一种双极永磁体测试用夹紧装置的制作方法

专利检索2022-05-10  30



1.本技术涉及磁场与磁力测试装置的技术领域,尤其是涉及一种双极永磁体测试用夹紧装置。


背景技术:

2.永磁体是指在开路状态下能长期保留较高剩磁的磁体。双极永磁体包括上磁体、下磁体、上安装座、下安装座和支撑架,上磁体安装在上安装座的底部,下磁体安装在下安装座的顶部,上、下安装座分别固定设置在支撑架侧壁的顶部和底部,且上、下安装座相互平行设置,使得上磁体与下磁体相对设置,且上、下磁体相对设置在两个面呈平行状态,从而使上、下磁体相对面之间产生均匀的磁场。
3.为了检测上、下磁体之间磁场的分布情况,通常需要借助磁场测试装置,磁场测试装置包括底部的测试平台和设置在测试平台顶面的测试装置。在测定时,工作人员会将双极永磁体放置在测试平台顶面,然后开始测量。但是在实际测量的过程中,双极永磁体会产生振动从而带来振动误差,从而影响测量的准确性。


技术实现要素:

4.为了便于对双极永磁体进行固定,减少在磁场测试时的振动误差,本技术提供一种双极永磁体测试用夹紧装置。
5.本技术提供的一种双极永磁体测试用夹紧装置,采用如下的技术方案:
6.一种双极永磁体测试用夹紧装置,包括夹紧座和设置在夹紧座底部的升降机构,所述夹紧座顶面开设有用于固定双极永磁体的固定槽,所述升降机构包括固定设置在夹紧座底部的升降板、设置在升降板底部的安装板、设置在升降板与安装板之间的升降组件和用于驱动升降组件升降的驱动组件。
7.通过采用上述技术方案,在需要对双极永磁体进行磁场测试时,将双极永磁体的下安装座卡入固定槽内,从而实现对双极永磁体的固定,降低在测试时因振动而产生的误差,通过升降组件,还可以调整双极永磁体在竖直方向的高度,以适配不同的磁场测试装置,扩大了夹紧装置的适用范围。
8.优选的,所述固定槽的侧壁顶部固定设置有用于卡接下安装座的卡接凸起。
9.通过采用上述技术方案,当下安装座固定在固定槽内时,通过卡接凸起,对下安装座进一步固定,从而提高双极永磁体固定的牢固程度,进一步减少了测试时的振动误差。
10.优选的,所述驱动组件包括固定设置在升降板底部的两块限位板、转动设置在两块限位板之间的丝杆、固定设置在丝杆端部的转动螺旋和螺纹设置在丝杆上的上滑座,所述上滑座用于带动升降组件升降,所述转动螺旋设置在限位板远离丝杆的一侧,所述限位板远离升降板的一端还设置有上引导轨,所述上引导轨贯穿上滑座设置,且所述上引导轨与上滑座滑移配合。
11.通过采用上述技术方案,在需要调节夹紧座的高度时,工作人员旋转转动螺旋,驱
动丝杆转动,从而使上滑座沿丝杆移动,继而带动升降组件升降。如上设置,便于工作人员对夹紧座高度进行调整,使用方便。
12.优选的,所述升降组件包括中部相互铰接设置的主动杆和从动杆,所述主动杆的一端铰接设置在安装板的端部,所述主动杆的另一端与上滑座铰接,所述安装板顶面设置只有下引导轨,所述下引导轨上滑动设置有下滑座,所述从动杆的一端铰接设置在升降板的端部,所述从动杆的另一端与下滑座铰接。
13.通过采用上述技术方案,由于主动杆远离上滑座的一端与安装板铰接,主动杆的中部与从动杆的中部铰接,因此当上滑座滑动时,主动杆以主动杆的中部为中心发生转动,又由于从动杆的一端与升降板铰接,从动杆的另一端与下滑座铰接,因此从动杆也随着主动杆的转动而转动,从而实现了升降板的升降。
14.优选的,所述转动螺旋与限位板之间还设置有锁定盘,所述锁定盘与限位板固定连接,所述锁定盘与丝杆转动连接,所述锁定盘侧壁开设有锁孔,所述转动螺旋侧壁开设有通孔,所述通孔内穿设有锁定件,所述锁定件贯穿通孔后插入锁孔内。
15.通过采用上述技术方案,在调整好夹紧装置的高度时,将锁定件穿过通孔插入锁孔内,将转动螺旋锁定,从而减少在测试时转动螺旋发生转动而影响测试结果的情况发生,且如上设置,锁定方便,便于操作。
16.优选的,所述锁定件为锁定螺栓,所述锁定螺栓与通孔螺纹配合。
17.通过采用上述技术方案,通过锁定螺栓与通孔的螺纹配合,使转动螺旋的锁定更加牢固,进一步减少了测试时转动螺旋发生转动的情况发生。
18.优选的,所述安装板的侧壁固定设置有第一刻度尺,所述升降板的侧壁固定设置有第二刻度尺,所述第一刻度尺与第二刻度尺紧紧贴合设置。
19.通过采用上述技术方案,在调节升降板高度时,通过第一刻度尺和第二刻度尺之间的配合,从而读出升降板的高度,便于按照高度需求调整夹紧装置的高度,便于使用。
20.优选的,所述第一刻度尺的刻度设置在第一刻度尺靠近第二刻度尺的一侧,所述第二刻度尺的刻度设置在第二刻度尺靠近第一刻度尺的一侧。
21.通过采用上述技术方案,第一刻度尺和第二刻度尺的刻度相贴合,便于读数,且读数更加准确,减少误差。
22.综上所述,本技术包括以下至少一种有益技术效果:
23.1.本技术的双极永磁体测试用夹紧装置可以辅助固定双极永磁体,减少在检测双极永磁体磁场时产生的振动误差,提高测试的准确性;
24.2.本技术通过设置升降组件,实现了夹紧装置在竖直方向上的升降,且操作简单,扩大了夹紧装置的适用范围,更便于使用;
25.3.本技术通过设置锁定件,通过锁定件将转动螺旋锁定,避免了在测试时因转动螺旋发生转动而造成测量误差的情况发生。
附图说明
26.图1是本技术实施例中双极永磁体测试用夹紧装置的整体结构示意图;
27.图2是本技术实施例中为了凸显锁孔的爆炸示意图;
28.图3是本技术实施例中双极永磁体测试用夹紧装置另一角度的整体结构示意图。
29.附图标记:1、夹紧座;2、升降板;3、安装板;4、升降组件;401、主动杆;402、从动杆;5、驱动组件;501、限位板;502、丝杆;503、转动螺旋;504、上滑座;505、上引导轨;506、下滑座;507、下引导轨;6、固定槽;7、卡接凸起;8、锁定盘;9、锁孔;10、通孔;11、锁定件;12、第一刻度尺;13、第二刻度尺;14、上安装孔;15、下安装孔;16、摩擦纹。
具体实施方式
30.以下结合附图1

