基于自动光学检测设备的RFID器件检测系统的制作方法

专利检索2025-04-11  6


本发明涉及无线射频识别,具体为基于自动光学检测设备的rfid器件检测系统。


背景技术:

1、rfid(无线射频识别)技术已经广泛应用于物流、供应链、零售、医疗等各个领域;rfid器件的性能直接影响到整个系统的稳定性和准确性,因此需要进行全面、深入的外观测试和性能测试,以确保产品质量符合标准和要求;

2、当前rfid器件性能测试通常在固定的实验室环境下进行,忽略了实际应用环境的影响,导致rfid器件性能测试结果过于片面性,不够贴合实际应用场景;例如,温度、湿度、电磁干扰等因素都会影响器件的性能,需要在更真实的应用环境下进行测试;此外,当前rfid器件的性能测试主要依赖于读写测试设备(读写测试设备主要用于rfid器件的性能测试,由读写器和测试软件组成),而读写测试设备的质量和精度也会影响测试结果的准确性。


技术实现思路

1、本发明的目的在于提供基于自动光学检测设备的rfid器件检测系统,以解决上述背景技术提到的问题。

2、本发明的目的可以通过以下技术方案实现:基于自动光学检测设备的rfid器件检测系统,包括:外观检测模块、服务器和性能检测模块

3、外观检测模块通过对rfid器件的外观进行检测,并据此得到外观检测结果;外观检测结果包括外观检测合格和外观检测不合格;

4、性能检测模块通过对读写测试设备的测试性能进行分析以将存在风险的读写测试设备进行下线处理,并依据测试参数构建各测试环境;利用在线的读写测试设备于各测试环境中对外观检测合格的rfid器件进行性能测试以输出检测结果;其中将存在风险的读写测试设备进行下线处理的具体过程为:

5、101:获取读写测试设备的投入工作时刻、历史维护次数以及每次维护对应的维护时刻、历史校正次数以及每次校正对应的校正时刻,并据此构建时间轴;计算相邻两次维护对应的维护时刻差值得到维护间隔,同时计算相邻两次校正对应的校正时刻差值得到校正间隔;分别将时间轴上的维护间隔和校正间隔进行均值计算得到维护均值和校正均值,并将其分别记为y1和y2;将y1和y2代入设定的公式进行计算得到设稳值yd,其中d1、d2分别为设定的比例系数,e为自然常数;

6、102:获取读写测试设备的检测次数,其中检测次数包括读取成功次数和读取失败次数,以及每次成功读取对应的读写开始时刻、读写结束时刻和读写距离,将每次成功读取对应的读写开始时刻和读写结束时刻进行时间差值计算以得到单次读写时长,由此可得每次成功读取对应的单次读写时长,并将其进行均值计算得到读写均长;从各次成功读取的读写距离中选取最大的读写距离作为该读写测试的读取量度;将设稳值yd、读取成功次数d1、读取失败次数d2、读写均长d3和读取量度d4代入设定的公式进行计算得到读写测试设备的检验值dy,其中d3、d4、d5分别为设定的比例系数,e为自然常数;

7、103:当检验值小于设定检验阈值时,则该读写测试设备进行下线处理并通知工程师进行校正操作,当接收到工程师的校正完成时,则重新对该下线的读写测试设备进行检验值分析,直至检验值大于或等于设定的检验阈值,则将该下线的读写测试设备进行上线处理。

8、优选地,利用在线的读写测试设备于各测试环境中对外观检测合格的rfid器件进行性能测试以输出检测结果,具体过程为:

9、依据接收到的测试参数构建各测试环境,在各测试环境下使用在线读写测试设备对外观检测合格的rfid器件进行性能检测以得到各环境温度、各环境湿度和各测试干扰下的性能参数;其中性能参数包括:读写距离、读取速度、写入速度和数据传输速率,各环境温度下的性能参数记为s i、vi、wi和z i,其中i=1,2,3……i,i取值为正整数,i表示的是测试温度中最高温度的序号;i为测试温度中任意一个温度的序号;各环境湿度阶层的性能参数记为sj、vj、wi和zj,其中j=1,2,3……j,j取值为正整数,j表示的是测试湿度中最高湿度的序号;i为测试湿度中任意一个湿度的序号;各测试干扰下的性能参数记为sb、vb、wb和zb,其中b=1,2,3……b,b取值为正整数,b表示的是测试干扰中最高干扰值的序号;b为测试干扰中任意一个干扰值的序号;将性能参数和标准性能参数代入设定的公式组进行计算以得到性能检测值vb,其中c1、c2、c3、c4、c5、c6、c7分别为设定的比例系数,为标准读写距离,为标准读取速度,为标准写入速度,为标准数据传输速率;当性能检测值大于或等于需求性能量值时,则将该记为合格rfid器件;当合格rfid器件数量与rfid器件订购量一致时,则结束此次rfid器件检测,将此次检测中所涉及的rfid器件的测试参数、外观检测值、性能参数以及性能检测值整合为此次rfid器件检测的检测报告。

