本公开涉及测定伺服系统的频率特性频率特性测定装置。
背景技术：
1、以往，公知测定伺服系统的频率特性的技术(例如，参照专利文献1)。
2、在先技术文献
3、专利文献
4、专利文献1：日本特开2019-91141号公报
技术实现思路
1、期待高精度地测定伺服系统的频率特性。
2、因而，本公开的目的在于，提供一种能够得到伺服系统的高精度的频率特性的频率特性测定装置等。
3、本公开的一方式所涉及的频率特性测定装置具备第一输出部、频率特性计算部、谐振频率计算部和第二输出部。所述第一输出部输出第一频率范围的第一激励信号。所述频率特性计算部基于所述第一激励信号和从被输入了所述第一激励信号的伺服系统取得的表示所述伺服系统的状态量的第一状态信号，计算所述第一频率范围中的所述伺服系统的第一频率特性。所述谐振频率计算部基于所述第一频率特性，计算所述伺服系统的谐振频率与反谐振频率的至少一方。所述第二输出部输出包括通过所述谐振频率计算部算出的谐振频率与反谐振频率的至少一方在内的、所述第一频率范围的一部分范围所构成的第二频率范围的第二激励信号。所述频率特性计算部进一步基于所述第二激励信号和从被输入了所述第二激励信号的所述伺服系统取得的表示所述伺服系统的状态量的第二状态信号，计算所述第二频率范围中的所述伺服系统的第二频率特性。
4、本公开的另一方式所涉及的频率特性测定方法包括第一输出步骤、第一频率特性计算步骤、谐振频率计算步骤、第二输出步骤和第二频率特性计算步骤。所述第一输出步骤输出第一频率范围的第一激励信号。所述第一频率特性计算步骤基于所述第一激励信号和从被输入了所述第一激励信号的伺服系统取得的表示所述伺服系统的状态量的第一状态信号，计算所述第一频率范围中的所述伺服系统的第一频率特性。所述谐振频率计算步骤基于所述第一频率特性，计算所述伺服系统的谐振频率与反谐振频率的至少一方。所述第二输出步骤输出包括通过所述谐振频率计算步骤算出的谐振频率与反谐振频率的至少一方在内的、所述第一频率范围的一部分范围所构成的第二频率范围的第二激励信号。所述第二频率特性计算步骤基于所述第二激励信号和从被输入了所述第二激励信号的所述伺服系统取得的表示所述伺服系统的状态量的第二状态信号，计算所述第二频率范围中的所述伺服系统的第二频率特性。
5、根据本公开的上述方式所涉及的频率特性测定装置或者频率特性测定方法，能够得到伺服系统的高精度的频率特性。
1.一种频率特性测定装置，具备：
2.根据权利要求1所述的频率特性测定装置，其中，
3.根据权利要求1或2所述的频率特性测定装置，其中，
4.根据权利要求1～3中任一项所述的频率特性测定装置，其中，
5.根据权利要求1～4中任一项所述的频率特性测定装置，其中，
6.根据权利要求1～5中任一项所述的频率特性测定装置，其中，
7.根据权利要求1～6中任一项所述的频率特性测定装置，其中，
8.根据权利要求1～7中任一项所述的频率特性测定装置，其中，
9.一种频率特性测定方法，包括：
