本技术涉及影像测量仪光源，具体为一种晶元检测高亮反射光源。
背景技术：
1、在对晶元表面进行检测时，需通过光源对晶元进行照射，从而便于影像测量仪对晶元表面进行检测；
2、目前光源中灯珠发出的光线直射在晶元上，光线较为散射，部分光线无法照射在晶元上，使得灯光亮度无法满足检测需求，需增加灯珠增加灯光亮度，从而满足检测需求，导致检测成本较大，为此，我们提出了一种晶元检测高亮反射光源。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种晶元检测高亮反射光源，解决了上述背景技术中提出的问题。
2、为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种晶元检测高亮反射光源，包括非球面反射器，所述非球面反射器的顶部安装有散热组件，所述散热组件的底部且位于非球面反射器的内部设置有pcb板，所述pcb板的外表面设置有led灯条。
3、作为本实用新型进一步的技术方案，所述led灯条的外表面呈圆周状且等间距设置有多组灯珠，所述散热组件的顶部设置有电源线，所述电源线的输出端和pcb板的输入端相连。
4、作为本实用新型进一步的技术方案，所述散热组件包括散热齿，所述散热齿的下方设置有底板，所述散热齿的底部和底板通过多组螺栓形成固定连接。
5、作为本实用新型进一步的技术方案，所述散热齿的顶部和非球面反射器的顶部通过多组螺栓形成固定连接，所述散热齿的底部延伸至非球面反射器的内部。
6、作为本实用新型进一步的技术方案，所述散热齿的底部外表面开设有阶梯槽，所述pcb板的内表面和阶梯槽的内环面相连。
7、作为本实用新型进一步的技术方案，所述底板的顶端边缘连接有凸边，所述凸边位于pcb板的底部外侧。
8、有益效果
9、本实用新型提供了一种晶元检测高亮反射光源。与现有技术相比具备以下有益效果：
10、一种晶元检测高亮反射光源，通过led灯条通电使得多组灯珠发出光线，光线照射在非球面反射器的内表面，通过非球面反射器内表面结构使得光线出现反射，实现光线聚集在非球面反射器的正下方，该结构通过对光线进行反射，增加光线亮度，从而满足晶元检测的需求，并且该结构相较于现有光源结构所需使用的灯珠数量较少，可减少检测成本，同时实现节能效果。
1.一种晶元检测高亮反射光源，其特征在于，包括非球面反射器（1），所述非球面反射器（1）的顶部安装有散热组件（2），所述散热组件（2）的底部且位于非球面反射器（1）的内部设置有pcb板（3），所述pcb板（3）的外表面设置有led灯条（4）。
2.根据权利要求1所述的一种晶元检测高亮反射光源，其特征在于，所述led灯条（4）的外表面呈圆周状且等间距设置有多组灯珠，所述散热组件（2）的顶部设置有电源线（5），所述电源线（5）的输出端和pcb板（3）的输入端相连。
3.根据权利要求1所述的一种晶元检测高亮反射光源，其特征在于，所述散热组件（2）包括散热齿（21），所述散热齿（21）的下方设置有底板（23），所述散热齿（21）的底部和底板（23）通过多组螺栓形成固定连接。
4.根据权利要求3所述的一种晶元检测高亮反射光源，其特征在于，所述散热齿（21）的顶部和非球面反射器（1）的顶部通过多组螺栓形成固定连接，所述散热齿（21）的底部延伸至非球面反射器（1）的内部。
5.根据权利要求3所述的一种晶元检测高亮反射光源，其特征在于，所述散热齿（21）的底部外表面开设有阶梯槽（22），所述pcb板（3）的内表面和阶梯槽（22）的内环面相连。
6.根据权利要求3所述的一种晶元检测高亮反射光源，其特征在于，所述底板（23）的顶端边缘连接有凸边（24），所述凸边（24）位于pcb板（3）的底部外侧。
