本发明涉及背光产品检测，具体是一种用于mini-led玻璃基板线路的检测设备及方法。
背景技术：
1、mini-led背光产品主要面向tv和显示器，因而产品尺寸较大，分辨率高，测点多，以75inch产品为例大约有十万测点，而且待检测线路全部为floating的方式，且不规则分布。
2、由于尺寸较大且测点多，单个治具无法覆盖整张产品，单个较小的治具则会导致测试时间较长，测试效率低下。
技术实现思路
1、本发明的目的在于提供一种用于mini-led玻璃基板线路的检测设备及方法，以解决上述背景技术中提出的问题。
2、为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
3、一种用于mini-led玻璃基板线路的检测设备，包括机架，机架上端设有工作台，工作台上设有基板放置架、测试部；
4、测试部包括与工作台滑动连接的第一测试架、第二测试架，第一测试架、第二测试架上设置至少一组测试头组件，测试头组件信号连接有测试控制器，测试头组件包括与第一测试架滑动连接的第二测试头、与第二测试架滑动连接的第一测试头。
5、作为本发明进一步的方案：机架上端设有防震台，工作台位于防震台上端，基板放置架包括基板定位机构、基板固定机构。
6、作为本发明进一步的方案：工作台上端设有两条第一导轨、两条第二导轨，第一导轨、第二导轨平行布置，第一测试架通过第一导轨与工作台滑动连接，第二测试架通过第二导轨与工作台滑动连接，第一测试架、第二测试架上均设有用于带动第一测试架、第二测试架滑动的驱动电机。
7、作为本发明进一步的方案：测试头组件设有两组，两侧测试头组件分别包括位于第一测试架上的第二测试头和第四测试头、位于第二测试架上的第一测试头、第三测试头。
8、作为本发明进一步的方案：第一测试架上设有第四导轨，第二测试头和第四测试头通过第四导轨与第一测试架滑动连接，第二测试架上设有第三导轨，第一测试头、第三测试头通过第三导轨与第二测试架滑动连接。
9、作为本发明进一步的方案：第二测试头、第四测试头为发送侧测试头，第一测试头、第三测试头为接收侧测试头，第二测试头、第四测试头、第一测试头、第三测试头均包括运动平台、相机，运动平台下端设有用于测试的探针治具。
10、一种用于mini-led玻璃基板线路的检测方法，包括以下步骤：
11、s1、根据待检测的基板的参数选择测试头，并将测试头安装到测试设备上；
12、s2、将待测试的基板放置到基板放置架上，并通过基板放置架对基板进行定位和固定；
13、s3、启动测试头组件，通过测试头组件对基板进行测试；
14、s4、测试头组件将测试的数据传输到测试控制器内，通过测试控制器对测试的数据进行分析，并输出测试结果。
15、作为本发明进一步的方案：基板包括基板线缆，基板线缆的两端分别为第一测试点、第二测试点，基板的两端设有特征点。
16、作为本发明进一步的方案：s3中测试头组件的测试包括以下步骤：
17、s3.1、通过测试架将测试头组件移动到基板的上方；
18、s3.2、测试头上的相机对基板进行图像获取并识别基板上的特征点，进而通过特征点对基板上的待测试的点进行定位；
19、s3.3、通过测试头上的运动平台带动探针治具进行位置调整，是的探针治具的位置与基板上的测试点的位置精准对齐；
20、s3.4、测试头包括发射侧测试头、接收测试头，发射侧探头、接收侧探头分别与基板上的对应测试点接触，并发出测试信号，同时检测是否接收到测试信号，若接收到测试信号，则该线路为接通线路，若未收到测试信号，则该线路为断开线路。
21、作为本发明进一步的方案：基板上包括多个检测区域，基板上的检测区域成矩阵结构布置，测试组件首先依次对某一列的检测区域进行检测，检测过程中通过测试架的移动调整测试头组件的位置，当该列检测区域检测完成后，测试架上的测试头通过轨道移动一个检测区域的距离到达一列检测区域的，然后再次通过测试架的移动对该列检测区域进行检测，重复上述过程即可对基板上的所有检测区域进行依次检测。
