本申请涉及一种接触探针及用于电气部件测试的插座。
背景技术：
1、在例如ic(integrated circuit，集成电路)封装体等电气部件的生产过程中，需要使用相关测试设备对其的电气性能进行测试。这种测试设备一般包括与另一电气部件(例如布线基板)电性连接的插座。
2、相关技术中的一种插座，包括插座柱体和接触探针，其中，插座柱体上形成有可容纳第一电气部件的容纳部，另外，插座柱体上还形成有探针收纳孔，接触探针收纳于探针收纳孔。在进行电气测试的过程中，第一电气部件被安置于容纳部，接触探针的一端与第一电气部件的端子接触，另一端与另一电气部件(后文简称第二电气部件)接触，从而建立第一电气部件与第二电气部件之间的电性连接。
3、为了保证电气测试的结果的精准性，接触探针的电阻值不允许超过容许电阻值。根据接触探针在工作时施加给第二部件的载荷(后文简称载荷)的不同，接触探针可以分为多种型号。本公开的发明人发现，载荷相对较小的这部分型号的接触探针，其电阻值会随着电气测试的次数的增加而变大。这意味着，随着电气测试的次数的增加，载荷相对较小的这部分型号的接触探针，会频繁地出现电阻值超过容许电阻值的情况，这会对电气测试结果的精准性产生不利影响，从而使电气测试的可靠性变差。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种接触探针及用于电气部件测试的插座，以减少接触探针的电阻值出现大于容许电阻值的情况，从而提高电气测试的可靠性。
2、本申请第一方面的实施例提出了一种接触探针，接触探针包括管状结构、弹簧和柱塞。管状结构的内部形成有容纳腔，在管状结构的第一端设置有用于与第一电气部件的端子接触的接触部，弹簧设置在容纳腔中，柱塞以可滑动的方式与管状结构连接，柱塞的第一端设置有弹簧定位部，弹簧定位部与弹簧相抵接，弹簧定位部为偏离柱塞的中轴线设置的偏心结构体，偏心结构体的顶端具有接触面，接触面具有两个与弹簧相抵接的抵接位置，柱塞的第二端从管状结构的第二端伸出。
3、根据本申请实施例中的接触探针，接触探针包括管状结构、弹簧和柱塞，其中，管状结构的一端设置有与第一电气部件接触的接触部，管状结构的内部形成有容纳腔，弹簧设置在该容纳腔内，柱塞位于远离接触部的一端，且柱塞结构可滑动的与弹簧抵接。当接触部与第一电气部件抵接，且柱塞结构远离弹簧的一端与第二电气部件抵接时，可建立起第一电气部件与第二电气部件之间的电性连接。在对产品进行电气性能的测试时，弹簧由于压缩会发生弯曲，从而抵靠在管状结构的内壁上。相关技术中的弹簧与柱塞结构的接触部位经常发生变化，也就是说，弹簧与柱塞结构的接触部位经常发生变化，从而导致接触探针的通电接触载荷经常发生变化，这无疑降低了接触弹性的可靠性，从而导致对同一产品进行测量时，测量值会有所不同。在本申请的实施例中，弹簧定位部与弹簧的接触面为两个，如此，当弹簧受力弯曲时，弹簧的侧壁将抵靠在管状结构的内壁上，而弹簧与弹簧定位部有两个接触面，如此对弹簧形成三角型结构的支撑，这样能够提高接触探针的内部接触稳定性，从而增加电气测试的可靠性。而且，在弹簧定位部为偏离所述柱塞的中轴线设置的偏心结构体的情况下，能够明显提高接触探针的通电接触载荷(相比于现有的弹簧定位部采用圆锥体结构的接触探针)。也就是说，通过将弹簧定位部设置为偏心结构体，可以达到提高接触探针的通电接触载荷的效果，从而减少接触探针的电阻值出现大于容许电阻值的情况，进而提高插座的电气测试的可靠性。
4、另外，根据本申请实施例的接触探针，还可具有如下附加的技术特征：
5、在本申请的一些实施例中，所述偏心结构体为半圆柱体顶端切掉圆弧侧部分体积后形成的顶端具有所述接触面的第一结构；或所述偏心结构体为类半圆柱体顶端切掉圆弧侧部分体积后形成的顶端具有所述接触面的第二结构。
6、在本申请的一些实施例中，所述半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉1/2体积后所形成的结构，所述第一结构包括第一部段和第二部段，所述第一部段为所述半圆柱体未进行切割部分的结构，所述第二部段为所述半圆柱体切掉圆弧侧部分后剩下的结构，所述第二部段的顶部形成有所述接触面，所述第一部段和所述第二部段之间形成有阶梯结构，所述阶梯结构的开口朝向所述弹簧的边缘。
7、在本申请的一些实施例中，所述第二部段包括顶面、第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面，所述接触面位于所述顶面，所述第一侧面和所述第三侧面相对设置，且所述第一侧面和所述第三侧面均为平面，所述第二侧面和所述第四侧面为弧面。
8、在本申请的一些实施例中，所述类半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉大于1/2体积后所形成的结构，所述第二结构包括第一部段和第二部段，所述第一部段为所述类半圆柱体未进行切割部分的结构，所述第二部段为所述类半圆柱体切掉圆弧侧部分后剩下的结构，所述第二部段的顶部形成有所述接触面，所述第一部段和所述第二部段之间形成有阶梯结构，所述阶梯结构的开口朝向所述弹簧的边缘。
