一种EDT轧辊中心高测量装置的制作方法

专利检索2026-08-20  21


本技术涉及轧辊表面处理制造领域,具体涉及一种edt轧辊中心高测量装置。


背景技术:

1、在轧辊表面处理行业中,由于需要使用轧辊生产的产品规格不同,轧辊的尺寸等各项参数也不尽相同。而轧辊进行表面处理时,一般需要通过调节托瓦使轧辊的相对中心高在一个区间内,并且由于生产需求,其测量精度基准单位至少为0.005mm,因此需要高精度测量装置来配合调节轧辊中心高。

2、以往的测量轧辊中心高的方法一般为下列两种:依靠机床的基准装置进行测量;使用普通高度尺直接进行测量。

3、依靠机床的基准装置进行测量有以下不足:机床本身基准装置情况对测量结果影响非常大。如果基准装置出现诸如老化或受外力而变形,即使变形为0.01mm,测量结果也会受到影响,且机床基准装置一般较难更换并校对。

4、使用普通高度尺进行测量有以下不足:由于轧辊头部一般都较长,而普通高度尺测量时往往需要量爪接触到头部之后的辊颈处,所以普通高度尺的量爪很难触碰到辊颈处,导致测量困难。


技术实现思路

1、为了克服现有技术的上述缺陷,本实用新型的目的在于提供一种edt轧辊中心高测量装置。

2、为了实现本实用新型的目的,所采用的技术方案是:

3、一种edt轧辊中心高测量装置,包括:

4、一铸铁结构,所述铸铁结构包括横臂和与所述横臂相连的竖支座,所述竖支座的末端通过磁性吸附装置连接有铸铁方箱;

5、所述铸铁方箱底部通过支撑座支撑;

6、横臂上贯穿设置有测量机构;

7、所述测量机构的上量爪与所述横臂之间通过夹紧机构固定;

8、所述测量机构的下量爪可以上下自由活动,用于测量托瓦上的轧辊的轧颈部数值后连接数显机构显示。

9、在本实用新型的一个优选实施例中,所述铸铁方箱底部通过支撑座支撑设置在导轨上。

10、在本实用新型的一个优选实施例中,所述托瓦底部设置在所述导轨上。

11、在本实用新型的一个优选实施例中,所述横臂上开设有纵向孔,供所述夹紧机构进线夹紧。

12、在本实用新型的一个优选实施例中,所述导轨为一组设置在所述托瓦底部和支撑座底部的导轨。

13、在本实用新型的一个优选实施例中,所述支撑座为标准尺寸铸件工字钢。

14、本实用新型的有益效果在于:

15、本实用新型不依赖机床本身基准装置,可以仅通过标准尺寸方箱进行校准测量。

16、该种方箱的表面经过粗糙度处理,保证其粗糙度ra<1.6μm,平面度<17μm,尺寸精度基准误差<0.005mm,工作面不得有锈迹、划痕、裂纹、材质疏松等缺陷,以保证测量装置放置及测量结果不受影响;

17、本实用新型不受轧辊不同规格参数形状的影响,可以简单快捷地测量轧辊轧颈部数据。



技术特征:

1.一种edt轧辊中心高测量装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的一种edt轧辊中心高测量装置,其特征在于,所述铸铁方箱底部通过支撑座支撑设置在导轨上。

3.如权利要求2所述的一种edt轧辊中心高测量装置,其特征在于,所述托瓦底部设置在所述导轨上。

4.如权利要求1所述的一种edt轧辊中心高测量装置,其特征在于,所述横臂上开设有纵向孔,供所述夹紧机构进行夹紧。

5.如权利要求2所述的一种edt轧辊中心高测量装置,其特征在于,所述导轨为一组设置在所述托瓦底部和支撑座底部的导轨。

6.如权利要求1所述的一种edt轧辊中心高测量装置,其特征在于,所述支撑座为标准尺寸铸件工字钢。


技术总结
本技术公开了一种EDT轧辊中心高测量装置,其特征在于,包括:一铸铁结构,所述铸铁结构包括横臂和与所述横臂相连的竖支座,所述竖支座的末端通过磁性吸附装置连接有铸铁方箱;所述铸铁方箱底部通过支撑座支撑;横臂上贯穿设置有测量机构;所述测量机构的上量爪与所述横臂之间通过夹紧机构固定;所述测量机构的下量爪可以上下自由活动,用于测量托瓦上的轧辊的轧颈部数值后连接数显机构显示。本技术不受轧辊不同规格参数形状的影响,可以简单快捷地测量轧辊轧颈部数据。

技术研发人员:王树霖
受保护的技术使用者:上海科德轧辊表面处理有限公司
技术研发日:20231116
技术公布日:2024/5/29
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