本技术涉及电池，具体涉及一种电芯检测方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术：
1、在电池的结构中，电芯是重要的组成部分。为提高电池的安全性，通常需要对电芯的内部结构进行检测。
2、相关技术中，对于电芯的内部结构的检测方式，是在电芯卷绕过程中，对电芯进行检测，以判断成品后的电芯的入料位是否存在缺陷。然而，这种方式需要在电芯卷绕过程中进行检测，若不进行拆解验证，则无法判断该检测结果是否适用于制成成品后的电芯，影响电芯检测结果的准确性和可信度。
技术实现思路
1、鉴于上述问题，本技术提供一种电芯检测方法、装置、电子设备及存储介质，能够提高电芯检测结果的准确性和可信度。
2、第一方面，本技术实施例提供了一种电芯检测方法，该方法包括：从通过射线成像得到的电芯图像中，提取电芯区域；根据所述电芯区域中像素的灰度值分布，得到电芯的入料位检测结果。
3、本技术实施例的技术方案中，通过从利用射线成像得到的电芯图像中提取电芯区域，以根据电芯区域中像素的灰度分布，来确定电芯的入料位检测结果。而由于阴极入料位与阳极入料位重叠时，重叠部分的电芯层数增加，导致射线成像时需要穿透的层数多，此时重叠部分在电芯区域的像素灰度值低；而若阴极入料位与阳极入料位不重叠，则在阴极入料位与阳极入料位之间的电芯层数较少，导致射线成像时需要穿透的层数少，此时阴极入料位与阳极入料位之间的像素灰度值高。因此，通过检测电芯区域中像素的灰度值分布，便可判断成品电芯的阴极入料位和阳极入料位是否重叠，从而提高电芯检测结果的准确性和可信度。
4、在一些实施例中，从通过射线成像得到的电芯图像中，提取电芯区域，包括：根据所述电芯图像中各像素的灰度值，对所述电芯图像进行二值化处理，得到所述电芯图像的二值化电芯图像；根据所述二值化电芯图像中与所述电芯对应的连通区域，得到所述电芯图像中的电芯区域。从而能够利用二值化的方式有效地去除电芯图像的噪声，同时能够利用二值化图像中的连通区域，准确地从电芯图像中提取电芯区域，进而提高电芯区域识别的准确性。
5、在一些实施例中，根据所述电芯图像中各像素的灰度值，对所述电芯图像进行二值化处理，得到所述电芯图像的二值化电芯图像，包括：根据所述电芯图像中各像素的灰度值，对所述电芯图像进行二值化处理，得到所述电芯图像的初始二值化图像；对所述初始二值化图像依次进行图像腐蚀和图像膨胀，得到所述电芯图像的二值化电芯图像。从而能够有效地对电芯图像的二值化图像进行去噪，提高获取到的二值化图像的清晰度和可读性，进而提高后续利用二值化图像提取到的电芯区域的准确度。
6、在一些实施例中，根据所述二值化电芯图像中与所述电芯对应的连通区域，得到所述电芯图像中的电芯区域，包括：根据所述连通区域，得到所述电芯图像中的目标区域；对所述目标区域进行图像增强处理，得到所述电芯区域；其中，所述图像增强处理包括对所述目标区域中，位于所述入料位的垂直方向上的各列像素进行滤波处理，以突出或增强垂直方向上的特征，使得到的电芯区域中阴阳极入料位的特征更为突出，能够更清晰地观察到阴极入料位置和阳极入料位置，方便后续进行电芯检测。
7、在一些实施例中，根据所述电芯区域中像素的灰度值分布，得到电芯的入料位检测结果，包括：根据所述电芯区域中，位于所述入料位的垂直方向上的各列像素的灰度值，得到电芯的入料位检测结果。使得在对电芯进行检测时，能够有效地利用电芯的入料位特征进行检测，提高电芯的入料位检测结果的准确性。
8、在一些实施例中，根据所述电芯区域中，位于所述入料位的垂直方向上的各列像素的灰度值，得到电芯的入料位检测结果，包括：将各列像素的灰度值与预设灰度值进行比对，得到电芯的入料位检测结果；其中，所述预设灰度值为从入料位重叠的异常电芯的电芯区域中检测到的最小灰度值。这样，便可通过比对各列像素的灰度值与预设灰度值，来快速判断电芯的入料位是否出现重叠，提高电芯的检测效率。
9、在一些实施例中，根据所述电芯区域中，位于所述入料位的垂直方向上的各列像素的灰度值，得到电芯的入料位检测结果，包括：获取所述电芯区域中，位于所述入料位的垂直方向上的各列像素的灰度值；根据相邻的各列像素的灰度值，得到所述电芯区域的灰度变化数据；根据所述灰度变化数据，得到电芯的入料位检测结果。从而在判断电芯的入料位检测结果时，考虑了位于入料位的垂直方向上的各列像素的整体分布情况，提高了入料位检测结果的准确性。
10、在一些实施例中，根据所述灰度变化数据，得到电芯的入料位检测结果，包括：根据所述灰度变化数据中相邻灰度值的灰度差，确定所述电芯的阳极入料位和阴极入料位；根据所述阳极入料位和所述阴极入料位，得到所述电芯的阳极入料位和阴极入料位之间的重叠距离。从而使得到的入料位检测结果更为精确，方便后续对电芯进行调整。
11、在一些实施例中，根据所述灰度变化数据，得到电芯的入料位检测结果，包括：使用预训练的预设模型对所述灰度变化数据进行检测，得到所述电芯的阳极入料位和阴极入料位之间的重叠距离；其中，所述预设模型由各电芯区域样本对应的灰度变化数据训练得到，各所述电芯区域样本包括正常电芯的电芯区域和异常电芯的电芯区域。
12、第二方面，本技术提供了一种电芯检测装置，包括：
