本技术一般涉及图像处理。更具体地，本技术涉及一种显示屏漏光检测方法、电子设备及存储介质。
背景技术：
1、边缘漏光是显示屏幕的一种常见缺陷现象，这种缺陷现象尤其是在显示深色背景或处于黑暗环境中时更为明显。漏光通常是由于显示屏幕的结构特点所致，在显示屏幕的边缘或角落处可能会出现轻微的发光散射，原因主要与显示屏幕的制造过程有关，在屏幕面板的组装过程中，显示屏幕的角落或边缘可能会受到不均匀的力，导致液晶分子发生变形，进而引发漏光。此外，显示屏幕的背光系统，特别是边缘的发光部分，可能会因为设计或制造上的微小误差而导致光线的散射。漏光严重的话容易影响用户的正常使用，引起用户不满。
2、现有的屏幕检测方法仅能对明显漏光进行检测，难以对微弱漏光进行准确检测。而且计算过程复杂，运算量大，检测成本高。
3、有鉴于此，亟需提供一种显示屏漏光检测方法，以便能够高效地对显示屏幕的边缘微弱漏光进行检测，降低检测成本，提升显示屏幕的生产质量。
技术实现思路
1、为了至少解决如上所提到的一个或多个技术问题，本技术在多个方面中提出了显示屏漏光检测方法、电子设备及存储介质。该显示屏漏光检测方法能够高效地对显示屏幕的边缘微弱漏光进行检测，降低检测成本，提升显示屏幕的生产质量。
2、在第一方面中，本技术提供一种显示屏漏光检测方法，包括：获取显示屏待检图像；提取显示屏待检图像中的漏光检测区域，得到漏光区域检测图像；确定漏光区域检测图像中每一方形窗口区域内的灰度均值，并且将方形窗口区域的中心像素点的像素值更新为灰度均值，得到灰度均值响应图；方形窗口区域为边长大于或等于漏光检测区域宽度并且以在漏光区域检测图像中的像素点作为中心像素点所形成的窗口区域；在漏光区域检测图像中确定漏光区域中线轮廓框，并在灰度均值响应图中提取漏光区域中线轮廓框对应的像素点；基于预设像素比较范围和漏光区域中线轮廓框对应的像素点确定漏光区域中线轮廓框对应的像素点中的每一像素点在其对应的预设像素比较范围之内的最小灰度值，并且将每一像素点的灰度值更新为每一像素点的原始灰度值与其对应的最小灰度值之间的灰度差值，得到差值响应图；基于差值响应图在显示屏待检图像中确定漏光缺陷位置。
3、在一些实施例中，提取显示屏待检图像中的漏光检测区域，得到漏光区域检测图像包括：在显示屏待检图像中定位显示屏幕的屏幕轮廓，得到屏幕轮廓交点；基于屏幕轮廓交点提取屏幕感兴趣区域，得到屏幕区域图像；在屏幕区域图像中将显示屏幕对应的区域置白，得到感兴趣区域掩膜图；对感兴趣区域掩膜图进行内缩操作，得到内缩掩膜图；基于第一预设卷积核对内缩掩膜图进行腐蚀操作，得到中线轮廓掩模图；基于第二预设卷积核对中线轮廓掩模图进行腐蚀操作，得到内缩终止掩模图；将内缩掩膜图与内缩终止掩模图作差，得到边缘漏光检测掩模图；在屏幕区域图像中保留在边缘漏光检测掩模图中置白的像素点，得到漏光区域检测图像。
4、在一些实施例中，确定漏光区域检测图像中每一方形窗口区域内的灰度均值包括：通过预设滤波核对漏光区域检测图像进行滤波处理，使得漏光区域检测图像中的每一像素点的像素值更新为像素点邻域范围内的灰度值和，得到漏光检测滤波图像；将边缘漏光检测掩模图中置白的像素点的灰度值更新为单位灰度值；通过预设滤波核对边缘漏光检测掩模图进行滤波处理，使得边缘漏光检测掩模图中的每一像素点的像素值更新为像素点邻域范围内的单位灰度和，得到漏光检测掩模滤波图；其中，预设滤波核的尺寸与方形窗口区域的尺寸相等；将漏光检测滤波图像与漏光检测掩模滤波图进行逐一像素点相除处理，得到漏光区域检测图像中每一方形窗口区域内的灰度均值。
5、在一些实施例中，在漏光区域检测图像中确定漏光区域中线轮廓框包括：在漏光区域检测图像中，将中线轮廓掩模图的外轮廓框确定为漏光区域中线轮廓框。
6、在一些实施例中，基于预设像素比较范围和漏光区域中线轮廓框对应的像素点确定漏光区域中线轮廓框对应的像素点中的每一像素点在其对应的预设像素比较范围之内的最小灰度值包括：基于漏光区域中线轮廓框对应的像素点构建初始像素点序列图像；基于预设像素比较范围对初始像素点序列图像进行像素点延展，得到目标像素点序列图像；基于目标像素点序列图像确定目标像素点序列图像中每一像素点在其对应的预设像素比较范围之内的最小灰度值。
7、在一些实施例中，预设像素比较范围为当前像素点的前w个像素点至当前像素点的后w个像素点；基于预设像素比较范围对初始像素点序列图像进行像素点延展包括：将初始像素点序列图像中的前w个像素点拷贝至初始像素点序列图像的结尾位置；将初始像素点序列图像中的后w个像素点拷贝至初始像素点序列图像的开头位置。