22、与现有技术相比，本发明的有益效果是：
23、1、本申请每个测试头组件均包括一个发射测试头和一个接收测试头，因而，检测过程中发射侧和接收侧可以单独移动，增加了测试头的灵活性，可以应对任何尺寸的玻璃基板；
24、2、通过设置多组测试头组件，多组测试头可以同时对多个测试区域进行快速测试，即可以进行多点测试，整体提高了测试速度；
25、3、本申请的测试头上设有运动平台和相机，可以通过相机对基板进行图像获取并识别测试点的位置，然后通过运动平台对探头治具进行位置调整，进一步提高了测试的精度。
1.一种用于mini-led玻璃基板线路的检测设备，包括机架(1)，其特征在于，机架(1)上端设有工作台(2)，工作台(2)上设有基板放置架(4)、测试部；
2.根据权利要求1的一种用于mini-led玻璃基板线路的检测设备，其特征在于，机架(1)上端设有防震台(3)，工作台(2)位于防震台(3)上端，基板放置架(4)包括基板定位机构、基板固定机构。
3.根据权利要求1的一种用于mini-led玻璃基板线路的检测设备，其特征在于，工作台(2)上端设有两条第一导轨(12)、两条第二导轨(13)，第一导轨(12)、第二导轨(13)平行布置，第一测试架(6)通过第一导轨(12)与工作台(2)滑动连接，第二测试架(7)通过第二导轨(13)与工作台(2)滑动连接，第一测试架(6)、第二测试架(7)上均设有用于带动第一测试架(6)、第二测试架(7)滑动的驱动电机(14)。
4.根据权利要求1的一种用于mini-led玻璃基板线路的检测设备，其特征在于，测试头组件设有两组，两侧测试头组件分别包括位于第一测试架(6)上的第二测试头(9)和第四测试头(11)、位于第二测试架(7)上的第一测试头(8)、第三测试头(10)。
5.根据权利要求4的一种用于mini-led玻璃基板线路的检测设备，其特征在于，第一测试架(6)上设有第四导轨(16)，第二测试头(9)和第四测试头(11)通过第四导轨(16)与第一测试架(6)滑动连接，第二测试架(7)上设有第三导轨(15)，第一测试头(8)、第三测试头(10)通过第三导轨(15)与第二测试架(7)滑动连接。
6.根据权利要求4的一种用于mini-led玻璃基板线路的检测设备，其特征在于，第二测试头(9)、第四测试头(11)为发送侧测试头，第一测试头(8)、第三测试头(10)为接收侧测试头，第二测试头(9)、第四测试头(11)、第一测试头(8)、第三测试头(10)均包括运动平台(17)、相机(18)，运动平台(17)下端设有用于测试的探针治具(19)。
7.使用权利要求1-6任意一项的一种用于mini-led玻璃基板线路的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
8.根据权利要求1的一种用于mini-led玻璃基板线路的检测方法，其特征在于，基板(20)包括基板线缆(21)，基板线缆(21)的两端分别为第一测试点(22)、第二测试点(23)，基板(20)的两端设有特征点(24)。
9.根据权利要求8的一种用于mini-led玻璃基板线路的检测方法，其特征在于，s3中测试头组件的测试包括以下步骤：
10.根据权利要求1的一种用于mini-led玻璃基板线路的检测方法，其特征在于，基板(20)上包括多个检测区域，基板(20)上的检测区域成矩阵结构布置，测试组件首先依次对某一列的检测区域进行检测，检测过程中通过测试架的移动调整测试头组件的位置，当该列检测区域检测完成后，测试架上的测试头通过轨道移动一个检测区域的距离到达一列检测区域的，然后再次通过测试架的移动对该列检测区域进行检测，重复上述过程即可对基板上的所有检测区域进行依次检测。
