一种场景深度测量方法及装置与流程

专利检索2025-01-11  11


本发明涉及场景图像监测测量领域,具体而言,涉及一种场景深度测量方法及装置。


背景技术:

1、随着智能化科技的不断发展,人们的生活、工作、学习之中越来越多地用到了智能化设备,使用智能化科技手段,提高了人们生活的质量,增加了人们学习和工作的效率。

2、目前,在进行场景光相机监控的时候,通常会根据光相机采集到的高像素图像数据来进行场景数据计算或者检测,但是现有技术中在进行场景参数测量的时候,往往仅根据采集的图像数据直接进行模型换算和计算,得到估算场景深度,无法更加精准得针对图像数据的分解参数来进行计算,降低了场景深度测量过程中的精确度和质量。

3、针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。


技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种场景深度测量方法及装置,以至少解决现有技术中在进行场景参数测量的时候,往往仅根据采集的图像数据直接进行模型换算和计算,得到估算场景深度,无法更加精准得针对图像数据的分解参数来进行计算,降低了场景深度测量过程中的精确度和质量的技术问题。

2、根据本发明实施例的一个方面,提供了一种场景深度测量方法,包括:获取场景测量信息和图像采集数据;根据所述场景测量信息将所述图像采集数据进行拆分,得到图像平面数据和图像深度数据;通过所述图像平面数据和所述图像深度数据,生成场景深度数据;将所述场景深度数据和所述场景测量信息进行匹配验证,得到验证结果。

3、可选的,所述场景测量信息包括:场景横纵比信息、场景实际尺寸信息。

4、可选的,所述根据所述场景测量信息将所述图像采集数据进行拆分,得到图像平面数据和图像深度数据包括:将所述场景测量信息中的数据元素输入至图像转换适应函数,得到图像转换参数,其中,所述图像转换适应函数用于将物理元素转换为像素切割元素,其中,所述图像转换适应函数包括:

5、

6、其中,zmax是图像转换参数,x和y分别是场景测量信息中基于横向和纵向的物理坐标尺寸,zxy是作用于图像的像素横纵坐标参数,n1和n2代表纵向图像转换层级数,m1和m2代表横向图像转换层级数,其中,n1<n2,m1<m2;根据所述图像转换参数,生成所述图像平面数据和所述图像深度数据。

7、可选的,所述通过所述图像平面数据和所述图像深度数据,生成场景深度数据包括:根据所述图像平面数据确定图像纵向基准点;根据所述图像纵向基准点和所述图像深度数据,生成所述场景深度数据。

8、根据本发明实施例的另一方面,还提供了一种场景深度测量装置,包括:获取模块,用于获取场景测量信息和图像采集数据;拆分模块,用于根据所述场景测量信息将所述图像采集数据进行拆分,得到图像平面数据和图像深度数据;生成模块,用于通过所述图像平面数据和所述图像深度数据,生成场景深度数据;匹配模块,用于将所述场景深度数据和所述场景测量信息进行匹配验证,得到验证结果。

9、可选的,所述场景测量信息包括:场景横纵比信息、场景实际尺寸信息。

10、可选的,所述拆分模块包括:输入单元,用于将所述场景测量信息中的数据元素输入至图像转换适应函数,得到图像转换参数,其中,所述图像转换适应函数用于将物理元素转换为像素切割元素,其中,所述图像转换适应函数包括:

11、

12、其中,zmax是图像转换参数,x和y分别是场景测量信息中基于横向和纵向的物理坐标尺寸,zxy是作用于图像的像素横纵坐标参数,n1和n2代表纵向图像转换层级数,m1和m2代表横向图像转换层级数,其中,n1<n2,m1<m2;生成单元,用于根据所述图像转换参数,生成所述图像平面数据和所述图像深度数据。

13、可选的,所述生成模块包括:确定单元,用于根据所述图像平面数据确定图像纵向基准点;生成单元,用于根据所述图像纵向基准点和所述图像深度数据,生成所述场景深度数据。

14、根据本发明实施例的另一方面,还提供了一种非易失性存储介质,所述非易失性存储介质包括存储的程序,其中,所述程序运行时控制非易失性存储介质所在的设备执行一种场景深度测量方法。

15、根据本发明实施例的另一方面,还提供了一种电子装置,包含处理器和存储器;所述存储器中存储有计算机可读指令,所述处理器用于运行所述计算机可读指令,其中,所述计算机可读指令运行时执行一种场景深度测量方法。

16、在本发明实施例中,采用获取场景测量信息和图像采集数据;根据所述场景测量信息将所述图像采集数据进行拆分,得到图像平面数据和图像深度数据;通过所述图像平面数据和所述图像深度数据,生成场景深度数据;将所述场景深度数据和所述场景测量信息进行匹配验证,得到验证结果的方式,解决了现有技术中在进行场景参数测量的时候,往往仅根据采集的图像数据直接进行模型换算和计算,得到估算场景深度,无法更加精准得针对图像数据的分解参数来进行计算,降低了场景深度测量过程中的精确度和质量的技术问题。



技术特征:

1.一种场景深度测量方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述场景测量信息包括:场景横纵比信息、场景实际尺寸信息。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述场景测量信息将所述图像采集数据进行拆分,得到图像平面数据和图像深度数据包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过所述图像平面数据和所述图像深度数据,生成场景深度数据包括:

5.一种场景深度测量装置,其特征在于,包括:

6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述场景测量信息包括:场景横纵比信息、场景实际尺寸信息。

7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述拆分模块包括:

8.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述生成模块包括:

9.一种非易失性存储介质,其特征在于,所述非易失性存储介质包括存储的程序,其中,所述程序运行时控制非易失性存储介质所在的设备执行权利要求1至4中任意一项所述的方法。

10.一种电子装置,其特征在于,包含处理器和存储器;所述存储器中存储有计算机可读指令,所述处理器用于运行所述计算机可读指令,其中,所述计算机可读指令运行时执行权利要求1至4中任意一项所述的方法。


技术总结
本发明公开了一种场景深度测量方法及装置。其中,该方法包括:获取场景测量信息和图像采集数据;根据所述场景测量信息将所述图像采集数据进行拆分,得到图像平面数据和图像深度数据;通过所述图像平面数据和所述图像深度数据,生成场景深度数据;将所述场景深度数据和所述场景测量信息进行匹配验证,得到验证结果。本发明解决了现有技术中在进行场景参数测量的时候,往往仅根据采集的图像数据直接进行模型换算和计算,得到估算场景深度,无法更加精准得针对图像数据的分解参数来进行计算,降低了场景深度测量过程中的精确度和质量的技术问题。

技术研发人员:袁潮,邓迪旻,温建伟,路鹤松
受保护的技术使用者:北京拙河科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/5/29
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