3对本技术作进一步详细说明。
31.本技术实施例公开一种双极永磁体测试用夹紧装置。参照图1,双极永磁体测试用夹紧装置包括夹紧座1和设置在夹紧座1底部的升降机构。夹紧座1顶面开设有供双极永磁体的下安装座卡入的固定槽6,且固定槽6的一端贯穿夹紧座1的侧壁设置并形成开放端,固定槽6的侧壁顶面一体成型设置有卡接凸起7,从而加强夹紧装置对双极永磁体固定的牢固程度。在测试前,将双极永磁体的下安装座从固定槽6的开放端插入,从而使双极永磁体与夹紧装置固定。
32.参照图1,升降机构包括设置在夹紧座1底部的升降板2、设置在升降板2底部的安装板3、设置在安装板3与升降板2之间的升降组件4和用于驱动升降组件4升降的驱动组件5。升降组件4包括相互交叉设置的主动杆401和从动杆402,且主动杆401和从动杆402的中部铰接。驱动组件5包括焊接在升降板2底部的两块限位板501,两块限位板501之间转动设置有丝杆502,丝杆502上螺纹设置有上滑座504,丝杆502的一端贯穿限位板501设置并固定设置有转动螺旋503。为了便于上滑座504沿丝杆502方向滑动,在两块限位板501远离升降板2一端固定设置有上引导轨505,上引导轨505贯穿上滑座504设置并与上滑座504滑移配合。安装板3顶面固定设置有下引导轨507,下引导轨507上滑移设置有下滑座506。主动杆401的一端与安装板3的端部铰接,主动杆401远离安装板3的一端与上滑座504铰接,从动杆402的一端与升降板2的端部铰接,从动杆402远离升降板2的一端与下滑座506铰接。在使用时,工作人员旋转转动螺旋503,带动丝杆502转动,使上滑座504沿丝杆502滑动,主动杆401以中部为中心转动,带动从动杆402转动,从而实现升降板2的升降。
33.参照图1,为了便于安装,固定槽6的内底部开设有贯穿夹紧座1底壁的上安装孔14,上安装孔14内设置有用于将夹紧座1和升降板2紧紧锁定的螺钉。安装板3上开设有多个下安装孔15,下安装孔15内设置有用于将安装板3与磁场测试装置的测试平台锁定的螺钉。
34.参照图1和图2,转动螺旋503与限位板501之间设置有锁定盘8,锁定盘8与限位板501固定设置,丝杆502与锁定盘8转动设置。为了防止在测试时转动螺旋503发生转动而使夹紧装置的高度发生变化,继而导致测试产生误差的情况发生,在转动螺旋503侧壁还设置有用于将转动螺旋503与锁定盘8锁定的锁定件11。转动螺旋503贯穿其侧壁开设有多个通孔10,锁定盘8侧壁开设有锁孔9,锁定件11穿过通孔10插入到锁孔9内,从而将转动螺旋503与锁定盘8锁定。本技术实施例中,锁定件11采用锁定螺栓,且锁定螺栓与通孔10内侧壁螺纹配合,从而使转动螺旋503与锁定盘8牢牢锁定。
35.参照图3,为了便于精确调整升降板2的升降高度,安装板3侧壁固定设置有第一刻度尺12,升降板2侧壁固定设置有第二刻度尺13,第一刻度尺12和第二刻度尺13相互贴合设置,且第一刻度尺12的刻度设置在第一刻度尺12靠近第二刻度尺13的一侧,第二刻度尺13的刻度设置在第二刻度尺13靠近第一刻度尺12的一侧。
36.参照图1,为了便于工作人员转动转动螺旋503,转动螺旋503的圆周壁还设置有摩擦纹16,从而增大转动螺旋503侧壁与工作人员手指的摩擦,便于转动。
37.本技术实施例一种双极永磁体测试用夹紧装置的实施原理为:将夹紧装置的安装板3固定在磁场测试装置的测试平台上,然后将双极永磁体的下安装座从固定槽6的开放端插入固定槽6内固定,转动转动螺旋503通过升降组件4调整升降板2的高度,调整完毕后通过锁定件11将转动螺旋503与锁定盘8锁定,即可开始测试。
38.以上均为本技术的较佳实施例,并非依此限制本技术的保护范围,故:凡依本技术的结构、形状、原理所做的等效变化,均应涵盖于本技术的保护范围之内。
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