一种调平装置、夹具及基因测序仪的制作方法

专利检索2024-11-29  24


本公开涉及基因测序,具体而言,涉及一种调平装置、夹具及基因测序仪。


背景技术:

1、在基因测序领域,基因测序仪的测序芯片和图像采集装置在垂直方向上的相对位置精度要求非常高,达到微米级,测序时图像采集装置采集测序芯片的图像,此时采集区域需要在同一水平面内,以保证采集图像的清晰度。但是,现有技术中的调平装置结构复杂、成本高。


技术实现思路

1、本公开实施例至少提供一种调平装置、夹具及基因测序仪。

2、第一方面,本公开实施例提供了一种调平装置,包括支架组件,所述支架组件用于支撑测序芯片,所述支架组件包括支架,所述支架下方设有至少一个支撑块,至少一个所述支撑块的下方设有微距调整器,所述微距调整器的顶部与所述支撑块的底部接触。

3、一种可选的实施方式中,所述支撑块为三个,三个所述支撑块不共线设置。

4、一种可选的实施方式中,所述支撑块为三个,三个所述支撑块的底部分别是平面、v型和锥面。

5、一种可选的实施方式中,所述微距调整器的顶部为弧面。

6、一种可选的实施方式中,所述支架组件包括调整框,所述调整框与所述支架转动连接,所述支架上设有驱动件和弹性件,所述驱动件和弹性件分别位于所述调整框的相对的两侧,用于驱动所述调整框绕所述调整框和所述支架的转动轴在水平面内转动,以使所述调整框上的测序芯片的流道中心轴线与测序芯片的行进方向大致相互平行或者在预设范围内。

7、一种可选的实施方式中,所述驱动件包括微距螺杆及与所述微距螺杆螺纹连接的微距螺母;其中,所述微距螺母固定安装在所述支架上;所述弹性件为弹性顶头。

8、一种可选的实施方式中,所述支架组件还包括位于所述调整框内的芯片平台,所述芯片平台上设有用于对测序芯片定位的第一方向定位基准和第二方向定位基准。

9、一种可选的实施方式中,所述支架上设有弹性压头,当芯片平台上的所述第一方向定位基准和第二方向定位基准与测序芯片贴合时,所述弹性压头用于对测序芯片施加朝向所述第一方向定位基准和/或第二方向的定位基准的推力。

10、第二方面,本公开实施例还提供一种夹具,包括根据本实用新型所述的调平装置,还包括夹具盖,所述夹具盖与所述调平装置中的支架组件转动连接,所述夹具盖上设有弹性压件,所述弹性压件用于对所述支架组件上的芯片在垂直方向上定位。

11、一种可选的实施方式中,所述夹具还包括底板,所述底板和所述支架之间设有弹性件,所述弹性件用于对所述支架施加朝向所述底板的力,以使所述支架下方的支撑块与所述微距调整器始终抵接。

12、第三方面,本公开实施例还提供一种基因测序仪,包括:根据本公开所述的调平装置。

13、本实用新型用于对基因测序仪的测序芯片进行调平,通过旋转微距调整器即可调整支架组件的高度,使支架组件上的测序芯片上的各点处于和图像采集装置相对距离一致的平面上或相对距离在预设范围内的平面上,从而保证图像采集装置采集的图像的清晰度。本实用新型结构简单,调节方便,成本低,易实现。

14、此外,本实用新型还可通过调整测序芯片的水平方向的旋转,使芯片流道的中心轴线与其行进方向一致。

15、为使本公开的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。



技术特征:

1.一种调平装置,其特征在于,包括支架组件,所述支架组件用于支撑测序芯片,所述支架组件包括支架,所述支架下方设有至少一个支撑块,至少一个所述支撑块的下方设有微距调整器,所述微距调整器的顶部与所述支撑块的底部接触。

2.根据权利要求1所述的调平装置,其特征在于,所述支撑块为三个,三个所述支撑块不共线设置。

3.根据权利要求2所述的调平装置,其特征在于,所述支撑块为三个,三个所述支撑块的底部分别是平面、v型和锥面。

4.根据权利要求1所述的调平装置,其特征在于,所述微距调整器的顶部为弧面。

5.根据权利要求1所述的调平装置,其特征在于,所述支架组件包括调整框,所述调整框与所述支架转动连接,所述支架上设有驱动件和弹性件,所述驱动件和弹性件分别位于所述调整框的相对的两侧,用于驱动所述调整框绕所述调整框和所述支架的转动轴在水平面内转动,以使所述调整框上的测序芯片的流道中心轴线与测序芯片的行进方向大致相互平行或者在预设范围内。

6.根据权利要求5所述的调平装置,其特征在于,所述驱动件包括微距螺杆及与所述微距螺杆螺纹连接的微距螺母;其中,所述微距螺母固定安装在所述支架上;

7.根据权利要求5所述的调平装置,其特征在于,所述支架组件还包括位于所述调整框内的芯片平台,所述芯片平台上设有用于对测序芯片定位的第一方向定位基准和第二方向定位基准。

8.根据权利要求7所述的调平装置,其特征在于,所述支架上设有弹性压头,当芯片平台上的所述第一方向定位基准和第二方向定位基准与测序芯片贴合时,所述弹性压头用于对测序芯片施加朝向所述第一方向定位基准和/或第二方向的定位基准的推力。

9.一种夹具,其特征在于,包括根据权利要求1-8中任一项所述的调平装置,还包括夹具盖,所述夹具盖与所述调平装置中的支架组件转动连接,所述夹具盖上设有弹性压件,所述弹性压件用于对所述支架组件上的芯片在垂直方向上定位。

10.一种基因测序仪,其特征在于,包括:根据权利要求1-9中任一项所述的调平装置。


技术总结
本公开涉及基因测序技术领域,具体涉及一种调平装置、夹具及基因测序仪。该调平装置包括支架组件,所述支架组件用于支撑测序芯片,所述支架组件包括支架,所述支架下方设有至少一个支撑块,至少一个所述支撑块的下方设有微距调整器,所述微距调整器的顶部与所述支撑块的底部接触。本技术用于对基因测序仪的测序芯片进行调平,通过旋转微距调整器即可调整支架组件的高度,使支架组件上的测序芯片上的各点处于和图像采集装置相对距离一致的平面上或相对距离在预设范围内的平面上,从而保证图像采集装置采集的图像的清晰度。本技术结构简单,调节方便,成本低,易实现。

技术研发人员:邵京,张彤,王国伟,贾海舟
受保护的技术使用者:郑州思昆生物工程有限公司
技术研发日:20231008
技术公布日:2024/5/29
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