一种外观视觉检测装置的制作方法

专利检索2026-07-20  9


本技术芯片检测涉及,具体为一种外观视觉检测装置。


背景技术:

1、随着电子行业的迅速发展,芯片的需求量越来越大,在芯片制造过程中,不同工艺流程环节都可能引入外观缺陷,如衬底基材存在杂质、湿洗杂质去除不完全、镀膜不完全,化学气相淀积和物理气相淀积不均匀,离子注入散落杂质、氧化异常、热处理温度不均匀导致裂纹等。

2、目前大部分生产线上采用传统的人工目测检测,发现缺陷后,手动剔除不合格产品,现有的外观视觉检测装置检测台位置固定,不便于对芯片的外观从各个角度的观察和检测,存在检测不充分的情况,影响检测结果。

3、于是,有鉴于此,针对现有的结构及缺失予以研究改良,提出一种外观视觉检测装置。


技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种外观视觉检测装置,以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种外观视觉检测装置,包括底座和升降台,所述底座的左侧外壁固定连接有待检仓,且底座的右侧外壁固定连接有合格仓,所述底座的中央内部设置有二维码扫描仪,且底座的顶部中央设置有玻璃板,所述升降台设置于底座的后侧外壁,且升降台的正面外壁开设有滑槽,所述滑槽的顶部端部连接有限位块,且限位块设置于升降台的顶部外壁。

3、进一步的,所述限位块的内部设置有转动旋钮,且转动旋钮的竖直中轴线与滑槽的竖直中轴线相一致。

4、进一步的,所述滑槽的外壁滑动连接有滑块,且滑块的正面外壁设置有旋转台。

5、进一步的,所述旋转台的前端至后端的长度大于操作台的半径,且旋转台呈长方体状。

6、进一步的,所述滑块的顶部外壁连接有收缩带,且收缩带的顶部端部连接有转动旋钮。

7、进一步的,所述旋转台的内部滑动连接有旋转拨片,且旋转拨片的顶部外壁固定有转动轴。

8、进一步的,所述转动轴的顶部端部连接有操作台,且操作台呈圆盘状。

9、进一步的,所述操作台设置于底座的正上方,且底座的底部外壁设置有稳定架脚。

10、本实用新型提供了一种外观视觉检测装置,具备以下有益效果:

11、1、该外观视觉检测装置,收缩带绕转动旋钮的外壁一圈一圈环绕,滑块能够随着收缩带的的底部端部位置的变化而在滑槽的外壁上下滑动,以此实现调整操作台的上下高度,便于对芯片的检查调整在在适当的上下位置。

12、2、该外观视觉检测装置,旋转拨片的转动带动操作台转动,操作台的顶部为圆形,将待检测的芯片置于操作台的顶部外壁的适当位置,通过操作台的转动调整芯片的在同一水平面上的不同位置,便于对芯片的外观从不同角度进行检查。



技术特征:

1.一种外观视觉检测装置,包括底座(1)和升降台(6),其特征在于:所述底座(1)的左侧外壁固定连接有待检仓(2),且底座(1)的右侧外壁固定连接有合格仓(3),所述底座(1)的中央内部设置有二维码扫描仪(4),且底座(1)的顶部中央设置有玻璃板(5),所述升降台(6)设置于底座(1)的后侧外壁,且升降台(6)的正面外壁开设有滑槽(7),所述滑槽(7)的顶部端部连接有限位块(8),且限位块(8)设置于升降台(6)的顶部外壁。

2.根据权利要求1所述的一种外观视觉检测装置,其特征在于:所述限位块(8)的内部设置有转动旋钮(9),且转动旋钮(9)的竖直中轴线与滑槽(7)的竖直中轴线相一致。

3.根据权利要求1所述的一种外观视觉检测装置,其特征在于:所述滑槽(7)的外壁滑动连接有滑块(10),且滑块(10)的正面外壁设置有旋转台(11)。

4.根据权利要求3所述的一种外观视觉检测装置,其特征在于:所述旋转台(11)的前端至后端的长度大于操作台(15)的半径,且旋转台(11)呈长方体状。

5.根据权利要求3所述的一种外观视觉检测装置,其特征在于:所述滑块(10)的顶部外壁连接有收缩带(12),且收缩带(12)的顶部端部连接有转动旋钮(9)。

6.根据权利要求4所述的一种外观视觉检测装置,其特征在于:所述旋转台(11)的内部滑动连接有旋转拨片(13),且旋转拨片(13)的顶部外壁固定有转动轴(14)。

7.根据权利要求6所述的一种外观视觉检测装置,其特征在于:所述转动轴(14)的顶部端部连接有操作台(15),且操作台(15)呈圆盘状。

8.根据权利要求7所述的一种外观视觉检测装置,其特征在于:所述操作台(15)设置于底座(1)的正上方,且底座(1)的底部外壁设置有稳定架脚(16)。


技术总结
本技术公开了一种外观视觉检测装置,涉及芯片检测技术领域,包括底座和升降台,所述底座的左侧外壁固定连接有待检仓,所述底座的中央内部设置有二维码扫描仪,所述升降台设置于底座的后侧外壁,所述滑槽的顶部端部连接有限位块,且限位块设置于升降台的顶部外壁。该外观视觉检测装置,滑块能够随着收缩带的的底部端部位置的变化而在滑槽的外壁上下滑动,以此实现调整操作台的上下高度,便于对芯片的检查调整在在适当的上下位置,旋转拨片的转动带动操作台转动,将待检测的芯片置于操作台的顶部外壁的适当位置,通过操作台的转动调整芯片的在同一水平面上的不同位置,便于对芯片的外观从不同角度进行检查。

技术研发人员:李杰
受保护的技术使用者:深圳市芯源科创有限公司
技术研发日:20230914
技术公布日:2024/5/29
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