本发明涉及led芯片加工领域，尤其涉及一种非接触式检测机构。
背景技术：
1、半导体发光器件led(light emitting diode)以其寿命长、耗能低、无污染、耐震动、响应速度快、应用灵活、控制方便等特点，正在从显示器件发展成为下一代的主要照明器件。随着led的关键技术不断突破，其发光效率快速提高。采用led作为半导体照明光源的应用领域不断扩展，科研人员、工程技术人员和企业生产者正共同努力争取在尽可能短的时间内实现led作为普通照明光源的应用。
2、由于没有合适的检测设备，目前检测和分选是许多led芯片厂商的产能瓶颈，也是led产品成本的一个重要来源。对外延片或者晶圆上每一个led芯片单元的的快速、低成本、无损检测方法和设备，成为业界关注的焦点。
3、申请号：cn200810070112.9 提出了led芯片/晶圆/外延片的非接触式检测方法及检测装置，同时实现对led芯片/晶圆/外延片的发光特性和电特性的非接触、无损检测，把led产品的检测和筛选由“成品”环节推进到“芯片”环节，降低了led的成本。
技术实现思路
1、为了对现有的用于led芯片检测的非接触式检测设备进行改良并模块话，以便于快速拆装和更换检验设备的规格，本实用新型设计了一种非接触式检测机构，其结构包括：第一箱体、第二箱体；所述第二箱体固定于第一箱体的右侧中部；第一箱体下部设有左右贯通的出料通道以及前后贯通的筛选通道，出料通道及筛选通道的底部共面且均处于第二箱体下方；第一箱体上部还设有垂直贯通至出料通道的第一插槽，第二箱体右侧设有斜向贯通至出料通道的第二插槽，第一模块插入第一插槽，第二模块插入第二插槽，其中第一模块内装有光源单元，第二模块内装有光检测单元；光源单元和光检测单元底部分别装有光源透镜和光检测透镜，两个透镜的轴线相交于第一模块的正下方，且处于出料通道底部。
2、较佳的，所述第一模块和第二模块上部均设有把手。
3、较佳的，所述第一箱体的前后两侧还设有连接孔。
4、较佳的，第一插槽的底部设有限位板，限位板上设有让位于光源透镜的孔；第二插槽的断面面积大于光检测透镜的断面面积，第二箱体设有让位于光检测透镜的孔，光检测透镜的底部凸出于出料通道的上表面。
5、较佳的，第一箱体和第二箱体的插槽部位的前侧还设有通孔，第一模块和第二模块在分别插入并抵靠第一箱体和第二箱体后第一模块和第二模块上的插孔分别与第一箱体和第二箱体上的通孔对齐。
6、较佳的，出料通道右端及筛料通道前端分别设有出料斜坡和筛料斜坡。
7、本实用新型将现有的非接触式芯片检测装置进行模块化设计，将向led芯片照射激励光的光源单元以及接收光、滤光、传递检测信息的光检测单元集成于可插拔的模块中，使其装卸、更换都更加快捷，另外第一箱体下部设置的出料通道和筛料通道，可以在芯片的进给中实时监测并筛出不合格产品，提高了生产效率和良品率。
1.一种非接触式检测机构，其特征在于：包括：第一箱体、第二箱体；所述第二箱体固定于第一箱体的右侧中部；第一箱体下部设有左右贯通的出料通道以及前后贯通的筛选通道，出料通道及筛选通道的底部共面且均处于第二箱体下方；第一箱体上部还设有垂直贯通至出料通道的第一插槽，第二箱体右侧设有斜向贯通至出料通道的第二插槽，第一模块插入第一插槽，第二模块插入第二插槽，其中第一模块内装有光源单元，第二模块内装有光检测单元；光源单元和光检测单元底部分别装有光源透镜和光检测透镜，两个透镜的轴线相交于第一模块的正下方，且处于出料通道底部。
