一种CSP荧光膜的测试装置的制作方法

一种csp荧光膜的测试装置
技术领域
1.本实用新型涉及led领域，尤其是一种csp荧光膜的测试装置。


背景技术：

2.csp led是无支架形式的封装，则led的底部为芯片的电机，表面是荧光粉与硅胶混合的荧光胶膜。不同银光粉和硅胶比例对应不同的cie坐标。现在的产品cie坐标检测通过制作完成单颗产品后进行测试，则若产品未达到目标cie坐标需要重新制作产品。该测试时间周期较长，同时容易造成芯片的浪费，增加了生产成本，同时也会增大对人力的需求，不利于生产操作的稳步进行。


技术实现要素：

3.本实用新型所要解决的技术问题是提供一种csp荧光膜的测试装置，解决现有技术存在的技术问题。
4.为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案是：一种csp荧光膜的测试装置，包括设在荧光膜下方用于承托荧光膜的反射板、对准荧光膜且用于激发荧光膜的led光源和用于接收led光源激发荧光膜后的反射光线的测试仪。本实用新型原理：将用于csp封装的荧光膜放置在反射板上，利用上方的led光源远程激发该荧光膜，利用光学测试仪对荧光膜激发的光线进行检测，从而得到荧光膜的光电参数；该测试装置将荧光膜与led芯片分离测试，有效缩短了测试调整周期，有效保证了资源的合理利用，提高了检测效率。
5.作为改进，所述荧光膜包括顶层和侧围，顶层与侧围围成容置led芯片的容置腔。
6.作为改进，led光源的光轴对准荧光膜在反射板上的投影中心位置。
7.作为改进，所述反射板为镜面铝基板或设有反射层的基板。
8.本实用新型与现有技术相比所带来的有益效果是：
9.将用于csp封装的荧光膜放置在反射板上，利用上方的led光源远程激发该荧光膜，利用光学测试仪对荧光膜激发的光线进行检测，从而得到荧光膜的光电参数；该测试装置将荧光膜与led芯片分离测试，有效缩短了测试调整周期，有效保证了资源的合理利用，提高了检测效率。
附图说明
10.图1为本实用新型结构示意图。
具体实施方式
11.下面结合说明书附图对本实用新型作进一步说明。
12.如图1所示，一种csp荧光膜的测试装置，包括设在荧光膜2下方用于承托荧光膜2的反射板1、对准荧光膜2且用于激发荧光膜2的led光源3和用于接收led光源3激发荧光膜2后的反射光线的测试仪4。所述荧光膜2包括顶层和侧围，顶层与侧围围成容置led芯片的容
置腔，该荧光膜2与led芯片配合后可形成五面发光；led光源3设在荧光膜2的上方，且led光源3的光轴对准荧光膜2在反射板1上的投影中心位置。所述反射板1为镜面铝基板或设有反射层的基板，可以用于反射激发荧光膜2后的光线。所述led光源3采用与csp封装一致的led光源3，一般为蓝光led芯片光源。
13.本实用新型原理：将用于csp封装的荧光膜2放置在反射板1上，利用上方的led光源3远程激发该荧光膜2，利用光学测试仪4对荧光膜2激发的光线进行检测，从而得到荧光膜2的光电参数；该测试装置将荧光膜2与led芯片分离测试，有效缩短了测试调整周期，有效保证了资源的合理利用，提高了检测效率。


技术特征：
1.一种csp荧光膜的测试装置，其特征在于：包括设在荧光膜下方用于承托荧光膜的反射板、对准荧光膜且用于激发荧光膜的led光源和用于接收led光源激发荧光膜后的反射光线的测试仪。2.根据权利要求1所述的一种csp荧光膜的测试装置，其特征在于：所述荧光膜包括顶层和侧围，顶层与侧围围成容置led芯片的容置腔。3.根据权利要求1所述的一种csp荧光膜的测试装置，其特征在于：led光源的光轴对准荧光膜在反射板上的投影中心位置。4.根据权利要求1所述的一种csp荧光膜的测试装置，其特征在于：所述反射板为镜面铝基板或设有反射层的基板。

技术总结
一种CSP荧光膜的测试装置，包括设在荧光膜下方用于承托荧光膜的反射板、对准荧光膜且用于激发荧光膜的LED光源和用于接收LED光源激发荧光膜后的反射光线的测试仪。本实用新型原理：将用于CSP封装的荧光膜放置在反射板上，利用上方的LED光源远程激发该荧光膜，利用光学测试仪对荧光膜激发的光线进行检测，从而得到荧光膜的光电参数；该测试装置将荧光膜与LED芯片分离测试，有效缩短了测试调整周期，有效保证了资源的合理利用，提高了检测效率。提高了检测效率。提高了检测效率。


技术研发人员：刘萍萍 尹键 林德顺 翁平 杨永发
受保护的技术使用者：鸿利智汇集团股份有限公司
技术研发日：2021.09.02
技术公布日：2022/4/15