13、区域提取模块，用于从通过射线成像得到的电芯图像中，提取电芯区域；电芯检测模块，用于根据所述电芯区域中像素的灰度值分布，得到电芯的入料位检测结果。
14、本技术实施例的技术方案中，通过从利用射线成像得到的电芯图像中提取电芯区域，以根据电芯区域中像素的灰度分布，来确定电芯的入料位检测结果，从而提高电芯检测结果的准确性和可信度。
15、在一些实施例中，区域提取模块具体用于：根据所述电芯图像中各像素的灰度值，对所述电芯图像进行二值化处理，得到所述电芯图像的二值化电芯图像；根据所述二值化电芯图像中与所述电芯对应的连通区域，得到所述电芯图像中的电芯区域。
16、在一些实施例中，区域提取模块具体用于：根据所述电芯图像中各像素的灰度值，对所述电芯图像进行二值化处理，得到所述电芯图像的初始二值化图像；对所述初始二值化图像依次进行图像腐蚀和图像膨胀，得到所述电芯图像的二值化电芯图像。
17、在一些实施例中，区域提取模块具体用于：根据所述连通区域，得到所述电芯图像中的目标区域；对所述目标区域进行图像增强处理，得到所述电芯区域；其中，所述图像增强处理包括对所述目标区域中，位于所述入料位的垂直方向上的各列像素进行滤波处理。
18、在一些实施例中，电芯检测模块具体用于：根据所述电芯区域中，位于所述入料位的垂直方向上的各列像素的灰度值，得到电芯的入料位检测结果。
19、在一些实施例中，电芯检测模块具体用于：将各列像素的灰度值与预设灰度值进行比对，得到电芯的入料位检测结果；其中，所述预设灰度值为从入料位重叠的异常电芯的电芯区域中检测到的最小灰度值。
20、在一些实施例中，电芯检测模块具体用于：获取所述电芯区域中，位于所述入料位的垂直方向上的各列像素的灰度值；根据相邻的各列像素的灰度值，得到所述电芯区域的灰度变化数据；根据所述灰度变化数据，得到电芯的入料位检测结果。
21、在一些实施例中，电芯检测模块具体用于：根据所述灰度变化数据中相邻灰度值的灰度差，确定所述电芯的阳极入料位和阴极入料位；根据所述阳极入料位和所述阴极入料位，得到所述电芯的阳极入料位和阴极入料位之间的重叠距离。
22、在一些实施例中，电芯检测模块具体用于：使用预训练的预设模型对所述灰度变化数据进行检测，得到所述电芯的阳极入料位和阴极入料位之间的重叠距离；其中，所述预设模型由各电芯区域样本对应的灰度变化数据训练得到，各所述电芯区域样本包括正常电芯的电芯区域和异常电芯的电芯区域。
23、第三方面，本技术提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时执行第一方面的实施方式中的所述方法。
24、第四方面，本技术提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时执行第一方面的实施方式中的所述方法。
25、第五方面，本技术提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行第一方面、第一方面中任一可选的实现方式中的所述方法。
1.一种电芯检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从通过射线成像得到的电芯图像中，提取电芯区域，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述电芯图像中各像素的灰度值，对所述电芯图像进行二值化处理，得到所述电芯图像的二值化电芯图像，包括：
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，根据所述二值化电芯图像中与所述电芯对应的连通区域，得到所述电芯图像中的电芯区域，包括：
5.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，根据所述电芯区域中像素的灰度值分布，得到电芯的入料位检测结果，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述电芯区域中，位于所述入料位的垂直方向上的各列像素的灰度值，得到电芯的入料位检测结果，包括：
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述电芯区域中，位于所述入料位的垂直方向上的各列像素的灰度值，得到电芯的入料位检测结果，包括：
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，根据所述灰度变化数据，得到电芯的入料位检测结果，包括：
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，根据所述灰度变化数据，得到电芯的入料位检测结果，包括：
10.一种电芯检测装置，其特征在于，所述装置包括：
11.一种电子设备，包括处理器和存储有计算机程序的存储器，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至9任一项所述的方法。
12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至9任一项所述的方法。
