切割机产品反向防呆装置的制作方法

1.本技术涉及检测装置的领域，尤其是涉及一种切割机产品反向防呆装置。


背景技术：

2.晶元生产过程中，大量晶元粘贴在uv薄膜上，将晶元输送至切割机内进行切割，将晶元从uv薄膜上切割下来，由带吸盘的机械臂进行搬运。
3.由于晶元的精度要求非常高，晶元输送过程中，须要保证晶元朝向、uv薄膜在晶元的底端，对晶元进行保护。
4.将晶元向切割机进行输送时，存在将晶元上下面翻转，导致uv薄膜在上、晶元在下的情况出现，导致晶元在切割过程中受损。


技术实现要素：

5.为了方便确认晶元在进行切割前的状态，减少出现晶元切割受损的情况出现，本技术提供一种切割机产品反向防呆装置。
6.本技术提供的一种切割机产品反向防呆装置，采用如下的技术方案：
7.一种切割机产品反向防呆装置，包括支撑板，所述支撑板上设有连接杆，所述连接杆一端设置在支撑板上，另一端设有用于检测晶元方向的检测件。
8.通过采用上述技术方案，支撑板对连接杆和检测件进行支撑，检测件对晶元的放置方向进行检测，当出现晶元放置方向错误时，停止切割机运转，减少出现晶元切割受损的情况出现。
9.可选的，所述连接杆上一端开设有供检测件进行定位的定位孔，所述定位孔设置在连接杆远离支撑板一端。
10.通过采用上述技术方案，定位孔对检测件进行定位，方便定位件快速在连接杆的端部进行定位连接，提升检测件的连接效率。通过预设定位孔使检测件对金属环的检测位置进行精确定位，提升检测件对的金属环的检测精度。
11.可选的，所述定位孔呈长条形。
12.通过采用上述技术方案，长条形的定位孔方便检测件对不同规格的晶元进行检测，扩大防呆装置的检测范围。
13.可选的，所述连接杆的侧壁上开设有与定位孔连通的插孔，所述插孔内设有定位销。
14.通过采用上述技术方案，定位销对检测件的位置进行定位，提升检测件在定位孔内的定位精度，提升检测件对晶元的检测精度。
15.可选的，所述连接杆的底端设有连接框，所述支撑板穿设在连接框内，所述连接框与连接杆通过紧固件连接。
16.通过采用上述技术方案，连接杆和连接框将支撑板夹持，方便连接杆在支撑板上滑移，方便对检测件的位置进行调节。
17.可选的，所述检测件为光电传感器。
18.通过采用上述技术方案，采用光电传感器对金属环上的第一定位槽进行检测，并根据检测结果，对切割的运行进行控制，及时停止切割对晶元进行作业，减少出现晶元切割受损的情况出现。
19.可选的，所述检测件为检测相机。
20.通过采用上述技术方案，采用检测相机对金属环上的第一定位槽进行拍照，并将获取到的图像与预设的图像进行对比，根据对比结果，对切割的运行进行控制，及时停止切割对晶元进行作业，减少出现晶元切割受损的情况出现。
21.可选的，所述连接杆一端设有调节块，所述调节块上开设有多个连接孔，多个所述连接孔沿竖直方向间隔排布，所述调节块上设有用于连接检测相机和调节块的连接片，所述连接片上开设有长条形的卡孔。
22.通过采用上述技术方案，通过设置调节块对和连接片对检测相机的焦距进行调节，方便对检测相机对金属环上的第一定位槽进行更精确图像获取，提升检测相机的检测精度。
23.综上所述，本技术包括以下至少一种有益技术效果：
24.1.设置检测件对晶元的放置方向进行检测，当出现晶元放置方向错误时，及时停止切割机进一步运转，减少出现晶元切割受损的情况出现；
25.2.设置长条形的定位孔使检测件能够对不同规格的晶元进行检测，扩大防呆装置的检测范围。
附图说明
26.图1是体现晶元料带结构的示意图。
27.图2是本技术实施例1的整体结构示意图。
28.图3是图2中a处的局部放大示意图。
29.图4是实施例2的整体结构示意图
30.图5是图4中b处的局部放大示意图。
31.附图标记说明：101、uv薄膜；102、金属环；103、晶元；104、第一定位槽；105、第二定位槽；1、支撑板；2、连接杆；3、检测件；4、定位孔；5、连接框；6、调节块；7、连接片；8、卡孔；9、连接孔；10、插孔；11、定位销。
