
具体实施方式
30.以下结合附图1
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2对本申请作进一步详细说明。
31.本申请实施例公开一种电学测量用探针夹具。参照图1，电学测量用探针夹具包括呈长方形的电路板1，电路板1上一体式固定设置有连接板11，连接板11上固定设置有金手指13。将接通线路的芯片放置在电路板1上，在将连接板11上的金手指13通入电源，便可对芯片进行测量。
32.参照图2，电路板1上固定设置有多根限位杆3，本申请实施例中限位杆3设置为四根，每根限位杆3分别固定设置在电路板1的边角处。限位杆3的高度方向，从上到下，依次设置有上挡块4、弹簧7、按压块6和下挡块5，上挡块4、下挡块5与限位杆3固定设置，弹簧7套设在限位杆3上并与上挡块4和按压块6侧壁抵接。
33.限位杆3上开设有腰形孔8，限位杆3贯穿腰形孔8并与腰形孔8内壁通过摩擦力卡接，从而将按压块6套设在限位杆3上，且按压块6远离弹簧7的一侧与下挡块5抵接。限位杆3上还套设有呈圆形的两块挡片9，两块挡片9分别位于弹簧7的两端，且分别与上挡块4和按压块6抵接。
34.按压块6靠近电路板1的一侧开设有限位槽12，限位槽12沿按压块6的长度方向开设，限位槽12长度与腰形孔8的长度相同。按压块6靠近电路板1中部的一端固定设置有探针2，探针2朝向靠近按压块6的一侧弯曲设置。探针2的端部一体式固定设置有针头10，针头10朝向背离电路板1的一侧弯曲设置，使得针头10与电路板1表面保持水平。
35.本申请实施例一种电学测量用探针夹具的实施原理为：测量芯片前，在限位杆3的下挡块5上朝向靠近电路板1的一侧按压按压块6，按压块6将限位杆3上的弹簧7压缩至上挡块4一端，挡片9将弹簧7的两端堵住，减少弹簧7脱离限位杆3，同时，固定设置有探针2一端的按压块6朝向远离电路板1的一侧翘起。此时，将芯片放置在电路板1表面，停止按压按压板，按压板和按压板上的探针2因重力掉落在电路板1上，探针2上的针头10与芯片表面贴合并将芯片抵紧在电路板1上，只需将连接板11上的金手指13通入电源，便可对芯片进行测量，提高芯片在电路板1上测量时的稳定性。当芯片测量完成后，在限位杆3上转动按压块6，便可将探针2与针头10移出芯片表面，便于取下芯片。
36.以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。


技术特征：
1.一种电学测量用探针夹具，其特征在于：包括电路板（1）和设置在电路板（1）上的探针（2），所述电路板（1）上固定设置有限位杆（3），所述限位杆（3）顶部固定设置有上挡块（4），所述限位杆（3）底部固定设置有下挡块（5），所述限位杆（3）上设置有位于上挡块（4）与下挡块（5）之间的按压块（6），所述探针（2）固定设置在按压块（6）靠近电路板（1）一侧，所述限位杆（3）上套设有位于上挡块（4）和按压块（6）之间的弹簧（7）。2.根据权利要求1所述的电学测量用探针夹具，其特征在于：所述按压块（6）上开设有供限位杆（3）插设的腰形孔（8）。3.根据权利要求1所述的电学测量用探针夹具，其特征在于：所述限位杆（3）上设置有与弹簧（7）两端抵接的挡片（9）。4.根据权利要求1所述的电学测量用探针夹具，其特征在于：所述探针（2）朝向远离按压块（6）的一侧弯曲设置。5.根据权利要求1所述的电学测量用探针夹具，其特征在于：所述探针（2）端部固定设置有背离电路板（1）一侧弯曲设置的针头（10）。6.根据权利要求1所述的电学测量用探针夹具，其特征在于：所述电路板（1）上固定设置有连接板（11）。7.根据权利要求1所述的电学测量用探针夹具，其特征在于：所述按压块（6）靠近电路板（1）的一侧开设有限位槽（12）。8.根据权利要求5所述的电学测量用探针夹具，其特征在于：所述电路板（1）上的限位杆（3）、按压块（6）、探针（2）和针头（10）均对应设置为多组。

技术总结
本申请涉及芯片测试技术领域，尤其是涉及一种电学测量用探针夹具，其包括电路板和设置在电路板上的探针，所述电路板上固定设置有限位杆，所述限位杆顶部固定设置有上挡块，所述限位杆底部固定设置有下挡块，所述限位杆上设置有位于上挡块与下挡块之间的按压块，所述探针固定设置在按压块靠近电路板一侧，所述限位杆上套设有位于上挡块和按压块之间的弹簧。本申请中探针将芯片抵紧在电路板上，具有提高芯片在电路板上测量时的稳定性。片在电路板上测量时的稳定性。片在电路板上测量时的稳定性。


技术研发人员：黄晓婷
受保护的技术使用者：上海柯舜科技有限公司
技术研发日：2021.05.27
技术公布日：2021/11/21