一种发光二极管外延片、制备方法及LED芯片与流程

专利检索2026-09-20  10


本发明涉及led芯片,特别涉及一种发光二极管外延片、制备方法及led芯片。


背景技术:

1、gan基外延片被广泛用于制造高效能的光电器件,例如led。这种材料的特点在于其优异的电光性能,包括低的导通电阻、高的电流密度和快速的载流子动力学。

2、gan基外延片一般包括衬底、缓冲层、未掺杂的gan层、n型gan层、有源层、p型层,而且电子具有较低的有效质量而具有较高的迁移率,空穴具有较高的有效质量而具有较低的迁移率。

3、但是因电子具有较高的迁移率而容易从有源层泄露,而空穴具有较低的迁移率,不易从p型层注入到有源层,随着正向电流的逐渐增大,led的内量子效率会大幅下降,由此降低了led的发光效率。此外,在静电冲击时,因电子有效质量较小、迁移率较高,电子不容易被束缚在原地而易产生移动,增大了对led的损害,由此降低了led的抗静电能力。


技术实现思路

1、基于此,本发明的目的是提供一种发光二极管外延片、制备方法及led芯片,通过在gan基发光二极管外延片中提高电子的势垒高度,降低空穴的势垒高度,能够减小电子的泄露,提高空穴向有源层的注入效率,从而提高内量子效率和提高抗静电能力。

2、一方面,本发明提供了一种发光二极管外延片,包括:衬底以及依次层叠在所述衬底上的缓冲层、未掺杂的gan层、n型gan层、有源层、p型层,有源层包括n个周期性交替生长的si掺杂的氮极性algan量子垒层和ingan量子阱层,沿生长方向各氮极性algan量子垒层的si掺杂浓度、禁带宽度、层厚逐层递减,其中,氮极性algan量子垒层的si掺杂浓度取值范围为5×1016atoms/cm3~1×1018atoms/cm3,氮极性algan量子垒层的组分包括sc、b,且si掺杂浓度与层厚的数值比值为0.5~7,层厚与禁带宽度的数值比值为2~3。

3、进一步地,各氮极性algan量子垒层的si掺杂浓度逐层递减的步长为2×1016atoms/cm3~8×1016atoms/cm3。

4、进一步地,氮极性algan量子垒层的禁带宽度取值范围为3.4ev~4.2ev。

5、进一步地,各氮极性algan量子垒层的禁带宽度逐层递减的步长为0.05ev~0.2ev。

6、进一步地,氮极性algan量子垒层的层厚取值范围为5nm~15nm。

7、进一步地,各氮极性algan量子垒层的层厚逐层递减的步长为0.1nm~1nm。

8、进一步地,氮极性algan量子垒层和ingan量子阱层交替生长的周期n取值范围为:4≤n≤20。

9、另一方面,基于同一个发明构思,本发明还提供了一种发光二极管外延片的制备方法,包括如下步骤:

10、提供一衬底;

11、在衬底上沉积缓冲层;

12、在缓冲层上沉积未掺杂的gan层;

13、在gan层上沉积n型gan层;

14、在n型gan层上沉积有源层;

15、在有源层上沉积p型层;

16、其中,有源层包括n个周期性交替生长的si掺杂的氮极性algan量子垒层和ingan量子阱层,沿生长方向各氮极性algan量子垒层的si掺杂浓度、禁带宽度、层厚逐层递减,氮极性algan量子垒层的si掺杂浓度取值范围为5×1016atoms/cm3~1×1018atoms/cm3,氮极性algan量子垒层的组分包括sc、b,且si掺杂浓度与层厚的数值比值为0.5~7,层厚与禁带宽度的数值比值为2~3。

17、另一方面,基于同一个发明构思,本发明还提供了一种led芯片,应用了前述的发光二极管外延片。

18、本发明具有以下有益效果:通过采用沿生长方向越靠后的氮极性量子垒层禁带宽度越小、厚度越薄的设计,由此靠近n型半导体一侧的氮极性量子垒具有更大的禁带宽度、更厚的厚度,靠近p型半导体的一侧的氮极性量子垒具有更小的禁带宽度、更薄的厚度,这样可以提高电子的势垒高度,降低空穴的势垒高度,结合势垒层氮极性的设计,使得势垒层极化电场反转,产生p型指向n型方向的极化电场,达到防止电子泄露的效果,同时提高了空穴向有源层的注入效率,提升了电子和空穴的有效复合效率,进而提高了内量子效率;此外,氮极性量子垒层中进行si掺杂可加强有源层中的电子浓度,在提高发光效率的同时可以降低器件工作电压,进一步地,采用沿生长方向越靠后的氮极性量子垒层si掺杂浓度越低的设计,可提升器件的横向电流扩展能力,提高器件的抗静电能力以及发光均匀性,防止过量的si掺杂导致过剩的电子泄露至p型半导体层,进一步提高了发光效率。



技术特征:

1.一种发光二极管外延片,其特征在于,所述发光二极管外延片包括:

2.根据权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,各所述氮极性algan量子垒层的si掺杂浓度逐层递减的步长为2×1016atoms/cm3~8×1016atoms/cm3。

3.根据权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述氮极性algan量子垒层的禁带宽度取值范围为3.4ev~4.2ev。

4.根据权利要求3所述的发光二极管外延片,其特征在于,各所述氮极性algan量子垒层的禁带宽度逐层递减的步长为0.05ev~0.2ev。

5.根据权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述氮极性algan量子垒层的层厚取值范围为5nm~15nm。

6.根据权利要求5所述的发光二极管外延片,其特征在于,各所述氮极性algan量子垒层的层厚逐层递减的步长为0.1nm~1nm。

7.根据权利要求1所述的发光二极管外延片,其特征在于,所述氮极性algan量子垒层和所述ingan量子阱层交替生长的周期n取值范围为:4≤n≤20。

8.一种如权利要求1至7任一项所述的发光二极管外延片的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

9.一种led芯片,其特征在于,应用了如权利要求 1 至 7 任一项所述的发光二极管外延片。


技术总结
本发明提供了一种发光二极管外延片、制备方法及LED芯片,发光二极管外延片包括衬底以及依次层叠在所述衬底上的缓冲层、未掺杂的GaN层、N型GaN层、有源层、P型层,有源层包括N个周期性交替生长的Si掺杂的氮极性AlGaN量子垒层和InGaN量子阱层,沿生长方向各氮极性AlGaN量子垒层的Si掺杂浓度、禁带宽度、层厚逐层递减,其中,Si掺杂浓度与层厚的数值比值为0.5~7,层厚与禁带宽度的数值比值为2~3。本发明先通过在GaN基发光二极管外延片中提高电子的势垒高度,降低空穴的势垒高度,能够减小电子的泄露,提高空穴向有源层的注入效率,从而提高内量子效率和提高抗静电能力。

技术研发人员:侯合林,谢志文,张铭信,陈铭胜,文国昇,金从龙
受保护的技术使用者:江西兆驰半导体有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/5/29
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