本技术涉及激光返修或焊接，特别涉及一种光学模组及双光斑激光系统。
背景技术：
1、目前，采用激光技术对诸如芯片等电子元器件进行返修或焊接已经是一种比较普遍的生产工艺，其一般通过单光斑激光系统来实现，即通过一个激光光源形成一个激光光斑，来同时对诸如芯片等电子元器件的两端焊点进行加热，以在这些电子元器件的两端焊点熔融后，或取下这些电子元器件进行返修处理，或冷却固化实现这些电子元器件的焊接处理。然而，在实际使用过程中发现，这种单光斑激光系统在对诸如芯片等电子元器件的两端焊点进行加热的过程中，其单光斑激光会覆盖到这些电子元器件的表面上，进而使得激光辐射会对这些电子元器件造成损伤，造成返修或焊接不良的问题。
技术实现思路
1、本技术实施例提供一种光学模组及双光斑激光系统，旨在解决现有单光斑激光系统在对诸如芯片等电子元器件进行激光返修或焊接过程中，会对这些电子元器件造成损伤，造成其返修或焊接不良的技术问题。
2、为此，本技术实施例第一方面提供一种光学模组，应用于双光斑激光系统中，所述双光斑激光系统包括准直透镜和聚焦透镜，所述准直透镜用于对初始激光束进行准直处理形成沿第一方向照射的准直激光束，所述聚焦透镜用于对所述准直激光束进行聚焦处理形成相应的激光光斑，所述准直激光束沿垂直于所述第一方向的第二方向划分为第一光束和第二光束；
3、所述光学模组包括透镜组件，所述透镜组件包括在所述第一方向依次设置的第一透镜和第二透镜，所述第一透镜和所述第二透镜在所述第二方向错位设置，且所述第一透镜和所述第二透镜之间互为互补透镜；
4、所述透镜组件部分位于所述第一光束的光路中，以使得所述第一光束穿过所述透镜组件后形成在所述第二方向偏离所述第二光束的第三光束。
5、可选地，在一些实施例中，所述第一透镜为第一柱面透镜，所述第二透镜为第二柱面透镜；
6、所述第一柱面透镜具有平面结构的第一表面和曲面结构的第二表面，所述第二柱面透镜具有平面结构的第三表面和曲面结构的第四表面；
7、所述第一表面面向所述准直透镜所在一侧设置，所述第四表面面向所述第二表面所在一侧设置，且所述第四表面的焦距与所述第二表面的焦距之和为0，所述第四表面的中心和所述第二表面的中心在所述第一方向的距离为3mm～5mm。
8、可选地，在一些实施例中，所述第二表面为凸面结构，所述第四表面为与所述凸面结构相适配的凹面结构；或，
9、所述第二表面为凹面结构，所述第四表面为与所述凹面结构相适配的凸面结构。
10、可选地，在一些实施例中，所述光学模组还包括用于驱使所述透镜组件在所述第二方向来回移动的第一调节机构。
11、可选地，在一些实施例中，所述光学模组还包括用于单独驱使所述第一透镜在所述第二方向与所述第二透镜发生相对移动或单独驱使所述第二透镜在所述第二方向与所述第一透镜发生相对移动的第二调节机构。
12、此外，本技术实施例第二方面提供一种双光斑激光系统，包括激光光源组件、准直透镜、聚焦透镜以及上述的光学模组，其中，
13、所述激光光源组件，用于提供初始激光束；
14、所述准直透镜，用于对所述初始激光束进行准直处理形成沿第一方向照射的准直激光束，且所述准直激光束沿垂直于所述第一方向的第二方向划分为第一光束和第二光束；
15、所述光学模组，部分位于所述第一光束的光路中，用于使得所述第一光束穿过所述透镜组件后形成在所述第二方向偏离所述第二光束的第三光束；
16、所述聚焦透镜，用于分别对所述第三光束和所述第二光束进行聚焦处理，以对应形成第一激光光斑和第二激光光斑。
17、可选地，在一些实施例中，还包括第一反射镜和第一二向色镜，其中，
18、所述第一反射镜，呈45度角倾斜设置在所述第三光束和所述第二光束的光路中，用于使得所述第三光束和所述第二光束的光路发生90度改变；
19、所述第一二向色镜，呈45度角倾斜设置在所述第三光束和所述第二光束发生所述90度改变后的光路中，用于使得所述第三光束和所述第二光束的光路再次发生90度改变；
20、所述聚焦透镜，设置在所述第三光束和所述第二光束再次发生所述90度改变后的光路中，并分别对所述第三光束和所述第二光束进行聚焦处理，以对应形成第一激光光斑和第二激光光斑。
