激光测宽方法及装置与流程

专利检索2026-06-21  1


本申请属于激光测距,特别是涉及一种激光测宽方法及装置。


背景技术:

1、随着现代制造业的发展,激光测量技术得到广泛关注与应用。然而,目前利用激光进行宽度测量时存在精度不足的缺陷。

2、因此,如何设计出一种准确、可靠的激光测宽方法成为目前亟待解决的问题。


技术实现思路

1、本申请的目的在于提供一种激光测宽方法及装置,能够满足准确测量物体幅宽的需要。

2、第一方面,本申请实施例提供了一种激光测宽方法,该方法包括:

3、监测待测物体在传送装置上的位置以及环境条件;

4、当监测到待测物体到达测量工位时,利用至少一个激光测距仪对待测物体进行多次测量,得到多个距离信号,测量工位为传送装置上的固定点位;

5、当监测到环境条件的变化量超过设定阈值时,更新预先构建的测宽模型;

6、利用更新后的测宽模型对多个距离信号进行处理,得到待测物体的幅宽值。

7、在第一方面的一种可能的实现方式中,当监测到环境条件的变化量超过设定阈值时,更新预先构建的测宽模型,方法包括:

8、获取与环境条件相对应的样本数据集;

9、根据样本数据集,利用最小二乘法重新拟合预先构建的测宽模型,得到环境条件对应的模型参数;

10、根据环境条件对应的模型参数确定更新后的测宽模型。

11、在第一方面的一种可能的实现方式中,环境条件包括温度、湿度、尘埃浓度或物体倾斜度中的至少一项。

12、在第一方面的一种可能的实现方式中,当至少一个激光测距仪为一个时,待测物体的幅宽值为多个距离信号对应预测幅宽值的平均值。

13、在第一方面的一种可能的实现方式中,当监测到待测物体到达测量工位时,利用至少一个激光测距仪对待测物体进行多次测量,得到多个距离信号,方法包括:

14、利用至少一个激光测距仪多次向测量工位发射斜向的激光射线,得到至少一个激光测距仪输出的多个距离信号。

15、在第一方面的一种可能的实现方式中,当至少一个激光测距仪为两个,且设置于测量工位两侧时,待测物体的幅宽值为多组距离信号对应预测幅宽值的平均值,每组距离信号包括两个激光测距仪同一次输出的相对应的两个距离信号。

16、在第一方面的一种可能的实现方式中,上述模型参数包括每个激光测距仪发出的激光射线与水平投影面的夹角的cos值。

17、第二方面,本申请实施例提供了一种激光测宽装置,该装置包括:

18、监测模块,用于监测待测物体在传送装置上的位置以及环境条件;

19、测量模块,用于当监测到待测物体到达测量工位时,利用至少一个激光测距仪对待测物体进行多次测量,得到多个距离信号,测量工位为传送链上的固定点位;

20、更新模块,用于当监测到环境条件的变化量超过设定阈值时,更新预先构建的测宽模型;

21、处理模块,用于利用更新后的测宽模型对多个距离信号进行处理,得到待测物体的幅宽值。

22、第三方面,本申请实施例提供了一种激光测宽系统,该系统包括,包括传送装置和激光测宽装置,传送装置用于传送待测物体,激光测宽装置用于执行如上第一方面中任一种实现方式的方法。

23、第四方面,本申请实施例提供了一种计算机设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,当处理器执行所述计算机程序时使得计算机设备实现如上述第一方面和第二方面中任一实现方式。

24、第四方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质存储有计算机程序,当计算机程序被计算机设备执行时实现如上述第一方面和第二方面中任一实现方式。

25、第五方面,本申请实施例提供了一种计算机程序产品,当计算机程序产品在计算机设备上运行时,使得计算机设备执行上述第一方面中任一项所述的实现方式。

26、本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是:

27、本申请方案,在利用激光测量物体幅宽的过程中,通过对环境条件进行监测,实现了在环境条件发生变化时及时更新测宽模型,并利用更新后的、适应当前环境的测宽模型对物体幅宽进行准确测量,可以有效减少环境因素对测量结果的影响,提高测量的准确性和可靠性。此外,及时根据环境条件调整测宽模型,还可以使系统能够适应不同的环境条件,从而提高测量的稳定性和自适应性。



技术特征:

1.一种激光测宽方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述当监测到所述环境条件的变化量超过设定阈值时,更新预先构建的测宽模型,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述环境条件包括温度、湿度、尘埃浓度或物体倾斜度中的至少一项。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述当监测到所述待测物体到达测量工位时,利用至少一个激光测距仪对所述待测物体进行多次测量,得到多个距离信号,包括:

5.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,当所述至少一个激光测距仪为一个时,所述待测物体的幅宽值为所述多个距离信号对应预测幅宽值的平均值。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,当所述至少一个激光测距仪为两个,且设置于所述测量工位两侧时,所述待测物体的幅宽值为多组距离信号对应的多个预测幅宽值的平均值,每组距离信号包括两个激光测距仪同一次输出的相对应的两个距离信号。

7.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述模型参数包括每个激光测距仪发出的激光射线与水平投影面的夹角的cos值。

8.一种激光测宽装置,其特征在于,包括:

9.一种计算机设备,其特征在于,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时使得所述计算机设备实现如权利要求1至7任一项所述的方法。

10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被计算机设备执行时实现如权利要求1至7任一项所述的方法。


技术总结
本申请公开了一种激光测宽方法及装置,属于激光测距技术领域。该方法包括:监测待测物体在传送装置上的位置以及环境条件;当监测到待测物体到达测量工位时,利用至少一个激光测距仪对待测物体进行多次测量,得到多个距离信号,测量工位为传送装置上的固定点位;当监测到环境条件的变化量超过设定阈值时,更新预先构建的测宽模型;利用更新后的测宽模型对多个距离信号进行处理,得到待测物体的幅宽值。本方法,通过监测环境条件并相应调整测宽模型,可以提高测量准确性、系统稳定性,降低测量误差,扩展适用范围,增强自适应能力,从而提高激光测宽系统的整体性能和应用效果。

技术研发人员:周正,屈辉现,周禹轩,程宏,张波,曾繁智,曾俊钢,吴丹文,张春磊
受保护的技术使用者:中轻长泰(长沙)智能科技股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/5/29
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