导通检测装置的制作方法

专利检索2025-01-25  8


本技术涉及芯片卡体检测,尤其是涉及一种导通检测装置。


背景技术:

1、芯片卡体铣槽是指在芯片卡的塑料卡体上加工的一个开槽或凹槽,通常用于容纳芯片模块。芯片卡是一种具有嵌入式集成电路芯片的塑料卡,这个芯片用于存储和处理数据,如个人身份信息、金融信息、健康记录等。为了将芯片安装到卡片上,需要在卡体上制作一个凹槽,使芯片能够嵌入其中并与卡体紧密连接。

2、在铣槽完成后需要对卡体的电性能导通形进行检测,目前通常通过将一对导电检测柱下压到卡槽上进行通电检测判断,但对于不同的卡体,它们的检测槽位置是不一样的,在切换生产不同类型时,操作人员需要对导电检测柱进行位置调节,调试过程需要较长的时间,并且在调节拆装导电检测柱时易损坏这个配件,配件的加工成本也较高。


技术实现思路

1、本实用新型的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一,为此,本实用新型提出一种导通检测装置,能够便捷地切换检测元件,适配不同类型的卡体。

2、根据本实用新型实施例的导通检测装置,包括:机架,机架上设置有气缸,气缸用于驱动机架移动;定位组件,定位组件设置机架上,定位组件用于对卡体进行定位;固定座,固定座设置在机架上,固定座上沿上下方向开设有多组探针孔,多组探针孔的位置分别对应不同卡体检测槽的位置;探针组件,探针组件可拆卸地安装在探针孔中,根据待检测卡体检测槽的位置安装探针组件;电性能检测器,电性能检测器与探针组件电连接。

3、根据本实用新型实施例的导通检测装置,至少具有如下有益效果:本导通检测装置能够快速便捷的进行切换探针组件的位置,以适配不同类型的卡体,能够对不同尺寸的卡体的进行定位,通过探针组件完成卡体导通性能的检测,由于探针属于标准件,采用标准件代替了现有导通检测中采用的五金加工件导电检测柱,有效节省了配件成本,节约了检测时间,提高了检测效率。

4、根据本实用新型的一些实施例,探针组件包括探针套、弹簧和探针本体,探针本体可活动地穿设在探针套中,探针本体通过弹簧与探针套相连。

5、根据本实用新型的一些实施例,还包括固定片,固定座通过固定片与机架连接。

6、根据本实用新型的一些实施例,固定片上沿左右方向开设有第一长条孔,固定片与固定座通过穿设在第一长条孔上的螺丝连接,通过第一长条孔调整固定座的左右位置。

7、根据本实用新型的一些实施例,固定片上沿前后方向开设有第二长条孔,固定片与机架通过穿设在第二长条孔上的螺丝连接,通过第二长条孔调整固定片的前后位置。

8、根据本实用新型的一些实施例,定位组件包括架体,架体沿左右方向设置在上,架体的左右两端分别设置向前伸出的定位臂,两个定位壁的前端分别设置有修正挡块,两个修正挡块用于修正卡体的位置。

9、根据本实用新型的一些实施例,至少一个定位臂通过活动关节与架体连接,活动关节是定位臂能够左右摆动,两个定位臂前端通过拉伸弹簧相连。

10、根据本实用新型的一些实施例,架体上沿左右方向开设有第三长条孔,架体与机架通过穿设在第三长条孔上的螺丝连接,通过第三长条孔调整架体的左右位置。

11、本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。



技术特征:

1.一种导通检测装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的导通检测装置,其特征在于,所述探针组件(400)包括探针套(410)、弹簧和探针本体(420),所述探针本体(420)可活动地穿设在所述探针套(410)中,所述探针本体(420)通过弹簧与所述探针套(410)相连。

3.根据权利要求1所述的导通检测装置,其特征在于,还包括固定片(320),所述固定座(300)通过所述固定片(320)与机架连接。

4.根据权利要求3所述的导通检测装置,其特征在于,所述固定片(320)上沿左右方向开设有第一长条孔(321),所述固定片(320)与所述固定座(300)通过穿设在所述第一长条孔(321)上的螺丝连接,通过所述第一长条孔(321)调整所述固定座(300)的左右位置。

5.根据权利要求3所述的导通检测装置,其特征在于,所述固定片(320)上沿前后方向开设有第二长条孔(322),所述固定片(320)与机架通过穿设在所述第二长条孔(322)上的螺丝连接,通过所述第二长条孔(322)调整所述固定片(320)的前后位置。

6.根据权利要求1所述的导通检测装置,其特征在于,所述定位组件(200)包括架体(210),所述架体(210)沿左右方向设置在上,所述架体(210)的左右两端分别设置向前伸出的定位臂(220),两个定位壁的前端分别设置有修正挡块(230),两个所述修正挡块(230)用于修正所述卡体(1)的位置。

7.根据权利要求6所述的导通检测装置,其特征在于,至少一个所述定位臂(220)通过活动关节(250)与所述架体(210)连接,所述活动关节(250)是所述定位臂(220)能够左右摆动,两个所述定位臂(220)前端通过拉伸弹簧(240)相连。

8.根据权利要求6所述的导通检测装置,其特征在于,所述架体(210)上沿左右方向开设有第三长条孔(211),所述架体(210)与机架通过穿设在所述第三长条孔(211)上的螺丝连接,通过所述第三长条孔(211)调整所述架体(210)的左右位置。


技术总结
本技术公开了一种导通检测装置,属于芯片卡体检测技术领域,本导通检测装置包括:机架,机架上设置有气缸,气缸用于驱动机架移动;定位组件,定位组件设置机架上,定位组件用于对卡体进行定位;固定座,固定座设置在机架上,固定座上沿上下方向开设有多组探针孔,多组探针孔的位置分别对应不同卡体检测槽的位置;探针组件,探针组件可拆卸地安装在探针孔中,根据待检测卡体检测槽的位置安装探针组件;电性能检测器,电性能检测器与探针组件电连接。本导通检测装置能够快速便捷的进行切换探针组件的位置,以适配不同类型的卡体,能够对不同尺寸的卡体的进行定位,通过探针组件完成卡体导通性能的检测。

技术研发人员:楼水勇,何思博,陈宗潮,程治国,曾浩
受保护的技术使用者:东信和平科技股份有限公司
技术研发日:20231108
技术公布日:2024/5/29
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