21、可选地，在一些实施例中，还包括红外测温组件或机器视觉组件，其中，
22、所述第一二向色镜，还用于透射所述聚焦透镜所在一侧的高温红外光和可见光；
23、所述红外测温组件或所述机器视觉组件，位于所述第一二向色镜在所述第一方向远离所述聚焦透镜的一侧，用于接收所述高温红外光进行温度监测，或接收所述可见光进行视觉监控。
24、可选地，在一些实施例中，还包括第二二向色镜、红外测温组件以及机器视觉组件，其中，
25、所述第一二向色镜，还用于透射所述聚焦透镜所在一侧的高温红外光和可见光；
26、所述第二二向色镜，呈45度倾斜设置在所述第一二向色镜在所述第一方向远离所述聚焦透镜的一侧，用于透射所述高温红外光，并使得所述可见光的光路发生90度改变；
27、所述红外测温组件，设置在所述第二二向色镜在所述第一方向远离所述第一二向色镜的一侧，用于接收所述高温红外光进行温度监测；
28、所述机器视觉组件，位于所述可见光发生所述90度改变后光路中，用于接收所述可见光进行视觉监控。
29、可选地，在一些实施例中，还包括第二反射镜，其中，
30、所述第二反射镜，呈45度倾斜设置在所述可见光发生所述90度改变后的光路中，用于使得所述可见光的光路再次发生90度改变；
31、所述机器视觉组件，位于所述可见光再次发生所述90度改变后光路中，用于接收所述可见光进行视觉监控。
32、本技术技术方案提供的光学模组及双光斑激光系统，其光学模组包括透镜组件，透镜组件包括在第一方向依次设置的第一透镜和第二透镜，第一透镜和第二透镜在第二方向错位设置，且第一透镜和第二透镜之间互为互补透镜。当透镜组件部分位于第一光束的光路中，可使得第一光束穿过透镜组件后形成在第二方向偏离第二光束的第三光束。这样一来，本技术的双光斑激光系统，通过其光学模组的设置，使得其准直透镜出来的准直激光束，其组成由原来在第二方向互为一体的第一光束和第二光束转变为在第二方向相互独立的第三光束和第二光束，进而使得其聚焦透镜对该准直激光束进行聚焦处理时，可分别对第三光束和第二光束进行聚焦处理，以对应形成第一激光光斑和第二激光光斑。如此，本技术的光学模组，可使得本技术的双光斑激光系统最终形成可分别对诸如芯片等电子元器件两端的焊点进行同时加热处理的第一激光光斑和第二激光光斑，且第一激光光斑和第二激光光斑只覆盖在这些电子元器件对应端的焊点上，而不会覆盖到这些电子元器件的表面，从而避免激光辐射对这些电子元器件造成损伤，造成这些电子元器件返修或焊接不良的问题。
1.一种光学模组，其特征在于，应用于双光斑激光系统中，所述双光斑激光系统包括准直透镜和聚焦透镜，所述准直透镜用于对初始激光束进行准直处理形成沿第一方向照射的准直激光束，所述聚焦透镜用于对所述准直激光束进行聚焦处理形成相应的激光光斑，所述准直激光束沿垂直于所述第一方向的第二方向划分为第一光束和第二光束；
2.如权利要求1所述的光学模组，其特征在于，所述第一透镜为第一柱面透镜，所述第二透镜为第二柱面透镜；
3.如权利要求2所述的光学模组，其特征在于，所述第二表面为凸面结构，所述第四表面为与所述凸面结构相适配的凹面结构；或，
4.如权利要求2或3所述的光学模组，其特征在于，所述光学模组还包括用于驱使所述透镜组件在所述第二方向来回移动的第一调节机构。
5.如权利要求2或3所述的光学模组，其特征在于，所述光学模组还包括用于单独驱使所述第一透镜在所述第二方向与所述第二透镜发生相对移动或单独驱使所述第二透镜在所述第二方向与所述第一透镜发生相对移动的第二调节机构。
6.一种双光斑激光系统，其特征在于，包括激光光源组件、准直透镜、聚焦透镜以及如权利要求1-5任一项所述的光学模组，其中，
7.如权利要求6所述的双光斑激光系统，其特征在于，还包括第一反射镜和第一二向色镜，其中，
8.如权利要求7所述的双光斑激光系统，其特征在于，还包括红外测温组件或机器视觉组件，其中，
9.如权利要求7所述的双光斑激光系统，其特征在于，还包括第二二向色镜、红外测温组件以及机器视觉组件，其中，
10.如权利要求9所述的双光斑激光系统，其特征在于，还包括第二反射镜，其中，
