本技术涉及芯片，更具体地说，涉及一种芯片测试方法、系统、设备及计算机可读存储介质。
背景技术：
1、当前，在芯片的应用过程中，为了保证芯片性能，可以对芯片进行测试得到测试结果，并根据测试结果对芯片进行调试等。比如可以将测试数据存放在控制块(controlblock，cb)中，芯片从控制块中读取测试数据进行处理，再对芯片的输出进行采集并分析得到测试结果。
2、然而，在应用控制块对芯片进行测试的过程中，存在测试不准确的情况，影响芯片的应用。
3、综上所述，如何准确对芯片进行测试是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
1、本技术的目的是提供一种芯片测试方法，其能在一定程度上解决如何准确对芯片进行测试的技术问题。本技术还提供了一种芯片测试系统、电子设备及计算机可读存储介质。
2、为了实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
3、一种芯片测试方法，包括：
4、将测试数据的相应信息写入控制块；
5、将所述控制块传输至对目标芯片进行模拟的参考模型；
6、获取所述参考模型通过所述控制块对所述测试数据进行处理后得到的第一处理结果；
7、记录所述测试数据及所述第一处理结果；
8、将所述控制块的地址写入所述目标芯片；
9、采集所述目标芯片通过所述控制块读取的目标数据并记录；
10、获取所述目标芯片对所述目标数据进行处理后得到的第二处理结果并记录；
11、对所述测试数据、所述目标数据、所述第一处理结果和所述第二处理结果进行分析，得到所述目标芯片的测试结果。
12、在一示例性实施例中，所述采集所述目标芯片通过所述控制块读取的目标数据并记录之后，所述获取所述目标芯片对所述目标数据进行处理后得到的第二处理结果并记录之前，还包括：
13、对所述目标芯片进行数据完整性检查，并根据检查结果进行处理。
14、在一示例性实施例中，所述对所述目标芯片进行数据完整性检查，并根据检查结果进行处理，包括：
15、对所述目标芯片的读写信息进行采集；
16、根据所述读写信息分析所述目标芯片是否完成读写操作，得到分析结果；
17、判断所述目标芯片是否输出表征完成处理的第一标记；
18、若所述目标芯片未输出所述第一标记，则返回执行所述对所述目标芯片的读写信息进行采集的步骤；
19、若所述目标芯片输出所述第一标记，则判断所述目标芯片是否输出表征写完下一控制块的地址的第二标记；
20、若所述目标芯片未输出所述第二标记，则输出表征所述目标芯片未写所述下一控制块的地址的第一报错信息；
21、若所述目标芯片输出所述第二标记，则基于所述分析结果判断所述目标芯片的读写操作是否完成；
22、若基于所述分析结果判定所述目标芯片未完成读写操作，则输出表征所述目标芯片在完成读写操作前完成处理的第二报错信息；
23、若基于所述分析结果判定所述目标芯片完成了读写操作，则结束对所述目标芯片的测试。
24、在一示例性实施例中，还包括：
25、采集所述目标芯片的结束信息；
26、解析所述结束信息的类型；
27、若所述结束信息的类型为表征完成处理，则检查所述结束信息的正确性，若正确，则判定所述目标芯片输出所述第一标记；
28、若所述结束信息的类型为表征写下一控制块的地址，则检查所述结束信息的正确性，若正确，则判定所述目标芯片输出所述第二标记。
29、在一示例性实施例中，所述将测试数据的相应信息写入控制块之前，还包括：
30、在序列中对所述测试数据和所述控制块进行随机及初始化。
31、在一示例性实施例中，所述对所述测试数据、所述目标数据、所述第一处理结果和所述第二处理结果进行分析，得到所述目标芯片的测试结果，包括：
32、判断所述测试数据和所述目标数据是否一致；
33、若所述测试数据和所述目标数据一致，则判断所述第一处理结果和所述第二处理结果是否一致；
34、若所述第一处理结果和所述第二处理结果一致，则生成表征所述目标芯片正常的所述测试结果；
35、若所述第一处理结果和所述第二处理结果不一致，则生成表征所述目标芯片处理异常的所述测试结果；
36、若所述测试数据和所述目标数据不一致，则生成表征所述目标芯片读取异常的所述测试结果。
37、在一示例性实施例中，所述生成表征所述目标芯片读取异常的所述测试结果之后，还包括：
38、基于所述目标数据对所述目标芯片进行bug定位，得到所述目标芯片读取异常的bug原因。
39、一种芯片测试系统，包括：
40、第一写入模块，用于将测试数据的相应信息写入控制块；
41、第一传输模块，用于将所述控制块传输至对目标芯片进行模拟的参考模型；
42、第一获取模块，用于获取所述参考模型通过所述控制块对所述测试数据进行处理后得到的第一处理结果；
43、第一记录模块，用于记录所述测试数据及所述第一处理结果；
44、第二写入模块，用于将所述控制块的地址写入所述目标芯片；
45、第一采集模块，用于采集所述目标芯片通过所述控制块读取的目标数据并记录；
46、第二获取模块，用于获取所述目标芯片对所述目标数据进行处理后得到的第二处理结果并记录；
47、第一分析模块，用于对所述测试数据、所述目标数据、所述第一处理结果和所述第二处理结果进行分析，得到所述目标芯片的测试结果。
48、一种电子设备，包括：
49、存储器，用于存储计算机程序；
50、处理器，用于执行所述计算机程序时实现如上任一所述芯片测试方法的步骤。
51、一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上任一所述芯片测试方法的步骤。
52、本技术提供的一种芯片测试方法，将测试数据的相应信息写入控制块；将控制块传输至对目标芯片进行模拟的参考模型；获取参考模型通过控制块对测试数据进行处理后得到的第一处理结果；记录测试数据及第一处理结果；将控制块的地址写入目标芯片；采集目标芯片通过控制块读取的目标数据并记录；获取目标芯片对目标数据进行处理后得到的第二处理结果并记录；对测试数据、目标数据、第一处理结果和第二处理结果进行分析，得到目标芯片的测试结果。本技术中，对参考模型处理的测试数据及得到的第一处理结果进行了记录，且对目标芯片处理的目标数据及得到的第二处理结果进行了记录，由于测试数据和目标数据反映了芯片的数据读取能力，第一处理结果和第二处理结果反映了芯片的数据处理能力，所以后续通过对记录的测试数据、目标数据、第一处理结果和第二处理结果进行分析的话，实现了对芯片的数据读取能力和数据处理能力进行了分析，与仅对芯片的数据处理能力相比，本技术的芯片测试更加全面，准确性更好。本技术提供的一种芯片测试系统、电子设备及计算机可读存储介质也解决了相应技术问题。
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集所述目标芯片通过所述控制块读取的目标数据并记录之后，所述获取所述目标芯片对所述目标数据进行处理后得到的第二处理结果并记录之前，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述目标芯片进行数据完整性检查，并根据检查结果进行处理，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将测试数据的相应信息写入控制块之前，还包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述测试数据、所述目标数据、所述第一处理结果和所述第二处理结果进行分析，得到所述目标芯片的测试结果，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述生成表征所述目标芯片读取异常的所述测试结果之后，还包括：
8.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述芯片测试方法的步骤。