10、优选地,对客户需求信息进行分析以得到测试参数的具体过程为:

11、调取预备安装位置一定距离内的电磁干扰设备类型以及每种类型对应的功率,将电磁干扰设备类型与设定的所有类型进行比对以匹配到对应的干扰基值;由此可得每个电磁干扰设备对应的干扰基值记为g1;获取电磁干扰设备与预设安装位置之间的距离记为干扰距离,由此可得每个电磁干扰设备对应的干扰距离记为g2,调取各电磁干扰设备的频率记为g3;将g1、g2和g3代入设定的公式进行计算以得到各电磁干扰设备的影响值,其中a1、a2、a3分别为设定的比例系数,e为自然常数,将各电磁干扰设备的影响值进行求和计算以得到该预备位置的干扰表现值,由此可得各预备安装位置的干扰表现值,选取其中最小的干扰表现值作为干扰下限,选取其中最大的干扰表现值作为干扰上限,依据干扰下限和干扰上限组成该客户的环境干扰区间;

12、将环境温度区间、环境湿度区间和环境干扰区间分别划分为若干个测试温度、测试湿度和测试干扰,并将其记为测试参数,并将测试参数发送至性能检测模块。

13、优选地,对rfid器件的外观进行检测,并据此得到外观检测结果的具体步骤为:

14、步骤一:利用自动光学检测捕获rfid器件的外观图像;

15、步骤二:利用边缘检测算法从rfid器件的图像中提取边缘轮廓以得到器件轮廓,并将其与标准边缘轮廓进行特征比较分析以得到吻合度;

16、步骤三:识别外观图像中的划痕、污渍和起泡,由此可得划痕数量以及每个划痕长度和划痕宽度、起泡数量以及每个起泡面积、污渍面积以及每个污渍面积,并据此进行量化分析以得到外观缺陷度;

17、步骤四:将吻合度lh与外观缺陷度ha代入设定的公式进行计算以得到外观检测值lh,其中a7、a8分别为设定的比例系数,e为自然常数;当外观检测值大于或等于设定的外观阈值时,则输出外观检测合格;当外观检测值小于设定的外观阈值时,则输出外观检测不合格。

18、优选地,吻合度的具体分析过程为:

19、于器件轮廓和标准边缘轮廓中同步设定若干个特征点,将器件轮廓和标准边缘轮廓中的特征点进行同步标号,连接相邻两个特征点形成特征线段,将其中在器件轮廓和标准边缘轮廓中标号相同的特征线段记为一对特征线段,由此可得若干对特征线段;计算特征线段之间的距离记为特征线长以及特征线段与水平线之间的夹角记为特征角度;将一对特征线段对中的两个特征线长进行差值计算以得到线长差记为l1,并将一对特征线段中的两个特征角度进行差值计算以得到角度差记为l2;将l1和l2代入设定的公式lz=h1×l1+h1×l2进行计算以得到各对特征线段的差度值lz,其中h1、h2分别为设定的比例系数;将差度值与设定的差度区间进行比较分析以将特征线段对分为高度差距特征对、中度差距特征对和吻合特征对;统计高度差距特征对、中度差距特征对和吻合特征对的数量,并将其分别记为l3、l4、l5;将l3、l4、l5代入设定的公式进行计算以得到吻合度lh,其中h3、h4、h5分别为设定的比例系数,e为自然常数。

20、优选地,外观缺陷度的具体分析过程为:

21、将划痕长度乘以划痕宽度得到划痕面积;将划痕面积与设定的划痕区间进行比较分析以将划痕分为一级划痕、二级划痕和三级划痕,分别统计一级划痕、二级划痕和三级划痕的数量,并将分别记为h1、h2和h3;

