本申请涉及自动控制，尤其涉及一种传感器控制方法、装置、光学检测设备及存储介质。
背景技术：
1、印刷电路板(printed circuit board，pcb)，又称为印制电路板，印制线路板，为电子元件生产过程中的重要电子部件，为电子元件的支撑体，是电子元件线路连接的提供者，在电子工业中pcb板卡已占据了绝对的统治地位。为保障pcb板卡的生产质量，常通过自动光学检测设备(automatic optic inspection，aoi)对pcb板卡生产过程中的缺陷进行检测。aoi设备常设置于生产线的末段或中后段，通过对生产出的pcb板卡进行拍照取样和图像分析，确定生产出的pcb板卡是否存在缺陷。
2、现有aoi设备在对生产线上的pcb板卡进行检测时，需使得设置于aoi设备中的传感器一直处于工作状态，以时刻检测设备轨道中是否存在需要被检测的pcb板卡，进而在检测到pcb板卡存在情况下通过移至pcb板卡上方的成像设备对其进行拍照取样。
3、然而，由于传感器在正常工作情况下，会对外发出有颜色的光斑，该光斑会照射到pcb板卡上，使得拍照取样的pcb板卡图像中含有光斑信息，进而影响针对拍照取样图像分析的准确度。
技术实现思路
1、本申请提供了一种传感器控制方法、装置、光学检测设备及存储介质，通过对传感器通断状态进行控制，使得对待检测物进行拍照时，待检测物上不会存在影响拍摄效果的光斑等异常现象，提升了拍照取样的准确性，进而提高了aoi设备针对待检测物异常识别的准确度。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种传感器控制方法，应用于光学检测设备中，光学检测设备用于对待检测物的外观缺陷进行检测，光学检测设备包括：通过电信号连接的控制器、至少一个传感器及成像系统，其中，成像系统用于获取待检测物的图像信息，该方法包括：
3、获取待检测物的位置信息以及成像系统的状态信息；状态信息包括成像系统的位置状态信息和工作状态信息；
4、在根据位置信息确定待检测物到达目标检测区域时，根据位置状态信息和工作状态信息生成传感器控制指令；
5、将传感器控制指令下发至与目标检测区域对应的目标传感器，以使目标传感器根据传感器控制指令调整通断状态，并使得目标传感器在成像系统获取待检测物的图像信息时断开。
6、第二方面，本申请实施例还提供了一种传感器控制装置，应用于光学检测设备中，光学检测设备用于对待检测物的外观缺陷进行检测，光学检测设备包括：通过电信号连接的控制器、至少一个传感器及成像系统，其中，成像系统用于获取待检测物的图像信息，装置包括：
7、状态信息获取模块，用于获取待检测物的位置信息以及成像系统的状态信息；状态信息包括：成像系统的位置状态信息和工作状态信息；
8、控制指令生成模块，用于在根据位置信息确定待检测物到达目标检测区域时，根据位置状态信息和工作状态信息生成传感器控制指令；
9、指令下发模块，用于将传感器控制指令下发至与目标检测区域对应的目标传感器，以使目标传感器根据传感器控制指令调整通断状态，并使得目标传感器在成像系统获取待检测物的图像信息时断开。
10、第三方面，本申请实施例还提供了一种光学检测设备，包括：控制器、成像系统和至少一个传感器；控制器用于执行如上述任一实施例的传感器控制方法；
11、控制器分别与成像系统，以及各传感器通过电信号连接；
12、控制器，用于在接收到各传感器的传感器反馈信息时，根据各传感器反馈信息确定待检测物的位置信息，在根据位置信息确定待检测物到达目标检测区域时，向成像系统发送根据目标检测区域生成的图像采集控制指令；
13、成像系统，用于根据接收到的图像采集控制指令移动至目标检测区域，并向控制器反馈状态信息；状态信息包括成像系统的位置状态信息和工作状态信息；
14、控制器，用于根据获取的位置状态信息和工作状态信息生成传感器控制指令，并将传感器控制指令发送至与目标检测区域对应的目标传感器；
15、传感器，用于在作为目标传感器时，根据接收到的传感器控制指令调整通断状态。
16、第四方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机指令，计算机指令用于使处理器执行时实现本申请任一实施例的传感器控制方法。
17、本申请实施例提供的一种传感器控制方法、装置、光学检测设备及存储介质，在aoi设备在对生产线传输轨道上的待检测物进行检测时，基于获取的待检测物在传输轨道中的位置信息，以及成像系统的位置状态信息和工作状态信息，在明确需要成像系统进行图像信息获取的待检测物所在目标检测区域的同时，确定成像系统针对目标检测区域进行图像信息的获取状态，基于上述信息生成用于控制目标检测区域对应目标传感器通断状态的传感器控制指令，使得依据传感器控制指令对目标传感器进行控制时，目标传感器在成像系统对目标检测区域进行图像采集时工作，解决了现有aoi设备检测过程中传感器处于长通状态，由传感器工作产生的光斑投射于待检测物上，影响成像系统对待检测物拍摄效果的问题，使得传感器可根据成像系统是否需要对待检测物进行拍照取样进行通断状态控制，使得拍照过程中待检测物上不存在影响后续检测的光斑，提升了拍照取样的准确性和传感器控制的灵活性，进而提高了aoi设备针对待检测物异常识别的准确度。
18、应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本申请的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本申请的范围。本申请的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
1.一种传感器控制方法，其特征在于，应用于光学检测设备中，所述光学检测设备用于对待检测物的外观缺陷进行检测，所述光学检测设备包括：通过电信号连接的控制器、至少一个传感器及成像系统，其中，所述成像系统用于获取待检测物的图像信息，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述位置状态信息和所述工作状态信息生成传感器控制指令，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述传感器工作状态信息生成传感器控制指令，包括：
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述以使所述目标传感器根据所述传感器控制指令调整通断状态，包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述光学检测设备还包括电路控制板，所述将所述传感器控制指令下发至与所述目标检测区域对应的目标传感器，以使所述目标传感器根据所述传感器控制指令调整通断状态，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取所述待检测物的位置信息，包括：
7.一种传感器控制装置，其特征在于，应用于光学检测设备中，所述光学检测设备用于对待检测物的外观缺陷进行检测，所述光学检测设备包括：通过电信号连接的控制器、至少一个传感器及成像系统，其中，所述成像系统用于获取待检测物的图像信息，所述装置包括：
8.一种光学检测设备，其特征在于，包括：控制器、成像系统和至少一个传感器；所述控制器用于执行如权利要求1-6任一所述的传感器控制方法；
9.根据权利要求8所述的光学检测设备，其特征在于，所述光学检测设备还包括：电路控制板；
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的传感器控制方法。
