本技术涉及光栅尺，具体涉及一种直线光栅尺。
背景技术：
1、光栅尺又叫光栅尺位移传感器，是一种非常重要的测量装置，可以测量直线位移和角位移，光栅尺广泛应用于机床与现在加工中心以及测量仪器等方面，特别是在数控机床和精密加工行业占有非常重要的地位，其中光栅尺分为封闭型和敞开型，在精密加工行业常常使用敞开型光栅尺，该敞开型光栅尺一般包括光栅尺本体和监测探头。
2、经检索，中国专利公开号为cn213812149u的专利，公开了一种光栅尺检测仪。本实用新型包括基板，基板上设置有直线模组，直线模组上设置有运动滑块，运动滑块上设置有读数头固定块，读数头固定块上设置有光栅尺读数头和测试光栅尺读数头，基板上设置有基准光栅尺，基准光栅尺位于直线模组的上方，基板上还设置有与直线模组传动配合的驱动装置，基准光栅尺与直线模组平行，基板上设置有与基准光栅尺相平行的测试光栅尺安装位。该装置结构简单、效率高、成本低且操作便利。
3、但是，现有的敞开型光栅尺在长时间的使用过程中，光栅尺刻度的表面很容易沾染各种灰尘和污渍，导致敞开型光栅尺在反射光线时容易产生误差，进而使光栅尺监测探头产生监测误差，影响光栅尺的监测精度。
技术实现思路
1、本实用新型的目的是提供一种直线光栅尺，该直线光栅尺可以实现对光栅尺本体的单向擦拭，提高了光栅尺本体的清洁性，从而保证了装置在长期使用过程中的精度。
2、为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种直线光栅尺，包括：光栅尺主体，位于所述光栅尺主体的顶部滑动连接有一监测探头，所述光栅尺主体的顶部一端安装有一下推块，另一端安装有一抬升块；
3、位于所述下推块与抬升块之间的监测探头具有一中部开设有通孔的连接块，且该通孔的内部设置有一定位框架，该定位框架的下端与一位于连接块下方的擦拭块固定连接，且在所述定位框架与擦拭块之间形成一与抬升块配合的插孔，位于所述连接块的上方且在定位框架上设置有一与连接块磁吸配合的第一磁吸片，位于所述擦拭快的顶部设置有一与连接块磁吸配合的第二磁吸片。
4、上述技术方案中进一步改进的方案如下：
5、1. 上述方案中，位于左端的所述下推块为具有第一斜面的倒梯形块，当定位框架向左沿下推块移动时，使得擦拭块向下按压并与光栅尺主体接触。
6、2. 上述方案中，位于右端的所述抬升块为具有第二斜面的梯形块，当插孔向右沿抬升块移动时，使得擦拭块向上顶起并与光栅尺主体脱离。
7、3. 上述方案中，所述第一磁吸片关于定位框架的轴线对称设置。
8、4. 上述方案中，所述第二磁吸片关于擦拭块的轴线对称设置。
9、由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：
10、本实用新型直线光栅尺，其位于下推块与抬升块之间的监测探头具有一中部开设有通孔的连接块，且该通孔的内部设置有一定位框架，该定位框架的下端与一位于连接块下方的擦拭块固定连接，且在定位框架与擦拭块之间形成一与抬升块配合的插孔，位于连接块的上方且在定位框架上设置有一与连接块磁吸配合的第一磁吸片，位于擦拭快的顶部设置有一与连接块磁吸配合的第二磁吸片，可以实现对光栅尺本体的单向擦拭，提高了光栅尺本体的清洁性，还大大减少了杂质重新粘附在光栅尺上的情况，从而减少了灰尘、污渍对测量精度的影响，保证了装置在长期使用过程中的精度。
1.一种直线光栅尺，包括：光栅尺主体（1），位于所述光栅尺主体（1）的顶部滑动连接有一监测探头（2），其特征在于：所述光栅尺主体（1）的顶部一端安装有一下推块（7），另一端安装有一抬升块（9）；
2.根据权利要求1所述的直线光栅尺，其特征在于：位于左端的所述下推块（7）为具有第一斜面（11）的倒梯形块，当定位框架（5）向左沿下推块（7）移动时，使得擦拭块（4）向下按压并与光栅尺主体（1）接触。
3.根据权利要求2所述的直线光栅尺，其特征在于：位于右端的所述抬升块（9）为具有第二斜面（12）的梯形块，当插孔（15）向右沿抬升块（9）移动时，使得擦拭块（4）向上顶起并与光栅尺主体（1）脱离。
4.根据权利要求1所述的直线光栅尺，其特征在于：所述第一磁吸片（10）关于定位框架（5）的轴线对称设置。
5.根据权利要求1所述的直线光栅尺，其特征在于：所述第二磁吸片（13）关于擦拭块（4）的轴线对称设置。