9、在本申请的一些实施例中，所述第二部段包括顶面、第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面，所述接触面位于所述顶面，所述第一侧面和所述第三侧面相对设置，且所述第一侧面和所述第三侧面均为平面，所述第二侧面和所述第四侧面为弧面。
10、在本申请的一些实施例中，所述半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉1/2体积后所形成的结构，所述第一结构包括顶面、第五侧面和斜切面，接触面位于所述顶面，所述第五侧面为所述半圆柱体的纵切面，所述斜切面与所述第五侧面之间的夹角为锐角。
11、在本申请的一些实施例中，所述类半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉大于1/2体积后所形成的结构，所述第二结构包括顶面、第五侧面和斜切面，接触面位于所述顶面，所述第五侧面为所述类半圆柱体的纵切面，所述斜切面与所述第五侧面之间的夹角为锐角。
12、在本申请的一些实施例中，在所述容纳腔的内壁上设置有弹簧挡板，所述弹簧的第一端与所述弹簧挡板相抵接，所述弹簧的第二端与所述弹簧定位部相抵接。
13、在本申请的一些实施例中，所述管状结构的第二端形成有供所述柱塞穿出的通孔，在所述柱塞的第一端形成有膨大部，所述膨大部的外径大于所述通孔的直径。
14、本申请第二方面的实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括插座本体和第一方面任一实施例中的接触探针，其中，插座本体上设置有探针收纳孔，接触探针设置在探针收纳孔中。
15、根据本申请实施例中的用于电气部件测试的插座，由于其具备第一方面任一实施例中的接触探针，因此其也具备第一方面任一实施例的有益效果，在此不再赘述。
1.一种接触探针，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的接触探针，其特征在于，所述偏心结构体为半圆柱体顶端切掉圆弧侧部分体积后形成的顶端具有所述接触面的第一结构；或所述偏心结构体为类半圆柱体顶端切掉圆弧侧部分体积后形成的顶端具有所述接触面的第二结构。
3.根据权利要求2所述的接触探针，其特征在于，所述半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉1/2体积后所形成的结构，所述第一结构包括第一部段和第二部段，所述第一部段为所述半圆柱体未进行切割部分的结构，所述第二部段为所述半圆柱体切掉圆弧侧部分后剩下的结构，所述第二部段的顶部形成有所述接触面，所述第一部段和所述第二部段之间形成有阶梯结构，所述阶梯结构的开口朝向所述弹簧的边缘。
4.根据权利要求3所述的接触探针，其特征在于，所述第二部段包括顶面、第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面，所述接触面位于所述顶面，所述第一侧面和所述第三侧面相对设置，且所述第一侧面和所述第三侧面均为平面，所述第二侧面和所述第四侧面为弧面。
5.根据权利要求2所述的接触探针，其特征在于，所述类半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉大于1/2体积后所形成的结构，所述第二结构包括第一部段和第二部段，所述第一部段为所述类半圆柱体未进行切割部分的结构，所述第二部段为所述类半圆柱体切掉圆弧侧部分后剩下的结构，所述第二部段的顶部形成有所述接触面，所述第一部段和所述第二部段之间形成有阶梯结构，所述阶梯结构的开口朝向所述弹簧的边缘。
6.根据权利要求5所述的接触探针，其特征在于，所述第二部段包括顶面、第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面，所述接触面位于所述顶面，所述第一侧面和所述第三侧面相对设置，且所述第一侧面和所述第三侧面均为平面，所述第二侧面和所述第四侧面为弧面。
7.根据权利要求2所述的接触探针，其特征在于，所述半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉1/2体积后所形成的结构，所述第一结构包括顶面、第五侧面和斜切面，所述接触面位于所述顶面，所述第五侧面为所述半圆柱体的纵切面，所述斜切面与所述第五侧面之间的夹角为锐角。
8.根据权利要求2所述的接触探针，其特征在于，所述类半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉大于1/2体积后所形成的结构，所述第二结构包括顶面、第五侧面和斜切面，所述接触面位于所述顶面，所述第五侧面为所述类半圆柱体的纵切面，所述斜切面与所述第五侧面之间的夹角为锐角。
9.根据权利要求1至8中任一项所述的接触探针，其特征在于，在所述容纳腔的内壁上设置有弹簧挡板，所述弹簧的第一端与所述弹簧挡板相抵接，所述弹簧的第二端与所述弹簧定位部相抵接。
10.根据权利要求1至8中任一项所述的接触探针，其特征在于，所述管状结构的第二端形成有供所述柱塞穿出的通孔，在所述柱塞的第一端形成有膨大部，所述膨大部的外径大于所述通孔的直径。
11.一种用于电气部件测试的插座，其特征在于，包括：
