本技术涉及半导体检测设备，具体涉及一种半导体用多功能检测设备。
背景技术：
1、半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常大的，大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，半导体在生产的过程中需要用到检测设备对其进行光学检测来查看是否合格。
2、根据专利公开号cn217521044u所述：本实用新型公开了一种半导体光学检测设备，涉及半导体检测设备相关技术领域，包括支撑座，支撑座的一端固定有检测设备，支撑座的上表面固定安装有支撑板，支撑板的上表面滑动安装有观察板，观察板的上表面一端转动安装有挤压板，观察板的上表面远离挤压板的一端滑动有导向板，导向板的一端设有可控制导向板滑动的螺纹杆，观察板的底部固定安装有滑块，支撑板的上表面开设有与滑块相匹配的滑槽，支撑板的上表面位于滑槽旁开设有定位标记，通过转动螺纹杆使导向板对挤压板进行挤压，从而使挤压板能够对不同尺寸的半导体进行固定，从而使半导体在检测进行位置校准的过程中不会发生晃动，从而提高了对半导体检测的速率。
3、上述专利会通过对挤压板的抬升，来对不同大小的半导体进行固定，但对于不同大小的半导体都会与观察板紧贴，从而使得对挤压板的抬升无法起到作用，同时上述专利缺少补光装置，不便于检测过程中半导体产品进行补光，不便于对半导体产品的透光性进行检测。
技术实现思路
1、本实用新型提供一种半导体用多功能检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题。
2、为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：
3、一种半导体用多功能检测设备，包括检测支架，所述检测支架的内侧顶端固定连接有光学检测仪，所述检测支架的内侧底端固定连接有观察板，所述观察板的顶部固定连接有固定结构，所述观察板的中部设置有背光板，所述固定结构包括固定卡板。
4、所述固定卡板包括推动板，所述推动板滑动连接在观察板的顶部，所述推动板的内部右侧滑动连接有顶块，所述顶块的内部左端固定连接有顶紧弹簧，所述顶块的两端固定连接有滑动柱，所述滑动柱的侧面滑动连接有滑动板，所述滑动板活动连接在推动板的内部，所述滑动板的侧面固定连接有挤压板。
5、本实用新型技术方案的进一步改进在于：所述固定结构包括连接板，所述连接板固定连接在观察板的顶部，所述连接板的侧面活动连接有驱动手柄，所述驱动手柄的一端固定连接有锥齿轮一，所述锥齿轮一活动连接在连接板的内部，所述锥齿轮一的侧面啮合连接有锥齿轮二。
6、采用上述技术方案，该方案中的连接板、驱动手柄、锥齿轮一、锥齿轮二之间的相互配合，从而能够对固定卡板的滑动进行控制。
7、本实用新型技术方案的进一步改进在于：所述锥齿轮二的侧面固定连接有螺纹杆，所述螺纹杆的侧面螺纹连接有螺纹滑块，所述螺纹滑块的侧面活动连接有伸缩杆，所述伸缩杆的一端滑动连接有滑动架，所述滑动架固定连接在固定卡板的侧面。
8、采用上述技术方案，该方案中的螺纹杆、螺纹滑块、伸缩杆、滑动架之间的相互配合，通过伸缩杆的伸缩能够推动固定卡板进行滑动。
9、本实用新型技术方案的进一步改进在于：所述背光板包括连接框，所述连接框滑动连接在观察板的中部，所述连接框的中部固定连接有背光模组。
10、采用上述技术方案，该方案中的连接框、背光模组之间的相互配合，能够对半导体的检测进行补光，提高了检测的效果。
11、本实用新型技术方案的进一步改进在于：所述连接框的内部滑动连接有固定卡块，所述固定卡块的一端延伸至观察板的内部，所述固定卡块的另一端固定连接有固定弹簧，所述连接框的内部滑动连接有滑动导杆，所述滑动导杆的侧面固定连接有斜推块，所述斜推块设置在固定卡块的侧面。