具体实施方式
32.以下结合附图1
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5对本技术作进一步详细说明。
33.参照图1，一种晶元103料带，包括晶元103、uv薄膜101和金属环102，晶元103和金属环102均设置在uv薄膜101上，晶元103设置在金属环102的中心。金属环102的侧壁上开设有第一定位槽104和第二定位槽105，第一定位槽104和第二定位槽105间隔设置在金属环102的同一侧。
34.实施例1
35.本技术实施例公开一种切割机产品反向防呆装置。参照图2和图3，切割机产品反向防呆装置包括支撑板1，支撑板1上设有多个吸盘，支撑板1上设有连接杆2，连接杆2长度
方向一端的底端设有连接框5，连接框5套设在支撑板1上，连接框5通过螺钉与连接杆2连接。连接框5和连接杆2夹紧在支撑板1上，松开连接框5和连接杆2，方便连接杆2在支撑板1上滑动，调节连接杆2在支撑板1上的位置。
36.参照图2和图3，连接杆2远离支撑板1一端的地面上设有调节块6，调节块6的侧壁上设有水平截面呈l形的连接片7，连接片7的侧壁上固定有用于检测晶元103方向的检测件3，检测件3可以为光电传感器。
37.参照图2和图3，光电传感器向金属环102发射光信号，当光信号经过金属环102的反射被光电传感器接收，表示晶元103放置正确，吸盘进行光源的搬运。当光信号透过uv薄膜101并从金属环102上的第一定位槽104上穿过，光电传感器无法接收到光信号，说明光源放置错误，控制吸盘停止运转，停止对晶元103的搬运。光电传感器的运行原理和使用方式为现有技术，仅是对本技术方案进行进一步描述，并不纳入本技术的保护范围。
38.参照图2和图3，连接杆2远离支撑板1一端开设有长条形的定位孔4，调节块6一端设置在定位孔4内，调节块6沿定位孔4长度方向滑移，调节光电传感器的位置。调节块6移动至定位孔4两端，使光电传感器对应两种不同规格晶元103的金属环102，扩大防呆装置的适用范围。
39.连接杆2的侧壁上开设有与定位孔4连通的插孔10，调节块6通过在插孔10内插入定位销11对调节块6的位置进行定位，提升调节块6在定位孔4内的定位精度，提升光电传感器对晶元103的检测精度。
40.本技术实施例一种切割机产品反向防呆装置的实施原理为：晶元103输送过程中，光电传感器对晶元103进行检测，方便及时纠正晶元103的放置错误。通过改变调节块6在定位孔4内的位置，并用定位销11进行定位，方便对不同规格的晶元103进行检测。
41.实施例2
42.参照图4和图5，实施例2与实施例1的区别在于检测件3为ccd检测相机，调节块6的侧壁上贯穿有多个调节孔，多个调节孔沿竖直方向间隔排布。连接片7上开设有长条形的卡孔8，卡孔8的长度方向与竖直方向平行。连接片7与调节块6通过螺钉连接，通过上下调节连接片7的位置，进行ccd检测相机的焦距调节，提升ccd相机的检测精度，提升对晶元103的检测精度。
43.参照图4和图5，ccd检测相机对金属环102的进行拍照，并将拍的照片与预设图像进行分析对比，若图像吻合，则晶元103放置正确，吸盘进行晶元103的搬运。若图像无法吻合，则晶元103放置错误，吸盘停止晶元103的搬运。ccd相机的运行原理和使用方式为现有技术，仅是对本技术方案进行进一步描述，并不纳入本技术的保护范围。
44.本技术实施例一种切割机产品反向防呆装置的实施原理为：晶元103输送过程中，ccd检测相机对晶元103进行检测，方便及时纠正晶元103的放置错误。通过改变调节块6在定位孔4内的位置，并用定位销11进行定位，方便对不同规格的晶元103进行检测。
45.以上均为本技术的较佳实施例，并非依此限制本技术的保护范围，故：凡依本技术的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本技术的保护范围之内。