8、在一些实施例中，基于目标像素点序列图像确定目标像素点序列图像中每一像素点在其对应的预设像素比较范围之内的最小灰度值包括：设置腐蚀卷积核，腐蚀卷积核的核大小为（2w+1，1）；通过腐蚀卷积核确定目标像素点序列图像中每一像素点在其对应的预设像素比较范围之内的最小灰度值，形成腐蚀像素点序列图像。
9、在一些实施例中，将每一像素点的灰度值更新为每一像素点的原始灰度值与其对应的最小灰度值之间的灰度差值，得到差值响应图包括：将目标像素点序列图像与腐蚀像素点序列图像进行灰度作差处理，得到差值响应图。
10、在第二方面中，本技术提供一种电子设备，包括：处理器；以及存储器，其上存储有用于显示屏漏光检测的程序代码，当所述程序代码被所述处理器执行时，使所述电子设备实现如上所述的方法。
11、在第三方面中，本技术提供一种非暂时性机器可读存储介质，其上存储有用于显示屏漏光检测的程序代码，当所述程序代码由处理器执行时，能够实现如上所述的方法。
12、本技术提供的技术方案可以包括以下有益效果：
13、本技术提供的显示屏漏光检测方法、电子设备及存储介质，通过获取显示屏待检图像，进而提取显示屏待检图像中的漏光检测区域，得到漏光区域检测图像，从而能够只针对屏幕边缘的可能漏光区域进行计算，降低计算量，有利于快速定位漏光缺陷位置。
14、进一步地，本技术可以确定漏光区域检测图像中每一方形窗口区域内的灰度均值，并且将方形窗口区域的中心像素点的像素值更新为灰度均值，得到灰度均值响应图，其中，方形窗口区域为边长大于或等于漏光检测区域宽度并且以在漏光区域检测图像中的像素点作为中心像素点所形成的窗口区域，有利于完整覆盖屏幕边缘的可能漏光区域，避免漏检情况。进而在漏光区域检测图像中确定漏光区域中线轮廓框，并在灰度均值响应图中提取漏光区域中线轮廓框对应的像素点，进而基于预设像素比较范围和漏光区域中线轮廓框对应的像素点确定漏光区域中线轮廓框对应的像素点中的每一像素点在其对应的预设像素比较范围之内的最小灰度值，并且将每一像素点的灰度值更新为每一像素点的原始灰度值与其对应的最小灰度值之间的灰度差值，得到差值响应图。执行作差操作后能够使得位于非缺陷区域的像素点的灰度值变小，而位于缺陷区域的像素点的灰度值则会相对于位于非缺陷区域的像素点的灰度值更大，使得位于缺陷区域的像素点在差值响应图中更为明显，进而能够基于差值响应图在显示屏待检图像中确定漏光缺陷位置，有利于微弱漏光现象的检测，提升显示屏微弱漏光现象的检测准度。
15、总的来说，本技术能够高效地对显示屏幕的边缘微弱漏光进行检测，降低检测成本，提升显示屏幕的生产质量。
1.一种显示屏漏光检测方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的显示屏漏光检测方法，其特征在于，所述提取所述显示屏待检图像中的漏光检测区域，得到漏光区域检测图像包括：
3.根据权利要求2所述的显示屏漏光检测方法，其特征在于，所述确定所述漏光区域检测图像中每一方形窗口区域内的灰度均值包括：
4.根据权利要求2所述的显示屏漏光检测方法，其特征在于，所述在所述漏光区域检测图像中确定漏光区域中线轮廓框包括：
5.根据权利要求1所述的显示屏漏光检测方法，其特征在于，所述基于预设像素比较范围和所述漏光区域中线轮廓框对应的像素点确定所述漏光区域中线轮廓框对应的像素点中的每一像素点在其对应的预设像素比较范围之内的最小灰度值包括：
6.根据权利要求5所述的显示屏漏光检测方法，其特征在于，所述预设像素比较范围为当前像素点的前w个像素点至当前像素点的后w个像素点；所述基于所述预设像素比较范围对所述初始像素点序列图像进行像素点延展包括：
7.根据权利要求6所述的显示屏漏光检测方法，其特征在于，所述基于所述目标像素点序列图像确定所述目标像素点序列图像中每一像素点在其对应的预设像素比较范围之内的最小灰度值包括：
8.根据权利要求7所述的显示屏漏光检测方法，其特征在于，所述将每一像素点的灰度值更新为每一像素点的原始灰度值与其对应的最小灰度值之间的灰度差值，得到差值响应图包括：
9. 一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种非暂时性机器可读存储介质，其上存储有用于显示屏漏光检测的程序代码，当所述程序代码由处理器执行时，使得实现如权利要求1-8中任一项所述的方法。