12、采用上述技术方案，该方案中的固定卡块、固定弹簧、滑动导杆、斜推块之间的相互配合，能够对背光板的安装固定进行控制。
13、本实用新型技术方案的进一步改进在于：所述连接框的底端设置有顶出板，所述顶出板活动连接在观察板的内部，所述顶出板的内侧固定连接有顶出弹簧。
14、采用上述技术方案，该方案中的顶出板、顶出弹簧之间的相互配合，方便了将背光板进行顶出。
15、由于采用了上述技术方案，本实用新型相对现有技术来说，取得的技术进步是：
16、1、本实用新型提供一种半导体用多功能检测设备，通过推动板、顶块、顶紧弹簧、滑动柱、滑动板、挤压板之间的相互配合，在对不同大小的半导体进行固定时，通过推动板的滑动，能够使得顶块对半导体进行压紧，同时能够使得顶块向推动板的内部进行收缩，并挤压顶紧弹簧，从而能够通过滑动柱在滑动板侧面滑槽中的滑动，能够带动滑动板进行滑动，从而能够带动挤压板对半导体的两侧进行压紧，提高了对半导体的固定效果，方便了对不同大小的半导体进行固定，方便了设备的使用。
17、2、本实用新型提供一种半导体用多功能检测设备，通过连接框、背光模组、固定卡块、固定弹簧、滑动导杆、斜推块、顶出板、顶出弹簧之间的相互配合，在对半导体进行检测时，将连接框滑入到观察板的中部，通过固定弹簧能够对固定卡块进行顶紧，从而能够使得固定卡块卡进观察板的内部，方便了对背光模组进行固定，通过背光模组能够对半导体的检测进行补光，提高了检测的效果，使得检测设备的使用更加方便。
1.一种半导体用多功能检测设备，包括检测支架(1)，所述检测支架(1)的内侧顶端固定连接有光学检测仪(2)，所述检测支架(1)的内侧底端固定连接有观察板(3)，其特征在于：所述观察板(3)的顶部固定连接有固定结构(4)，所述观察板(3)的中部设置有背光板(5)，所述固定结构(4)包括固定卡板(42)；
2.根据权利要求1所述的一种半导体用多功能检测设备，其特征在于：所述固定结构(4)包括连接板(41)，所述连接板(41)固定连接在观察板(3)的顶部，所述连接板(41)的侧面活动连接有驱动手柄(43)，所述驱动手柄(43)的一端固定连接有锥齿轮一(44)，所述锥齿轮一(44)活动连接在连接板(41)的内部，所述锥齿轮一(44)的侧面啮合连接有锥齿轮二(45)。
3.根据权利要求2所述的一种半导体用多功能检测设备，其特征在于：所述锥齿轮二(45)的侧面固定连接有螺纹杆(46)，所述螺纹杆(46)的侧面螺纹连接有螺纹滑块(47)，所述螺纹滑块(47)的侧面活动连接有伸缩杆(48)，所述伸缩杆(48)的一端滑动连接有滑动架(49)，所述滑动架(49)固定连接在固定卡板(42)的侧面。
4.根据权利要求1所述的一种半导体用多功能检测设备，其特征在于：所述背光板(5)包括连接框(51)，所述连接框(51)滑动连接在观察板(3)的中部，所述连接框(51)的中部固定连接有背光模组(52)。
5.根据权利要求4所述的一种半导体用多功能检测设备，其特征在于：所述连接框(51)的内部滑动连接有固定卡块(53)，所述固定卡块(53)的一端延伸至观察板(3)的内部，所述固定卡块(53)的另一端固定连接有固定弹簧(54)，所述连接框(51)的内部滑动连接有滑动导杆(55)，所述滑动导杆(55)的侧面固定连接有斜推块(56)，所述斜推块(56)设置在固定卡块(53)的侧面。
6.根据权利要求5所述的一种半导体用多功能检测设备，其特征在于：所述连接框(51)的底端设置有顶出板(57)，所述顶出板(57)活动连接在观察板(3)的内部，所述顶出板(57)的内侧固定连接有顶出弹簧(58)。
