本申请涉及微电子或光电子测试，特别是涉及一种sipm阵列测试装置、系统、方法、计算机设备和存储介质。
背景技术：
1、在探测器系统中，sipm(silicon photomultiplier，硅光电倍增管)电路板是不可或缺的一个部件，在进行探测器系统装配之前，需要对sipm电路板进行功能测试，以确保sipm电路板满足装配条件。
2、传统技术中，通过将晶体和sipm电路板通过硅脂耦合起来，连接sipm电路板和探测器其他相关部件，并在sipm电路板外面放置放射源的方式，检测sipm电路板的性能是否正常。
3、然而，目前的sipm阵列测试方式或者传统方法，存在测试成本大、测试过程复杂及不能精确定位故障位置等问题。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够降低测试成本、简化测试过程及精确定位故障位置的sipm阵列测试装置、系统、方法、计算机设备和存储介质。
2、第一方面，本申请提供了一种sipm阵列测试装置。所述装置包括：
3、发光阵列，发光阵列包括至少一个发光单元，发光单元用于发射光线；
4、导光阵列，导光阵列包括至少一个导光单元；导光单元设置于光线的传递路径上，导光单元的入光侧与发光单元耦合；导光单元的出光侧用于与待测sipm阵列的sipm单元耦合；
5、信号读出电路，信号读出电路的输入端用于连接待测sipm阵列，信号读出电路的输出端用于传输检测信号；检测信号用于表征待测sipm阵列的测试结果。
6、在其中一个实施例中，发光阵列包括多个发光单元；各发光单元之间并联连接；
7、导光阵列包括多个导光单元；导光单元分别与发光单元、sipm单元对应配合设置。
8、在其中一个实施例中，发光单元包括led元件；各led元件用于与各sipm单元一一对应设置；
9、导光单元包括导光柱；导光柱分别与led元件、sipm单元对应配合设置。
10、在其中一个实施例中，各导光柱之间隔光设置；导光柱的入光口与led元件配合连接；导光柱的出光口用于与sipm单元配合连接。
11、在其中一个实施例中，装置还包括：
12、避光罩，避光罩的内部设置发光阵列和导光阵列；避光罩的内部还用于容纳待测sipm阵列。
13、在其中一个实施例中，装置还包括：
14、驱动电路，驱动电路连接发光阵列，用于驱动发光单元。
15、第二方面，本申请提供了一种sipm阵列测试系统，系统包括上述的装置；系统还包括：
16、处理单元，处理单元连接驱动电路，用于输出驱动指令；处理单元连接信号读出电路的输出端，用于处理检测信号，得到待测sipm阵列的测试结果。
17、第三方面，本申请提供了一种sipm阵列测试方法，方法应用于sipm阵列测试系统中的处理单元；系统还包括sipm阵列测试装置；装置包括：
18、发光阵列，发光阵列包括多个相并联的发光单元；各发光单元用于与待测sipm阵列的各sipm单元一一对应设置，用于发射光线；
19、导光阵列，导光阵列包括多个导光单元；导光单元对应设置于光线的传递路径上，导光单元的入光侧与发光单元耦合；导光单元的出光侧用于与sipm单元耦合；
20、信号读出电路，信号读出电路的输入端用于连接待测sipm阵列，信号读出电路的输出端连接处理单元，用于传输检测信号；
21、驱动电路，驱动电路连接处理单元，用于接收驱动信号；驱动电路还用于连接发光阵列，用于驱动发光单元；
22、方法包括：
23、获取预设测试策略，基于预设测试策略输出驱动信号；预设测试策略包括各导光单元的发光时间和发光强度；
24、获取检测信号；检测信号包括各sipm单元的计数数据；
25、基于预设测试策略处理检测信号，得到待测sipm阵列的测试结果；测试结果包括各sipm单元的计数准确度；
26、根据测试结果，输出待测sipm阵列的故障位置。
27、第四方面，本申请提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现上述的方法的步骤。
28、第五方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。
29、上述sipm阵列测试装置、系统、方法、计算机设备和存储介质，通过发光阵列110的发光单元发射光线；导光阵列120设置于光线的传递路径上的导光单元将光线传递至待测sipm阵列的sipm单元，进而通过信号读出电路130对待测sipm阵列进行信号读取，进而得到用于表征待测sipm阵列的测试结果的检测信号，本申请实施例通过上述装置对待测sipm阵列的工作状态进行测试，无需使用晶体和放射源，提高了测试过程中的安全性；通过上述装置进行测试的成本低，装置可以重复使用，无需使用硅脂将晶体和待测sipm阵列进行耦合，降低了可能出现的质量问题而导致的费用损失；可以直接定位到待测sipm阵列的故障位置，检测效率高。
1.一种sipm阵列测试装置，其特征在于，所述装置包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述发光阵列包括多个所述发光单元；各所述发光单元之间并联连接；
3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述发光单元包括led元件；各所述led元件用于与各所述sipm单元一一对应设置；
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，各所述导光柱之间隔光设置；所述导光柱的入光口与所述led元件配合连接；所述导光柱的出光口用于与所述sipm单元配合连接。
5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
6.根据权利要求1至5任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
7.一种sipm阵列测试系统，其特征在于，所述系统包括权利要求6所述的装置；所述系统还包括：
8.一种sipm阵列测试方法，其特征在于，所述方法应用于sipm阵列测试系统中的处理单元；所述系统还包括sipm阵列测试装置；所述装置包括：
9.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求6所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求6所述的方法的步骤。
