CT成像方法、装置和光子计数能谱CT成像系统

专利检索2025-05-01  16


本申请涉及ct成像,特别是涉及一种ct成像方法、装置和光子计数能谱ct成像系统。


背景技术:

1、随着ct技术的发展,出现了基于光子计数探测器的能谱ct,能够同时提供多个能量阈值的ct数据进行多能量成像,在此基础上可以进行物质分解得到有效原子序数图,进而可以对物质进行化学成份分析,相较以前的常规ct,能谱ct具有更低辐射剂量、更低噪声、定量分析等优势,在科研应用上具有重要研究意义。

2、目前,光子计数能谱ct成像设备可以支持步进扫描、轴向扫描和螺旋扫描,由于有些科研扫描协议需要较长的扫描范围,光子计数探测器在连续采集数据时间非常长的场景下,容易出现极化效应,导致光子计数探测器采数响应不稳定,进而影响成像质量。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够提高成像质量的ct成像方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质、计算机程序产品和光子计数能谱ct成像系统。

2、第一方面,本申请提供了一种ct成像方法。所述方法包括:

3、获取对目标部位进行ct成像的目标扫描协议;

4、确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数;所述目标扫描参数包含ct成像设备上的目标探测区域;

5、控制所述ct成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行ct成像。

6、在其中一个实施例中,在获取对目标部位进行ct成像的目标扫描协议之前,还包括:

7、获取对所述目标部位进行ct成像的候选扫描协议;

8、确定所述候选扫描协议在所述ct成像设备上所对应的候选探测区域;

9、根据所述候选探测区域的区域能力信息,确定对所述ct成像设备进行控制的候选控制信息。

10、在其中一个实施例中,所述候选控制信息中包含与所述目标扫描协议相对应的目标控制信息;所述控制所述ct成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行ct成像,包括:

11、根据所述目标控制信息,控制所述ct成像设备通过所述目标探测区域对所述目标部位进行ct成像。

12、在其中一个实施例中,所述确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数,包括:

13、获取所述ct成像设备对所述目标部位进行扫描的扫描时长与所述ct成像设备的探测区域面积之间的映射关系;

14、根据目标扫描时长和所述映射关系,从所述候选探测区域中确定出所述目标探测区域。

15、在其中一个实施例中,所述确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数,还包括:

16、获取所述目标扫描协议对应的扫描次序;

17、根据所述扫描次序,从所述候选探测区域中确定出所述目标探测区域。

18、在其中一个实施例中,所述目标扫描参数还包括所述ct成像设备的目标扫描时刻;所述控制所述ct成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行ct成像,还包括:

19、控制所述ct成像设备根据所述目标扫描协议,在所述目标扫描时刻,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行ct成像。

20、第二方面,本申请还提供了一种ct成像装置。所述装置包括:

21、协议获取模块,用于获取对目标部位进行ct成像的目标扫描协议;

22、参数确定模块,用于确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数;所述目标扫描参数包含ct成像设备上的目标探测区域;

23、ct成像模块,用于控制所述ct成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行ct成像。

24、第三方面,本申请还提供了一种光子计数能谱ct成像系统。所述系统包括:

25、射线源,用于产生x射线光子;

26、控制器,用于获取目标扫描协议,确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数,所述目标扫描参数包含光子计数探测器上的目标探测区域,根据所述目标扫描协议和所述目标探测区域生成探测器控制信息;

27、光子计数探测器,用于根据所述探测器控制信息,通过所述目标探测区域检测穿过目标部位的x射线光子;

28、成像装置,用于根据检测到的x射线光子,对所述目标部位进行ct成像。

29、在其中一个实施例中,所述控制器,还用于获取候选扫描协议,确定所述候选扫描协议在所述光子计数探测器上所对应的候选探测区域,根据所述候选探测区域的区域能力信息,确定对所述光子计数探测器进行控制的候选控制信息。

30、在其中一个实施例中,所述控制器,还用于根据所述目标扫描协议,从所述候选探测区域中确定出所述光子计数探测器上的目标探测区域,根据所述目标探测区域的区域能力信息,得到所述探测器控制信息。

31、第四方面,本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤:

32、获取对目标部位进行ct成像的目标扫描协议;

33、确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数;所述目标扫描参数包含ct成像设备上的目标探测区域;

34、控制所述ct成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行ct成像。

35、第五方面,本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:

36、获取对目标部位进行ct成像的目标扫描协议;

37、确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数;所述目标扫描参数包含ct成像设备上的目标探测区域;

38、控制所述ct成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行ct成像。

39、第六方面,本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:

40、获取对目标部位进行ct成像的目标扫描协议;

41、确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数;所述目标扫描参数包含ct成像设备上的目标探测区域;

42、控制所述ct成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行ct成像。

43、上述ct成像方法、装置、计算机设备、存储介质、计算机程序产品和光子计数能谱ct成像系统,通过获取对目标部位进行ct成像的目标扫描协议,确定目标扫描协议对应的目标扫描参数,目标扫描参数包含ct成像设备上的目标探测区域,控制ct成像设备根据目标扫描协议,通过目标探测区域对目标部位进行ct成像;可以使光子计数能谱ct成像设备在对目标部位进行扫描时,仅在指定的探测区域执行相应扫描协议,没有扫描任务的其他探测区域可以休息,避免扫描时间过长导致出现极化效应,提高了光子计数能谱ct的成像质量。



技术特征:

1.一种ct成像方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在获取对目标部位进行ct成像的目标扫描协议之前,还包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述候选控制信息中包含与所述目标扫描协议相对应的目标控制信息;所述控制所述ct成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行ct成像,包括:

4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数,包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数,还包括:

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述目标扫描参数还包括所述ct成像设备的目标扫描时刻;所述控制所述ct成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行ct成像,还包括:

7.一种ct成像装置,其特征在于,所述装置包括:

8.一种光子计数能谱ct成像系统,其特征在于,所述系统包括:

9.根据权利要求8所述的系统,其特征在于,所述控制器,还用于获取候选扫描协议,确定所述候选扫描协议在所述光子计数探测器上所对应的候选探测区域,根据所述候选探测区域的区域能力信息,确定对所述光子计数探测器进行控制的候选控制信息。

10.根据权利要求9所述的系统,其特征在于,所述控制器,还用于根据所述目标扫描协议,从所述候选探测区域中确定出所述光子计数探测器上的目标探测区域,根据所述目标探测区域的区域能力信息,得到所述探测器控制信息。


技术总结
本申请涉及一种CT成像方法、装置和光子计数能谱CT成像系统。所述方法包括:获取对目标部位进行CT成像的目标扫描协议;确定所述目标扫描协议对应的目标扫描参数;所述目标扫描参数包括CT成像设备上的目标探测区域;控制所述CT成像设备根据所述目标扫描协议,通过所述目标探测区域对所述目标部位进行CT成像。采用本方法能够提高光子计数能谱CT的成像质量。

技术研发人员:刘谦,许文挺,艾明
受保护的技术使用者:海南大学
技术研发日:
技术公布日:2024/5/29
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