22、同理将污渍的污渍面积与设定的污渍区间进行比较分析以将污渍分为一级污渍、二级污渍和三级污渍;分别统计一级污渍、二级污渍和三级污渍的数量,并将分别记为h4、h5和h6;

23、同理将气泡的气泡面积与设定的气泡区间进行比较分析以将气泡分为一级气泡、二级气泡和三级气泡;分别统计一级气泡、二级气泡和三级气泡的数量,并将分别记为h7、h8和h9;

24、将h1、h2、h3、h4、h5、h6、h7、h8和h9代入设定的公式进行计算以得到外观缺陷度ha,其中a1、a2、a3、a4、a5、a6分别为设定的比例系数。

25、本发明的有益效果:

26、1、通过智能计算干扰表现值得到环境干扰区间,将环境温度区间、环境湿度区间和环境干扰区间分别划分为若干个测试温度阶层、测试湿度阶层和测试干扰阶层,能够准确的贴合客户实际使用环境,获取更全面、准确的性能数据,确保检测结果具有代表性和可靠性;

27、2、通过将frid1器件的外观图像与标准外观参数进行比对分析以得到吻合度,同时依据对fr id1器件的外观缺陷进行细化分析得到外观缺陷度,再将吻合度与外观缺陷度进行综合分析以判断frid1器件的外观是否符合技术要求,并及时发现器件表面的缺陷,有助于提高产品外观质量,并且能够实现外观检测的自动化的高效检测,具有较高的可靠性和稳定性;

28、3、通过对读写测试设备的进行分析并将存在检测风险的读写测试设备进行下线处理,能够有效地避免因测试设备不准确或不可靠而导致的rfid器件性能参数误差,从而保障rfid器件性能检测结果的准确性和可靠性;由在线读写测试设备对各测试环境下的外观检测合格的rfid器件性能参数进行获取和分析以得到性能检测值,依据性能检测值筛选出符合客户技术需求的rfid器件,从而避免了这些不合格产品被提供给客户,有效提高了产品质量;将此次检测中所涉及的rfid器件的测试参数、外观检测值、性能检测值整合为此次rfid器件检测的检测报告,以供客户了解rfid器件的检测详情,从而更好地满足客户需求。


技术特征:

1.基于自动光学检测设备的rfid器件检测系统,包括服务器;服务器用于对客户需求信息进行分析以得到测试参数,并将其发送至性能检测模块;其特征在于,还包括:外观检测模块和性能检测模块;

2.根据权利要求1所述的基于自动光学检测设备的rfid器件检测系统,其特征在于,利用在线的读写测试设备于各测试环境中对外观检测合格的rfid器件进行性能测试以输出检测结果,具体过程为:

3.根据权利要求1所述的基于自动光学检测设备的rfid器件检测系统,其特征在于,对客户需求信息进行分析以得到测试参数的具体过程为:

4.根据权利要求1所述的基于自动光学检测设备的rfid器件检测系统,其特征在于,对rfid器件的外观进行检测,并据此得到外观检测结果的具体步骤为:

5.根据权利要求4所述的基于自动光学检测设备的rfid器件检测系统,其特征在于,吻合度的具体分析过程为:

6.根据权利要求4所述的基于自动光学检测设备的rfid器件检测系统,其特征在于,外观缺陷度的具体分析过程为:


技术总结
本发明涉及RFID技术领域,具体为基于自动光学检测设备的RFID器件检测系统;包括:外观检测模块、服务器和性能检测模块;通过对读写测试设备的进行分析并将存在检测风险的读写测试设备进行下线处理,能够有效地避免因测试设备不准确或不可靠而导致的RFID器件性能参数误差;由在线读写测试设备对各测试环境下的外观检测合格的RFID器件性能参数进行获取和分析以得到性能检测值,依据性能检测值筛选出符合客户技术需求的RFID器件,从而避免了这些不合格产品被提供给客户,有效提高了产品质量;将此次检测中所涉及的RFID器件的测试参数、外观检测值、性能检测值整合为此次RFID器件检测的检测报告,以供客户了解RFID器件的检测详情。

技术研发人员:王琮,邹伟民,许小丽,王磊,丁旭旻
受保护的技术使用者:江苏胜帆电子科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/5/29
转载请注明原文地址:https://win.8miu.com/read-1152293.html

最新回复(0)